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本发明实施例公开了一种ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质，所述多路ADC芯片测试方法包括获取经过分压的多个模拟测试信号，将多个所述模拟测试信号一对一输入待检测的ADC芯片的多个ADC支路，采集每一所述ADC支路的输出信号，根据多...
该专利属于深圳市锐能微科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市锐能微科技有限公司授权不得商用。

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