测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及带电产品测试技术领域，具体涉及一种测试装置，包括：固定平台，其上适于放置待测试件；支撑柱，设置在固定平台上；活动组件，可升降地设在支撑柱上，具有压在待测试件上的第一位置以及离开待测试件的第二位置；驱动机构，能够驱动活动组件升降；微动开关，与驱动机构联动地设置，微动开关设在对待测试件测试的测试电路中，驱动机构驱动活动组件下降至第一位置时，微动开关闭合，驱动机构驱动活动组件上升至第二位置时，微动开关断开。该测试装置能够确保在测试电路不通电的情况下，将待测试件放到固定平台上或者从固定平台上拿下，能够防止带电拿取待测试件，从而保证测试过程中的安全，也不会对待测试件造成损坏。也不会对待测试件造成损坏。也不会对待测试件造成损坏。

【技术实现步骤摘要】
测试装置


[0001]本专利技术涉及带电产品测试
，具体涉及一种测试装置。

技术介绍

[0002]现今社会，电子产品已经成为人们生活中必不可少的东西，随着人们生活水平的提高和科技的不断进步，人们对电子产品的要求也越来越严苛，也就意味着生产厂家要面临更难的工艺挑战。测试作为产品出厂前的质量监测工序，是对产品流入市场前的质量管控，测试要求筛选出不良产品，同时也不能对产品造成不良影响。
[0003]电子产品作为带电产品，对其操作要格外小心，尤其是在测试环节带电拿取产品是严格禁止的，但是人为操作总避免不了疏漏导致误操作。

技术实现思路

[0004]因此，本专利技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的对带电产品测试时容易出现带电拿取产品的缺陷，从而提供一种能够防止带电拿取待测试件的测试装置。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供的一种测试装置，包括：
[0006]固定平台，其上适于放置待测试件；
[0007]支撑柱，设置在所述固定平台上；
[0008]活动组件，可升降地设在所述支撑柱上，具有压在待测试件上的第一位置以及离开待测试件的第二位置；
[0009]驱动机构，能够驱动所述活动组件升降；
[0010]微动开关，与所述驱动机构联动地设置，所述微动开关设在对待测试件测试的测试电路中，所述驱动机构驱动所述活动组件下降至所述第一位置时，所述微动开关闭合，所述驱动机构驱动所述活动组件上升至所述第二位置时，所述微动开关断开。
[0011]可选地，所述支撑柱设有两个，所述驱动机构包括：
[0012]活动把手，能够沿与所述支撑柱的轴线相垂直的方向转动地设在两个所述支撑柱之间，所述活动把手包括手柄以及连接块，所述连接块适于抵压在所述活动组件的上表面，所述活动把手朝向第一方向转动时，所述连接块对所述活动组件施加下压力以带动所述活动组件朝向所述第一位置移动，所述活动把手朝向第二方向转动时，所述连接块失去对所述活动组件的下压力；
[0013]弹性件，设在所述活动组件与所述固定平台之间。
[0014]可选地，所述活动把手具有竖立的初始位置以及水平设置的下压位置，所述连接块的侧壁包括圆弧面及与所述圆弧面相接的平面，所述圆弧面的圆心位于所述活动把手的转动中心的正下方，所述活动把手位于所述初始位置时，所述圆弧面与所述活动组件的上表面相抵，所述活动把手转动至所述下压位置时，所述平面与所述活动组件的上表面相抵。
[0015]可选地，所述测试装置还包括设置在两个所述支撑柱的顶端处的支撑平台，所述支撑平台包括两个间隔设置的支撑部，所述活动把手通过铰接轴铰接在两个所述支撑部之
间。
[0016]可选地，所述支撑平台还包括连接两个所述支撑部的连接部，所述连接部与两个所述支撑部为一体结构。
[0017]可选地，所述微动开关设在所述支撑平台的一侧，所述活动把手转动至所述下压位置时，所述手柄压在所述微动开关上。
[0018]可选地，所述支撑平台的一侧设有保护壳，所述微动开关设在所述保护壳中。
[0019]可选地，所述活动组件包括设置在所述支撑柱上的活动压块以及设在所述活动压块一侧的压头，所述压头适于压在待测试件上。
[0020]可选地，所述压头包括设在所述活动压块一侧的刚性压头以及连接在所述刚性压头下端的弹性压头，所述弹性压头适于压在待测试件上。
[0021]可选地，所述刚性压头的下端设有凹槽，所述弹性压头嵌在所述凹槽内。
[0022]本专利技术技术方案，具有如下优点：
[0023]1.本专利技术提供的测试装置，需要对待测试件进行测试时，将待测试件放置在固定平台上，待测试件与固定平台电性导通，但是此时微动开关断开，测试电路不通电，可以安全的放置待测试件，之后使驱动机构带动活动组件沿支撑柱下降至压在待测试件的第一位置，当活动组件下降至第一位置时，微动开关闭合，测试电路通电，可以对待测试件进行测试，当测试完成后，通过驱动机构调动活动组件上升至离开待测件的第二位置，此时微动开关断开，测试电路不通电，且由于活动组件离开待测试件，可将待测试件从固定平台上拿下。因此，该测试装置能够确保在测试电路不通电的情况下，将待测试件放到固定平台上或者从固定平台上拿下，能够防止带电拿取待测试件，从而保证测试过程中的安全，也不会对待测试件造成损坏。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1为本专利技术的实施例中提供的测试装置不包含固定平台时在一个角度时的结构示意图；
[0026]图2为本专利技术的实施例中提供的测试装置不包含固定平台时在另一个角度时的结构示意图；
[0027]图3为本专利技术的实施例中提供的测试装置不包含固定平台时在另一个角度时的结构示意图；
[0028]图4为本专利技术的实施例中提供的测试装置的主视图。
[0029]附图标记说明：
[0030]1、支撑柱；2、微动开关；3、活动把手；301、手柄；302、连接块；3021、圆弧面；4、支撑平台；401、支撑部；402、连接部；5、铰接轴；6、保护壳；7、活动压块；8、刚性压头；9、弹性压头；10、固定平台；11、待测试件。
具体实施方式
[0031]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0033]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0034]此外，下面所描述的本专利技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
[0035]实施例
[0036]现今社会，电子产品已经成为人们生活中必不可少的东西，随着人们生活本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：固定平台(10)，其上适于放置待测试件(11)；支撑柱(1)，设置在所述固定平台(10)上；活动组件，可升降地设在所述支撑柱(1)上，具有压在待测试件(11)上的第一位置以及离开待测试件(11)的第二位置；驱动机构，能够驱动所述活动组件升降；微动开关(2)，与所述驱动机构联动地设置，所述微动开关(2)设在对待测试件(11)测试的测试电路中，所述驱动机构驱动所述活动组件下降至所述第一位置时，所述微动开关(2)闭合，所述驱动机构驱动所述活动组件上升至所述第二位置时，所述微动开关(2)断开。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述支撑柱(1)设有两个，所述驱动机构包括：活动把手(3)，能够沿与所述支撑柱(1)的轴线相垂直的方向转动地设在两个所述支撑柱(1)之间，所述活动把手(3)包括手柄(301)以及连接块(302)，所述连接块(302)适于抵压在所述活动组件的上表面，所述活动把手(3)朝向第一方向转动时，所述连接块(302)对所述活动组件施加下压力以带动所述活动组件朝向所述第一位置移动，所述活动把手(3)朝向第二方向转动时，所述连接块(302)失去对所述活动组件的下压力；弹性件，设在所述活动组件与所述固定平台(10)之间。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述活动把手(3)具有竖立的初始位置以及水平设置的下压位置，所述连接块(302)的侧壁包括圆弧面(3021)及与所述圆弧面(3021)相接的平面，所述圆弧面(3021)的圆心位于所述活动把手(3)的转动中心的正下方，所述活动把手(3)位于所述初始位置时...

【专利技术属性】
技术研发人员：王伟，郝力强，吴磊，万晓鹏，高佳佳，王斌，
申请(专利权)人：义乌清越光电技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：