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本发明涉及芯片技术领域，具体公开了一种时钟频率测试方法、装置、电子设备及存储介质，其中，方法包括以下步骤：设置线性变化的系统时钟频率Fsys，系统时钟频率Fsys满足：Fsys=Fs*(PLLn/(PLLm*PLLp))；设置QSPI时钟频...
该专利属于芯天下技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯天下技术股份有限公司授权不得商用。

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