一种时钟频率测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及芯片技术领域，具体公开了一种时钟频率测试方法、装置、电子设备及存储介质，其中，方法包括以下步骤：设置线性变化的系统时钟频率Fsys，系统时钟频率Fsys满足：Fsys=Fs*(PLLn/(PLLm*PLLp))；设置QSPI时钟频率Freq，QSPI时钟频率Freq满足：Freq=Fsys/div；根据线性变化的系统时钟频率Fsys调节div的大小以获取不同变化范围的QSPI时钟频率Freq；根据不同变化范围的QSPI时钟频率Freq测试获取所述SPI FLASH数据读取的时钟频率；该方法通过调节div获取不同变化范围Freq，实现Freq的全频率覆盖，以精确地获取SPI FLASH数据读取的时钟频率。的时钟频率。的时钟频率。

【技术实现步骤摘要】
一种时钟频率测试方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及芯片
，具体而言，涉及一种时钟频率测试方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]主控芯片通常采用QSPI（Qual SPI）总线与SPI FLASH（串行存储芯片）通讯。
[0003]QSPI是专门针对SPI FLASH的硬件通讯接口，用于连接单、双或四条数据线的SPI Flash存储介质。
[0004]QSPI的时钟信号CLK频率由主控芯片来控制，CLK的频率大小决定了主控芯片读取Flash 数据的速度；主控芯片设置的时钟信号频率根据不同的应用场景有所不同，该频率最低只有几兆赫兹，最高高达上百兆赫兹，故SPI FLASH使用前需要进行扫描测试以获取其数据读取的时钟频率。
[0005]现有的SPI FLASH 数据读取的时钟全频率的测试方法一般只能测取有限的频点，不能做到全频率覆盖，对于不在频率点上的时钟频率只能取近似值匹配，存在精确度不足的问题。
[0006]针对上述问题，目前尚未有有效的技术解决方案。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种时钟频率测试方法，用于扫描测试SPI FLASH数据读取的时钟频率，其特征在于，所述方法包括以下步骤：设置线性变化的系统时钟频率Fsys，所述系统时钟频率Fsys满足：Fsys = Fs*(PLLn/(PLLm*PLLp))；其中，Fs为内部晶振，PLLn为主锁相环倍频系数，PLLm为主锁相环分频系数，PLLp为系统时钟分频系数；设置QSPI时钟频率Freq，所述QSPI时钟频率Freq满足：Freq = Fsys/div；其中，div为QSPI的时钟分频系数；根据线性变化的所述系统时钟频率Fsys调节所述div的大小以获取不同变化范围的所述QSPI时钟频率Freq；根据不同变化范围的QSPI时钟频率Freq测试获取所述SPI FLASH数据读取的时钟频率。2.根据权利要求1所述的一种时钟频率测试方法，其特征在于，所述PLLm和所述PLLp为预设的正数定值。3.根据权利要求1所述的一种时钟频率测试方法，其特征在于，所述PLLm和所述PLLp为根据所述Fs选定，满足：PLLm*PLLp/Fs=1MHz
‑1，使得PLLn=Freq*div*1MHz
‑1。4.根据权利要求3所述的一种时钟频率测试方法，其特征在于，所述div=1,2,4,8,20,50,100。5.根据权利要求1所述的一种时钟频率测试方法，其特征在于，所述系统时钟频率Fsys的变化范围为50MHz
‑
216MHz。6.根据权利要求1所述的一种时钟频率测试方法，其特征在于，所述di...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙兆兴，林晓新，
申请(专利权)人：芯天下技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：