一种XRD块状样品测试架制造技术

本实用新型专利技术提供一种XRD块状样品测试架，XRD块状样品测试架包括：测试基板、挡板组件和四个螺丝钉，测试基板开设有方形样品槽，方形样品槽沿测试基板的厚度方向贯穿测试基板的相对两表面；挡板组件包括四个第一挡板，四个第一挡板均固定于测试基板的同一表面，并依次围设于方形样品槽之四个槽边的外侧，四个第一挡板均开设有第一螺纹孔；螺丝钉与第一螺纹孔相适配，四个螺丝钉对应插设于四个第一螺纹孔内。本实用新型专利技术的XRD块状样品测试架能够有效地保证了块状样品测试平面的平整度，保证了测试结果的准确性。并且，结构较为简单，对块状样品的形状、大小无特别要求，普适性较强。普适性较强。普适性较强。

【技术实现步骤摘要】
一种XRD块状样品测试架


[0001]本技术属于XRD测试
，具体涉及一种XRD块状样品测试架。

技术介绍

[0002]X射线衍射(XRD)测试技术是材料研究中物相鉴别、晶体结构分析的重要手段，操作简单且对样品无损伤，广泛应用于地质、矿产、冶金、陶瓷、建材、机械、化工等领域。
[0003]在XRD测试的样品中，块状样品是常见的样品之一，块状样品测试架一般为带有方形样品槽的铝板，实验中，通常需要将块状样品置于样品测试架的方形样品槽中，且使样品的一个相对平面与样品测试架的上端面保持在同一个平面，保证块状样品测试平面的平整度。为了满足上述要求，实验人员往往采用橡皮泥或胶带等对块状样品进行固定，然而，由于橡皮泥或胶带具有弹性，很难保证测试时样品表面与样品测试架上端面在同一个平面，从而不能保证实验结果的准确性。
[0004]目前，专利201220529658.8公开了一种X射线衍射仪样品测试架，其利用螺旋传动的原理，将载物台和螺杆连接在一起，工作时只需转动摇杆，螺杆便可带动载物台上下自由移动，从而可方便地调节试样的摆放高度。该专利虽然利用水平测试仪调整被测试样的摆放位置，但是调整比较麻烦，并且由于螺杆等元件所受重力较大，很难保证试样测试平面与样品架的上端面保持为一个平面。
[0005]专利201020144904.9公开了一种X衍射仪用固体块状样品架，其通过安装在基地中部的弹簧将样品顶压到样品测试面基准挡板框上实现，该样品台比较适合块状样品测试，但需要具备样品测试面基准挡板，样品台部件较多，制作要求比较高且要对样品的形状以及大小要求较多。
[0006]因此，需要提供一种针对上述现有技术不足的改进技术方案。

技术实现思路

[0007]本技术的目的在于提供一种XRD块状样品测试架，以解决目前块状样品测试架存在的无法保证样品测试平面平整度、操作步骤繁杂的问题。
[0008]为了实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0009]一种XRD块状样品测试架，所述XRD块状样品测试架包括：
[0010]测试基板，所述测试基板开设有方形样品槽，所述方形样品槽沿所述测试基板的厚度方向贯穿所述测试基板的相对两表面；
[0011]挡板组件，所述挡板组件包括四个第一挡板，四个所述第一挡板均固定于所述测试基板的同一表面，并依次围设于所述方形样品槽之四个槽边的外侧，四个所述第一挡板均开设有第一螺纹孔；
[0012]四个螺丝钉，所述螺丝钉与所述第一螺纹孔相适配，四个所述螺丝钉对应插设于四个所述第一螺纹孔内。
[0013]可选地，四个所述第一挡板中，每相邻两个所述第一挡板连接；每个所述第一螺纹
孔均位于所述第一挡板的中心处。
[0014]可选地，四个所述第一挡板朝向所述方形样品槽的表面分别与所述方形样品槽相应的槽壁面位于同一表面。
[0015]可选地，所述第一螺纹孔的孔径范围为2.5
‑
3.2mm。
[0016]可选地，所述测试基板为长方体板，所述测试基板的长度范围为48
‑
52mm，宽度范围为32
‑
37mm，厚度范围为1.8
‑
2.2mm；所述方形样品槽的尺寸范围为18
‑
22mm；所述方形样品槽的四个槽边中，三个槽边与所述测试基板相应的两个长边、一个宽边的间距相同。
[0017]可选地，所述挡板组件还包括四个第二挡板，四个所述第二挡板分别平行设置于四个所述第一挡板背向所述方形样品槽的一侧；四个所述第二挡板均开设有与所述第一螺纹孔对应且尺寸相同的第二螺纹孔，每一个所述螺丝钉依次插设于相应的第二螺纹孔和第一螺纹孔内。
[0018]可选地，四个所述第二挡板中，每相邻两个所述第二挡板连接；每个所述第二螺纹孔均位于所述第二挡板的中心处。
[0019]可选地，相平行的第一挡板和第二挡板的间距相同，间距范围为2
‑
4mm。
[0020]可选地，所述第一挡板和所述第二挡板均为长方体板状，所述第一挡板的长度范围为22
‑
27mm，宽度范围为12
‑
15mm，厚度范围为2
‑
3mm；所述第二挡板的长度范围为32
‑
37mm，宽度范围为12
‑
15mm，厚度范围为2
‑
3mm。
[0021]可选地，所述测试基板、四个所述第一挡板和四个所述第二挡板的材质均为铝材质，且所述测试基板、四个所述第一挡板和四个所述第二挡板为一体结构。
[0022]有益效果：
[0023]本技术的XRD块状样品测试架，是在原有样品架(即带有方形样品槽的测试基板)的基础上增设挡板组件，挡板组件包括四个第一挡板，四个第一挡板均固定于测试基板的同一表面，并依次围设于方形样品槽之四个槽边的的外侧，四个第一挡板均开设有第一螺纹孔，同时配置四个与第一螺纹孔相适配的螺丝钉。在采用本技术的XRD块状样品测试架装配块状待测样品时，将XRD块状样品测试架倒扣在平面上，即测试基板背向挡板组件的表面与平面接触，将块状待测样品置于方形样品槽的中央，分别旋入四个螺丝钉对块状待测样品进行四个方向的固定，固定好后将XRD块状样品测试架反转便可放入测试台进行测试，实验操作简单快捷。
[0024]本技术的XRD块状样品测试架能够有效地保证块状样品测试平面与测试基板背向挡板组件的表面在同一个平面，即保证了块状样品测试平面的平整度，从而能够保证测试时块状样品测试平面与测角仪聚焦源相切，保证了测试结果的准确性。并且，本技术的XRD块状样品测试架，结构较为简单，可以通过调节螺丝钉的旋入长度来支撑不同大小的块状待测样品，对块状样品的形状、大小无特别要求，普适性较强。
附图说明
[0025]构成本技术的一部分的说明书附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。其中：
[0026]图1为本技术实施例的XRD块状样品测试架的结构示意图；
[0027]图2为图1XRD块状样品测试架移除螺丝钉后的另一视角的结构示意图；
[0028]图3为图1XRD块状样品测试架的又一视角的结构示意图；
[0029]图4为图1XRD块状样品测试架的再一视角的结构示意图。
[0030]图中标号：1
‑
测试基板；11
‑
方形样品槽；2
‑
挡板组件；21
‑
第一挡板；211
‑
第一螺纹孔；22
‑
第二挡板；221
‑
第二螺纹孔；3
‑
螺丝钉。
具体实施方式
[0031]下面将对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种XRD块状样品测试架，其特征在于，所述XRD块状样品测试架包括：测试基板，所述测试基板开设有方形样品槽，所述方形样品槽沿所述测试基板的厚度方向贯穿所述测试基板的相对两表面；挡板组件，所述挡板组件包括四个第一挡板，四个所述第一挡板均固定于所述测试基板的同一表面，并依次围设于所述方形样品槽之四个槽边的外侧，四个所述第一挡板均开设有第一螺纹孔；四个螺丝钉，所述螺丝钉与所述第一螺纹孔相适配，四个所述螺丝钉对应插设于四个所述第一螺纹孔内。2.如权利要求1所述的XRD块状样品测试架，其特征在于，四个所述第一挡板中，每相邻两个所述第一挡板连接；每个所述第一螺纹孔均位于所述第一挡板的中心处。3.如权利要求2所述的XRD块状样品测试架，其特征在于，四个所述第一挡板朝向所述方形样品槽的表面分别与所述方形样品槽相应的槽壁面位于同一表面。4.如权利要求3所述的XRD块状样品测试架，其特征在于，所述第一螺纹孔的孔径范围为2.5
‑
3.2mm。5.如权利要求1所述的XRD块状样品测试架，其特征在于，所述测试基板为长方体板，所述测试基板的长度范围为48
‑
52mm，宽度范围为32
‑
37mm，厚度范围为1.8
‑
2.2mm；所述方形样品槽的尺寸范围为18
‑
22mm；所述方形样品槽的四个槽边中，三个槽边与所述测试基板相应的两个长边、一个宽边的...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏晓帆，范广新，王洋，刘孟杰，
申请(专利权)人：河南理工大学，
类型：新型
国别省市：