测试插座及包括其的测试设备制造技术

本发明专利技术的测试插座包括：非弹性导电外壳，在与待测设备的端子相对应的位置形成有沿着厚度方向贯通的多个外壳孔，由非弹性导电材料制成；接地用导电部，以多个导电粒子沿着厚度方向在弹性绝缘物质内定向的形态形成，配置于上述外壳孔；信号用导电部及电力用导电部，以通过绝缘层绝缘的方式配置在上述外壳孔，在上述测试插座中，在配置上述接地用导电部的上述外壳孔的上部面与下部面之间设置接地连接端部，上述接地连接端部通过使上述非弹性导电外壳在上述外壳孔的内部面突出来形成。壳在上述外壳孔的内部面突出来形成。壳在上述外壳孔的内部面突出来形成。

【技术实现步骤摘要】
测试插座及包括其的测试设备


[0001]本专利技术涉及测试插座，更详细地涉及将待测设备与测试器电连接的测试插座及包括其的测试设备。

技术介绍

[0002]在待测设备(例如，半导体封装)中，微细的电子电路以高密度集成而成，在制造工序中，进行各电子电路是否正常的测试工序。测试工序为如下的工序：测试待测设备是否正常工作，由此筛选合格产品和不良产品。
[0003]当测试待测设备时，利用将待测设备的端子与施加测试信号的测试器的衬垫电连接的测试设备。测试设备根据作为待测对象的待测设备的种类具有各种结构。测试设备与待测设备并不是直接联接，而是通过测试插座间接联接。
[0004]代表性的测试插座有弹簧插座和橡胶插座。其中，橡胶插座具有如下的结构：在硅等具有弹力的材质的内部包含多个导电粒子的形态的导电部以相互绝缘的方式配置在由硅等具有弹力的材质制成的绝缘部的内侧。这种橡胶插座不使用如焊接或弹簧的机械手段，具有耐久性优秀、实现简单的电联接且体现短的导电路径的优点，因此近来广泛使用。
[0005]在包括橡胶插座类型的测试插座的测试设备中，测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试插座，包括：非弹性导电外壳，在与待测设备的端子相对应的位置形成有沿着厚度方向贯通的多个外壳孔，由非弹性导电材料制成；接地用导电部，以多个导电粒子沿着厚度方向在弹性绝缘物质内定向的形态形成，配置于上述外壳孔；信号用导电部及电力用导电部，以通过绝缘层绝缘的方式配置在上述外壳孔，上述测试插座的特征在于，在配置上述接地用导电部的上述外壳孔的上部面与下部面之间设置接地连接端部，上述接地连接端部通过使上述非弹性导电外壳在上述外壳孔的内部面突出来形成。2.根据权利要求1所述的测试插座，其特征在于，上述接地连接端部形成沿着上述外壳孔的中心方向延伸的板状。3.根据权利要求1所述的测试插座，其特征在于，上述接地连接端部形成横穿上述外壳孔的板状。4.根据权利要求3所述的测试插座，其特征在于，在上述接地连接端部的中心形成贯通孔。5.根据权利要求2至4中任一项所述的测试插座，其特征在于，在上述接地连接端部的上部面形成从上述接地连接端部上侧的外壳孔内部面朝向下侧倾斜的上部倾斜面。6.根据权利要求2至4中任一项所述的测试插座，其特征在于，在上述接地连接端部的下部面形成从上述接地连接端部下侧的外壳孔内部面朝向上侧倾斜的下部倾斜面。7.根据权利要求2至4中任一项所述的测试插座，其特征在于，在上述接地连接端部的上部面形成从上述接地连接端部上侧的外壳孔内部面朝向下侧倾斜的上部倾斜面，在上述接地连接端部的下部面形成从上述接地连接端部下侧的外壳孔内部面朝向上侧倾斜的下部倾斜面。8.根据权利要求1所述的测试插座，其特征在于，在上述非弹性导电外壳的上部面和下部面形成上述绝缘层。9.一种测试插座，包括：非弹性导电外壳，在与待测设备的端子相对应的位置沿着厚度方向贯通形成多个外壳孔，由非弹性导电材料制成；上部绝缘片和下部绝缘片，在与上述外壳孔相对应的位置形成绝缘片孔，分别与上述非弹性导电外壳的上部面与下部面结合；接地用导电部，以多个导电粒子沿着厚度方向在弹性绝缘物质内定向的形态形成，贯通上述外壳孔和绝缘片孔来配置；信号用导电部及电力用导电部，贯通在内部面形成有绝缘部的上述外壳孔和上述绝缘片孔来配置，上述测试插座的特征在于，在配置上述接地用导电部的上述外壳孔设置接地连接端部，上述接地连接端部通过使上述非弹性导电外壳从上述外壳孔的内部面突出来形成。
10.根据权利要求9所述的测试插座，其特征在于，上述接地连接端部与上述外壳孔的上部面相接触。11.根据权利要求9所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴昌洙，
申请(专利权)人：TSE有限公司，
类型：发明
国别省市：