自动分类设备制造技术

本申请涉及自动化设备技术领域，尤其涉及一种自动分类设备。包括：控制器；光学检测机构，所述光学检测机构与所述控制器电连接，所述光学检测机构用于检测待分类的芯片的外观质量；下料机构，所述下料机构包括多个料盘组件及下料搬运组件，多个所述料盘组件分别用于对应放置不同外观质量的所述芯片，所述下料搬运组件与所述控制器电连接，所述控制器用于基于所述芯片的外观质量控制所述下料搬运组件将所述光学检测机构上的所述芯片搬运至对应的料盘组件中。本申请提供的自动分类设备，无需人员参与其中，自动化程度高，可以降低人员的劳动强度。的劳动强度。的劳动强度。

【技术实现步骤摘要】
自动分类设备


[0001]本申请涉及自动化设备
，尤其涉及一种自动分类设备。

技术介绍

[0002]蓝膜装置是一种用于在其上承载芯片的装置，同一个蓝膜装置上通常均匀阵列排布有多个待分类的芯片。为了将蓝膜装置上的多个待分类的芯片进行分类，通常需要将蓝膜装置上的芯片一一取下，然后人工对每个芯片进行外观质量的检测，之后，可以根据检测的结果人工对芯片进行分类，将属于同一类(外观质量相同)的芯片放置在同一个料盘中，不同类的芯片放置在不同的料盘中，这样，即可实现将芯片进行分类的目的。然而，上述工作需要大量人员参与，自动化程度低，人员劳动强度大。

技术实现思路

[0003]本申请公开了一种自动分类设备，其能够解决人员劳动强度大的问题。
[0004]为了实现上述目的，本申请公开一种自动分类设备，包括：
[0005]控制器；
[0006]光学检测机构，所述光学检测机构与所述控制器电连接，所述光学检测机构用于检测待分类的芯片的外观质量；
[0007]下料机构，所述下料机构包括多个料盘组件及下料搬运组件，多个所述料盘组件分别用于对应放置不同外观质量的所述芯片，所述下料搬运组件与所述控制器电连接，所述控制器用于基于所述芯片的外观质量控制所述下料搬运组件将所述光学检测机构上的所述芯片搬运至对应的料盘组件中。
[0008]由于光学检测机构与控制器电连接，因此，光学检测机构可以检测待分类的芯片的外观质量，在光学检测机构检测到芯片的外观质量之后，控制器可以获取到该芯片的外观质量。由于多个料盘组件分别用于对应放置不同外观质量的芯片，下料搬运组件与控制器电连接，因此，在控制器获取到该芯片的外观质量之后，可以基于该芯片的外观质量控制下料搬运组件将光学检测机构上的该芯片搬运至对应的料盘组件中。也即是，可以将不同外观质量的芯片自动分门别类的放置在对应的料盘组件中，达到对芯片进行分类的目的。
[0009]可见，该自动分类设备，光学检测机构可以自动检测芯片的外观质量，并且，在检测完芯片的外观质量之后，下料搬运组件可以自动将不同外观质量的芯片分门别类的放置在对应的料盘组件中。这样，就无需人员参与其中，自动化程度高，可以降低人员的劳动强度。
[0010]可选地，所述光学检测机构包括：
[0011]第一光学检测组件，所述第一光学检测组件用于检测所述芯片的第一面的外观质量，所述第一面朝上设置；
[0012]翻转搬运组件；
[0013]第二光学检测组件，所述翻转搬运组件用于将所述第一光学检测组件上的芯片翻
转并搬运至所述第二光学检测组件上，以使与所述第一面相背的第二面朝上设置，所述第二光学检测组件用于检测所述芯片的所述第二面的外观质量，所述第一光学检测组件及所述第二光学检测组件均与所述控制器电连接，所述控制器用于基于所述芯片的第一面的外观质量及所述芯片的第二面外观质量控制所述下料搬运组件将芯片搬运至对应的料盘组件中。
[0014]可选地，所述翻转搬运组件包括：搬运组件及翻转组件，所述翻转组件包括：
[0015]翻转驱动件；
[0016]升降驱动组件，所述升降驱动组件包括升降驱动件及拾取件，所述拾取件与所述第一光学检测组件位置对应，所述升降驱动组件设置在所述翻转驱动件上，所述翻转驱动件能够带动所述升降驱动组件翻转，所述升降驱动件用于驱动所述拾取件升降；
[0017]所述搬运组件用于将翻转后的所述芯片搬运至所述第二光学检测组件上。
[0018]可选地，所述升降驱动件为滑动气缸，所述翻转驱动件为翻转电机，所述滑动气缸的缸体固定在所述翻转电机的转轴上，所述拾取件固定在所述滑动气缸的活塞杆上，所述滑动气缸的缸体用于驱动所述滑动气缸的活塞杆沿所述滑动气缸的缸体上下滑动。
[0019]可选地，所述第一光学检测组件包括：第一转盘及至少一个第一光学检测元件，围绕所述第一转盘设置有多个工位，多个所述工位包括第一上料工位、至少一个第一光学检测工位及第一下料工位，所述第一转盘上设置有芯片放置部，所述第一转盘能够带动所述芯片放置部在多个所述工位之间旋转切换；
[0020]所述至少一个第一光学检测元件与所述至少一个第一光学检测工位一一对应，所述第一光学检测元件用于在所述芯片旋转至所述第一光学检测工位时，检测所述芯片的第一面的外观质量，所述翻转搬运组件用于在所述芯片旋转至所述第一下料工位时，将所述芯片翻转并搬运至所述第二光学检测组件上。
[0021]可选地，所述芯片放置部的数量与所述工位的数量相等且多个所述芯片放置部及多个所述工位均沿所述第一转盘的周向均匀间隔设置。
[0022]可选地，一个所述芯片放置部能够放置多个芯片。
[0023]可选地，所述第二光学检测组件包括：第二转盘至及少一个第二光学检测元件，围绕所述第二转盘设置有多个工位，多个所述工位包括第二上料工位、至少一个第二光学检测工位及第二下料工位，所述第二转盘上设置有芯片放置部，所述第二转盘能够带动所述芯片放置部在多个所述工位之间旋转切换；
[0024]所述翻转搬运组件用于将所述第一光学检测组件上的所述芯片搬运至处于第二上料工位的所述第二转盘的芯片放置部上，所述至少一个第二光学检测元件与所述至少一个第二光学检测工位一一对应，所述第二光学检测元件用于在所述芯片旋转至所述第二光学检测工位时，检测所述芯片的第二面的外观质量，所述下料搬运组件用于在所述芯片旋转至所述第二下料工位时，将芯片搬运至对应的料盘组件中。
[0025]可选地，所述自动分类设备还包括：上料机构，所述上料机构用于将待分类的所述芯片搬运至所述光学检测机构上。
[0026]可选地，所述自动分类设备还包括：打码贴标机构，所述打码贴标机构与所述控制器电连接，所述控制器用于控制所述打码贴标机构将用于表示不同外观质量的标签分别贴附至多个所述料盘组件中的料盘上。
[0027]与现有技术相比，本申请的有益效果在于：
[0028]由于光学检测机构与控制器电连接，因此，光学检测机构可以检测待分类的芯片的外观质量，在光学检测机构检测到芯片的外观质量之后，控制器可以获取到该芯片的外观质量。由于多个料盘组件分别用于对应放置不同外观质量的芯片，下料搬运组件与控制器电连接，因此，在控制器获取到该芯片的外观质量之后，可以基于该芯片的外观质量控制下料搬运组件将光学检测机构上的该芯片搬运至对应的料盘组件中。也即是，可以将不同外观质量的芯片自动分门别类的放置在对应的料盘组件中，达到对芯片进行分类的目的。
[0029]可见，该自动分类设备，光学检测机构可以自动检测芯片的外观质量，并且，在检测完芯片的外观质量之后，下料搬运组件可以自动将不同外观质量的芯片分门别类的放置在对应的料盘组件中。这样，就无需人员参与其中，自动化程度高，可以降低人员的劳动强度。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动分类设备，其特征在于，包括：控制器；光学检测机构，所述光学检测机构与所述控制器电连接，所述光学检测机构用于检测待分类的芯片的外观质量；下料机构，所述下料机构包括多个料盘组件及下料搬运组件，多个所述料盘组件分别用于对应放置不同外观质量的所述芯片，所述下料搬运组件与所述控制器电连接，所述控制器用于基于所述芯片的外观质量控制所述下料搬运组件将所述光学检测机构上的所述芯片搬运至对应的料盘组件中。2.根据权利要求1所述的自动分类设备，其特征在于，所述光学检测机构包括：第一光学检测组件，所述第一光学检测组件用于检测所述芯片的第一面的外观质量，所述第一面朝上设置；翻转搬运组件；第二光学检测组件，所述翻转搬运组件用于将所述第一光学检测组件上的芯片翻转并搬运至所述第二光学检测组件上，以使与所述第一面相背的第二面朝上设置，所述第二光学检测组件用于检测所述芯片的所述第二面的外观质量，所述第一光学检测组件及所述第二光学检测组件均与所述控制器电连接，所述控制器用于基于所述芯片的第一面的外观质量及所述芯片的第二面外观质量控制所述下料搬运组件将芯片搬运至对应的料盘组件中。3.根据权利要求2所述的自动分类设备，其特征在于，所述翻转搬运组件包括：搬运组件及翻转组件，所述翻转组件包括：翻转驱动件；升降驱动组件，所述升降驱动组件包括升降驱动件及拾取件，所述拾取件与所述第一光学检测组件位置对应，所述升降驱动组件设置在所述翻转驱动件上，所述翻转驱动件能够带动所述升降驱动组件翻转，所述升降驱动件用于驱动所述拾取件升降；所述搬运组件用于将翻转后的所述芯片搬运至所述第二光学检测组件上。4.根据权利要求3所述的自动分类设备，其特征在于，所述升降驱动件为滑动气缸，所述翻转驱动件为翻转电机，所述滑动气缸的缸体固定在所述翻转电机的转轴上，所述拾取件固定在所述滑动气缸的活塞杆上，所述滑动气缸的缸体用于驱动所述滑动气缸的活塞杆沿所述滑动气缸的缸体上下滑动。5.根据权利要求2所述的自动分类设备，其特征在于，所述第一光学检测组件包括：第一转盘及至少一个第一光学检测元件，围绕所述第一转盘设置有多个工位...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄奕宏，方明登，秦超，尹国伟，韩宁宁，庄庆波，张新明，
申请(专利权)人：惠州深科达智能装备有限公司，
类型：新型
国别省市：