IGBT器件的集射极饱和压降的在线检测装置制造方法及图纸

技术编号:32965350 阅读:59 留言:0更新日期:2022-04-09 11:20
本发明专利技术涉及IGBT器件,具体为IGBT器件的集射极饱和压降的在线检测装置。为了解决现有技术中难以精确测量IGBT器件集射极电压的问题,故提供了一种新的IGBT器件的集射极饱和压降的在线检测装置:整流二极管与发射极连接的节点接GND,放大器的反相输入端与第一二极管、第一电阻的节点之间串接有第三电阻、第二二极管,第二二极管与第三电阻的节点通过第二电阻与电源连接,放大器的同相输入端连接于整流二极管与第一电阻的节点,放大器的输出端通过第四电阻连接于第三电阻与放大器的反相输入端的节点,第三电阻与第四电阻的阻值相等,第一二极管与第二二极管的导通压降相等。本发明专利技术的可精确、快速检测IGBT的集射极饱和压降。快速检测IGBT的集射极饱和压降。快速检测IGBT的集射极饱和压降。

【技术实现步骤摘要】
IGBT器件的集射极饱和压降的在线检测装置


[0001]本专利技术涉及IGBT器件,特别涉及IGBT器件集射极饱和压降,具体为IGBT器件的集射极饱和压降的在线检测装置。

技术介绍

[0002]随着电力电子技术产业的发展,IGBT器件作为能源变换和传输的核心器件,其应用范围越来越广泛。功率变换器系统运行时,IGBT器件的开关损耗和导通损耗会使IGBT器件芯片的温度升高,使得IGBT器件内部材料承受热应力,加速了IGBT器件老化程度以及失效率,导致IGBT器件发生故障,所以IGBT器件健康状态以及使用寿命评估具有非常重要的意义。
[0003]一些学者探讨了IGBT器件集射极饱和压降Vce(sat)与其失效过程的关系,通过IGBT器件的加速老化试验,结果证明IGBT器件的集射极饱和压降Vce(sat)会随着失效进程逐渐增大,并将“IGBT器件集射极饱和压降值超过正常值的5%”作为评价IGBT器件是否失效的衡量标准。因此,如何对IGBT器件集射极饱和压降Vce(sat)进行在线检测,是电力电子领域亟需解决的问题。
[0004]现有技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.IGBT器件的集射极饱和压降的在线检测装置,其特征在于,包括放大器、依次串接于IGBT集电极C与发射极E之间的第一二极管D1、第一电阻R1、整流二极管DZ,整流二极管DZ的阳极与IGBT器件的发射极E的连接节点接GND,放大器的反相输入端与第一二极管D1的阳极、第一电阻R1的连接节点之间依次串接有第三电阻R3、第二二极管D2,第二二极管D2的阳极与第三电阻的连接节点通过第二电阻R2与电源连接,放大器的同相输入端连接于整流二极管DZ的阴极与第一电阻R1的连接节点处,放大器的输出端通过第四电阻R4连接于第三电阻R3与放大器的反相输入端的连接节点处,整流二极管DZ的击穿电压大于电源电压,第三电阻R3与第四电阻R4的电阻值相等,第一二极管D1与第二二极管D2均正向导通且导通压降相等。2.根据权利要求1所述的IGBT器件的集射极饱和压降的在线检测装置,其特征在于,电源电压为15V。3.根据权利要求2所述的IGBT器件的集射极饱和压降的在线检测装置,其特征在于,整流二极管DZ的击穿电压VDZ为22V。4.根据权利要求3所述的IGBT器件的集射极饱和压降的在线检测装置,其特征在于,第三电阻R3与第四电阻R4的电阻值均为10 KΩ。5.IGBT器件的集射极饱和压降的在线检测装置,其特征在于,包括放大器、依次串接于IGBT集电极C与发射极E之间的第三二极管D3、第四二极管D4、第五二极管D5、第六二极管D6、第一电阻R1、整流二极管DZ,整流二极管DZ的阳极与IGBT器件的发射极E的连接节点接GND,放大器的反相输入端与第六二极管D6的阳极、第一电阻R1的连接节点之间依次串接有第三电阻R3、第十二极管D10、第九二极管D9、第八二极管D8、第七二极管D7,第十二极管D10的阳极与第三电阻的连接节点通过第二电阻R2与电源连接,放...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘志敏郭佳俞晓丽余华杨伟民王欢欢
申请(专利权)人:中车永济电机有限公司
类型:发明
国别省市:

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