本实用新型专利技术公开了一种电子产品测试用按键寿命试验装置，涉及按键寿命试验装置技术领域，该电子产品测试用按键寿命试验装置，包括底座，所述底座顶端焊接有顶架，所述顶架内部通过螺栓安装有电动伸缩架。本实用新型专利技术通过顶架内部通过螺栓安装的电动伸缩架，方便推动驱动盒下压，从而调节延伸杆位置，满足延伸杆按压电子产品按键进行测试的高度需求，同时也满足了按键寿命试验装置的按压深度调节需求，同时通过机盒内部通过螺栓安装的电动伸缩器，方便电动延伸杆进行伸缩运动，从而对电子产品进行按键寿命试验，通过驱动盒底端开设有滑槽，方便根据需求，滑动限位滑块，调节机盒位置，满足不同电子产品按键测试的位置调节需求。足不同电子产品按键测试的位置调节需求。足不同电子产品按键测试的位置调节需求。
【技术实现步骤摘要】
一种电子产品测试用按键寿命试验装置
[0001]本技术涉及按键寿命试验装置
，具体为一种电子产品测试用按键寿命试验装置。
技术介绍
[0002]按键寿命试验机可对手机、MP3、电脑、电子词典按键、摇控器按键、硅橡胶按键、硅胶制品等做寿命测试，适用于检测按键开关、轻触开关、薄膜开关等各类按键进行寿命试验。
[0003]然而现有的电子产品测试用按键寿命试验装置在对电子产品进行按键寿命试验时，无法根据电子产品的按键位置，来调节试验装置的按压结构位置，从而无法满足对不同电子产品进行按键寿命试验需求，同时，无法调节按压深度。
技术实现思路
[0004]本技术提供了一种电子产品测试用按键寿命试验装置，具备可根据电子产品按键位置进行按压结构位置的调节，同时可调节按压深度的优点，以解决现有的电子产品测试用按键寿命试验装置在对电子产品进行按键寿命试验时，无法根据电子产品的按键位置，来调节试验装置的按压结构位置，从而无法满足对不同电子产品进行按键寿命试验需求，同时，无法调节按压深度的问题。
[0005]为实现可根据电子产品按键位置进行按压结构位置的目的，本技术提供如下技术方案：一种电子产品测试用按键寿命试验装置，包括底座，所述底座顶端焊接有顶架，所述顶架内部通过螺栓安装有电动伸缩架，所述电动伸缩架底端通过螺栓安装有驱动盒，所述驱动盒底端开设有滑槽，所述滑槽内部滑动安装有限位滑块，所述限位滑块底端通过螺栓安装有机盒，所述机盒内部通过螺栓安装有电动伸缩器，所述电动伸缩器伸缩杆底端旋转安装有延伸杆，所述延伸杆底端旋转安装有硅胶帽。
[0006]作为本技术的一种优选技术方案，所述驱动盒内部镶嵌有导轨式接电板，所述驱动盒顶端镶嵌有杆式接电座，所述杆式接电座顶端滑扣于导轨式接电板导电轨槽内，所述杆式接电座底端与电动伸缩器之间电性连接。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，所述驱动盒顶端表面开设有线束槽所述底座内部镶嵌有蓄电池。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述底座顶端表面粘合有防滑胶板，所述底座顶端两侧均焊接有定位架，所述定位架内壁开设有滑动槽，所述滑动槽内部滑动安装有夹持板，所述夹持板位于防滑胶板正上方。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述底座表面镶嵌有控制开关和显示面板，所述显示面板数据输入端与电动伸缩器相连。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，所述延伸杆底端开设有螺栓衔接槽。
[0011]与现有技术相比，本技术提供了一种电子产品测试用按键寿命试验装置，具
备以下有益效果：
[0012]1、该电子产品测试用按键寿命试验装置，通过顶架内部通过螺栓安装的电动伸缩架，方便推动驱动盒下压，从而调节延伸杆位置，满足延伸杆按压电子产品按键进行测试的高度需求，同时也满足了按键寿命试验装置的按压深度调节需求，同时通过机盒内部通过螺栓安装的电动伸缩器，方便电动延伸杆进行伸缩运动，从而对电子产品进行按键寿命试验，通过驱动盒底端开设有滑槽，方便根据需求，滑动限位滑块，调节机盒位置，满足不同电子产品按键测试的位置调节需求。
[0013]2、该电子产品测试用按键寿命试验装置，通过驱动盒内部镶嵌有导轨式接电板，方便连接供电线路，利用杆式接电座对电动伸缩器进行供电，从而避免传动线束连接，造成无法移动驱动盒的情况发生，通过驱动盒顶端表面开设有线束槽，可避免供电线束受到驱动盒和顶架的挤压，造成损坏的情况发生，通过底座内部镶嵌的蓄电池，方便向整个装置提供工作用电，从而方便整个装置移动使用，通过底座顶端表面粘合的防滑胶板，方便对需要进行试验的电子产品进行拖放，起到了减震防滑功能，同时通过滑动滑动槽内部滑动安装的夹持板，方便对需要进行试验的电子产品进行夹持固定，从而避免其在试验过程中出现位移，影响试验效果的情况发生，通过底座表面镶嵌有控制开关，方便对整个装置进行调节，通过设置的显示面板，方便显示电动伸缩器得伸缩次数，从而准确了解按压电子产品按键的次数。
附图说明
[0014]图1为本技术整体结构示意图；
[0015]图2为本技术整体内部结构示意图；
[0016]图3为本技术机盒结构示意图。
[0017]图中：1、底座；2、顶架；3、电动伸缩架；4、驱动盒；5、线束槽；6、导轨式接电板；7、滑槽；8、机盒；9、电动伸缩器；10、延伸杆；11、螺栓衔接槽；12、硅胶帽；13、限位滑块；14、杆式接电座；15、防滑胶板；16、定位架；17、滑动槽；18、夹持板；19、控制开关；20、显示面板；21、蓄电池。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]请参阅图1
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图3，本技术公开了一种电子产品测试用按键寿命试验装置，包括底座1，所述底座1顶端焊接有顶架2，所述顶架2内部通过螺栓安装有电动伸缩架3，所述电动伸缩架3底端通过螺栓安装有驱动盒4，所述驱动盒4底端开设有滑槽7，所述滑槽7内部滑动安装有限位滑块13，所述限位滑块13底端通过螺栓安装有机盒8，所述机盒8内部通过螺栓安装有电动伸缩器9，所述电动伸缩器9伸缩杆底端旋转安装有延伸杆10，所述延伸杆10底端旋转安装有硅胶帽12，通过顶架2内部通过螺栓安装的电动伸缩架3，方便推动驱动盒4下压，从而调节延伸杆10位置，满足延伸杆10按压电子产品按键进行测试的高度需求，同时
通过机盒8内部通过螺栓安装的电动伸缩器9，方便电动延伸杆10进行伸缩运动，从而对电子产品进行按键寿命试验，通过驱动盒4底端开设有滑槽7，方便根据需求，滑动限位滑块13，调节机盒8位置，满足不同电子产品按键测试的位置调节需求。
[0020]具体的，所述驱动盒4内部镶嵌有导轨式接电板6，所述驱动盒4顶端镶嵌有杆式接电座14，所述杆式接电座14顶端滑扣于导轨式接电板6导电轨槽内，所述杆式接电座14底端与电动伸缩器9之间电性连接。
[0021]本实施方案中，通过驱动盒4内部镶嵌有导轨式接电板6，方便连接供电线路，利用杆式接电座14对电动伸缩器9进行供电，从而避免传动线束连接，造成无法移动驱动盒4的情况发生。
[0022]具体的，所述驱动盒4顶端表面开设有线束槽5所述底座1内部镶嵌有蓄电池21。
[0023]本实施方案中，通过驱动盒4顶端表面开设有线束槽5，可避免供电线束受到驱动盒4和顶架2的挤压，造成损坏的情况发生，通过底座1内部镶嵌的蓄电池21，方便向整个装置提供工作用电，从而方便整个装置移动使用。
[0024]具体的，所述底座1顶端表面粘合有防滑胶板15，所述底座1顶端两侧均焊接有定位架16，所述定位架16内壁本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子产品测试用按键寿命试验装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)顶端焊接有顶架(2)，所述顶架(2)内部通过螺栓安装有电动伸缩架(3)，所述电动伸缩架(3)底端通过螺栓安装有驱动盒(4)，所述驱动盒(4)底端开设有滑槽(7)，所述滑槽(7)内部滑动安装有限位滑块(13)，所述限位滑块(13)底端通过螺栓安装有机盒(8)，所述机盒(8)内部通过螺栓安装有电动伸缩器(9)，所述电动伸缩器(9)伸缩杆底端旋转安装有延伸杆(10)，所述延伸杆(10)底端旋转安装有硅胶帽(12)。2.根据权利要求1所述的一种电子产品测试用按键寿命试验装置，其特征在于：所述驱动盒(4)内部镶嵌有导轨式接电板(6)，所述驱动盒(4)顶端镶嵌有杆式接电座(14)，所述杆式接电座(14)顶端滑扣于导轨式接电板(6)导电轨槽内，所述杆式接电座(14)底端与电动伸缩器(9)之间电性连接...
【专利技术属性】
技术研发人员：王强，
申请(专利权)人：深圳市柯比迪科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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