ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质技术

本发明专利技术实施例公开了一种ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质，所述多路ADC芯片测试方法包括获取经过分压的多个模拟测试信号，将多个所述模拟测试信号一对一输入待检测的ADC芯片的多个ADC支路，采集每一所述ADC支路的输出信号，根据多个所述输出信号以及预设的第一测试标准值范围确定所述待检测ADC芯片是否为良品，上述方案解决解决现有技术中ADC芯片测试效率较低的技术问题。术中ADC芯片测试效率较低的技术问题。术中ADC芯片测试效率较低的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质


[0001]本专利技术涉及ADC芯片测试
，尤其涉及一种ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质。

技术介绍

[0002]ADC(Analog
‑
to
‑
Digital Convertor，模数转换器)是当前电信号采集系统极其关键的组成部分。随着近年SOC技术和电计量产业的迅猛发展，对ADC的性能和质量要求也越来越高。电计量类ADC由于可以同时达到宽电压、高精度和高可靠性的性能要求，已经广泛应用于智能电能表、充电桩以及能源控制器等电力和储能领域。
[0003]如何通过快速有效的测试方法，来评估这类器件质量的，达到既节约测试成本又能满足测试的覆盖率，成为ADC制造和生产厂商最为关注的焦点之一。对于ADC芯片，其设计和工艺制作成本已经占用很大一部分，如果在芯片测试还无法保证足够短的测试时间，总成本将会大大增加。因此，为了提高产品的可靠性，并出于测试成本角度考虑，当前最大的障碍在于缺乏一种行之有效的多路高精度ADC快速测试方法。
专利技术内本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多路ADC芯片测试方法，其特征在于，所述多路ADC芯片测试方法包括；获取经过分压的多个模拟测试信号；将多个所述模拟测试信号一对一输入待检测的ADC芯片的多个ADC支路；采集每一所述ADC支路的输出信号；根据多个所述输出信号以及预设的第一测试标准值范围确定所述待检测ADC芯片是否为良品。2.如权利要求1所述的多路ADC芯片测试方法，其特征在于，所述获取经过分压的多个模拟测试信号的步骤包括：获取一原始测试信号；将所述原始测试信号输入分压网络以得到多个相位相等的模拟测试信号。3.如权利要求1所述的多路ADC芯片测试方法，其特征在于，所述根据多个所述输出信号以及预设的第一测试标准值范围确定所述待检测ADC芯片是否为良品的步骤包括：任意选中一所述输出信号，并判断所述输出信号是否处于预设的第一测试标准值范围；若当前所述输出信号处于预设的第一测试标准值范围时，将剩余的所述输出信号分别与当前所述输出信号进行取比值；若每一所述输出信号与当前所述输出信号的比值均满足第二测试标准值范围时，确定当前待检测ADC芯片为良品。4.如权利要求1所述的多路ADC芯片测试方法，其特征在于，所述任意选中一所述输出信号，并判断所述输出信号是否处于预设的第一测试标准值范围的步骤之后还包括：若当前所述输出信号未满足预设的第一测试标准值范围时，确定当前待检测ADC芯片为不良品。5.权利要求1所述的多路ADC芯片测试方法，其特征在于，所述若当前所述输出信号处于预设的第一测试标准值范围时，将剩余的所述输出信号分别与当前所述输出信号进行取比值的步骤之后还包括：若任一所述输出信号与当前所述输出信号的比值不满足第二测试标准值范围时，确定当前待检测ADC芯片为不良品。6.一种存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述的ADC芯片测试方法。7.一种ADC芯片测试设备，其特征在于，包括存储器...

【专利技术属性】
技术研发人员：苗书立，李文标，刘凯，
申请(专利权)人：深圳市锐能微科技有限公司，
类型：发明
国别省市：