【技术实现步骤摘要】
各向异性导电性连接器、其制造方法以及探针构件
本专利技术涉及一种用来以晶片的状态对形成于晶片上的各个集成电路进行电气检查的各向异性导电性连接器及其制造方法,以及具有该各向异性导电性连接器的探针构件,更具体而言,本专利技术涉及一种各向异性导电性连接器及其制造方法,该连接器适用于对诸如直径8英寸以上的晶片上共有至少5000个被检查电极的集成电路进行电气检查,以及具有该各向异性导电性连接器的探针构件。
技术介绍
在半导体集成电路装置的制造方法中,在晶片上形成大量的集成电路之后,一般通过检查这些集成电路的基础电气特性而进行用于识别带缺陷的集成电路的探针试验。然后,将该晶片切开,以形成半导体芯片,并以适当的外壳收存、密封该半导体芯片。然后,进一步对各收存于外壳中的半导体集成电路进行预烧(burn-in)试验,以检查其在高温环境下的电气性能,由此对带有潜在缺陷的半导体集成电路装置进行识别。在这种诸如探针试验或预烧试验等的集成电路的电气检查中,使用探针构件将作为检查对象的晶片或集成电路中的各被检查电极与试验器电气连接。众所周知,对于这种探针构件,它包含检查用电路板和在该检查用电路板上配置的各向异性导电性弹性体板,在该检查用电路板上,已根据被检查电极的图案所对应的图案而形成了被检查电极。众所周知,这种各向异性导电性弹性体板具有各种不同的结构。例如,日本专利申请特开昭51-93393(1976)公开了通过在弹性-->体中均匀分散金属粒子而得到的各向异性导电性弹性体板(以下称“分散型各向异性导电性弹性体板”),并且,日本专利申请特开昭53-147772(1978)公开了,将 ...
【技术保护点】
一种各向异性导电性连接器,用来以晶片的状态对在晶片上形成的各个集成电路进行电气检查,其特征在于,包括: 框板,在该框板中,与电极区域相对应形成沿框板的厚度延伸的多个各向异性导电膜配置用孔,在该电极区域中,已形成了作为检查对象的晶片中的集成电路的被检查电极;和 配置于该框板中的各个各向异性导电膜配置用孔中、并由该各向异性导电膜配置用孔的周边部分支撑的多个弹性各向异性导电膜, 每个上述弹性各向异性导电膜包含功能部分和被支撑部分,该功能部分包含多个连接用导电部分和绝缘部分,每个连接用导电部分包含高密度的表现出磁性的导电性粒子,它沿膜的厚度方向延伸并与作为检查对象的晶片中的集成电路的被检查电极相对应而配置,该绝缘部分使这些连接用导电部分相互绝缘,并且,该被支撑部分在功能部分的周缘上一体化连续形成并固定于该框板中的各向异性导电膜配置用孔的周边部分上,且该被支撑部分包含表面出磁性的导电性粒子。
【技术特征摘要】
JP 2001-2-9 33908/011.一种各向异性导电性连接器,用来以晶片的状态对在晶片上形成的各个集成电路进行电气检查,其特征在于,包括:框板,在该框板中,与电极区域相对应形成沿框板的厚度延伸的多个各向异性导电膜配置用孔,在该电极区域中,已形成了作为检查对象的晶片中的集成电路的被检查电极;和配置于该框板中的各个各向异性导电膜配置用孔中、并由该各向异性导电膜配置用孔的周边部分支撑的多个弹性各向异性导电膜,每个上述弹性各向异性导电膜包含功能部分和被支撑部分,该功能部分包含多个连接用导电部分和绝缘部分,每个连接用导电部分包含高密度的表现出磁性的导电性粒子,它沿膜的厚度方向延伸并与作为检查对象的晶片中的集成电路的被检查电极相对应而配置,该绝缘部分使这些连接用导电部分相互绝缘,并且,该被支撑部分在功能部分的周缘上一体化连续形成并固定于该框板中的各向异性导电膜配置用孔的周边部分上,且该被支撑部分包含表面出磁性的导电性粒子。2.根据权利要求1的各向异性导电性连接器,其特征在于,框板至少在其各向异性导电膜配置用孔的周边部分上具有0.1Wb/m2以上的饱和磁化。3.根据权利要求1的各向异性导电性连接器,其特征在于,整个框板由具有0.1Wb/m2以上的饱和磁化的磁性物质形成。4.根据权利要求3的各向异性导电性连接器,其特征在于,在框板中形成贯通框板的厚度方向的定位孔。5.根据权利要求4的各向异性导电性连接器,其特征在于,在框板中形成贯通框板的厚度方向的空气流通孔。6.根据权利要求5的各向异性导电性连接器,其特征在于,框板的线性热膨胀系数为3×10-5/K以下。7.根据权利要求6的各向异性导电性连接器,其特征在于被用-->于预烧试验。8.根据权利要求7的各向异性导电性连接器,其特征在于,除了连接用导电部分外,还在各个弹性各向异性导电膜的功能部分中形成不与作为检查对象的晶片中的集成电路的任何被检查电极电气连接并沿厚度方向延伸的非连接用导电部分,且该非连接用导电部分包含高密度的表现出磁性的粒子并通过绝缘部分与上述各连接用导电部分相互绝缘。9.一种各向异性导电性连接器的制造方法,用来制造各向异性导电性连接器,其特征在于包含下列步骤:准备框板,在该框板中,与电极区域相对应形成了沿框板的厚度方向延伸的多个各向异性导电膜配置用孔,在该电极区域中,已形成了作为检查对象的晶片中的集成电路的被检查电极;在框板的各个各向异性导电膜配置用孔及其周边部分形成用于形成弹性各向异性导电膜的成形材料层,在该成形材料层中,表现出磁性的导电性粒子分散于通过硬化处理可变为弹性高分子物质的液态高分子形成材料中;以及在变为连接用导电部分和变成被支撑部分的部分上对成形材料层施加高强度的磁场,由此在成形材料层中变为连接用导电部分的部分中聚集导电性粒子,并使得至少存在于成形材料层中的变为被支撑部分的部分中的导电性粒子保留在这些部分中,并且使导电性粒子沿厚度方向取向,并且在这种状态中,对成形材料层进行硬化处理以形成弹性各向异性导电膜。10.根据权利要求9的各向异性导电性连接器的制造方法,其特征在于,通过下列步骤在框板的各个各向异性导电膜配置用孔及其周边部分上形成成形材料层:准备包含上模和下模的模具,在该上模和下模上,已根据待形成的弹性各向异性导电膜中的连接用导电部分的图案所对应的图案分别形成了铁磁性物质;通过丝网印刷,用表现出磁性的导电性粒子分散于液态高分子-->形成材料中的成形材料对模具的上模和下模中的一个或两个的成形表面进行涂敷,其中,液态高分子形成材料将通过硬化处理可变为弹性高分子物质;以及通过框板使上模和下模相互重叠配置。11.一种各向异性导电性连接器的制造方法,用来制造根据权利要求1-7中的任意一项的各向异性导电性连接器,其特征在于包含下列步骤:准备框板,在该框板中,与电极区域相对应形成了沿框板的厚度方向延伸的多个各向异性导电膜配置用孔,在该电极区域中,已形成了作为检查对象的晶片中的集成电路的被检查电极;配置隔板,在该隔板中,在框板的一个面或两个表面上与所述弹性各向异性导电膜相对应形成沿框板的厚度方向延伸且形状与待形成的各个弹性各向异性导电膜的平面形状相适应的通孔;并在框板的各向异性导电膜配置用孔和隔板的通孔中形成用于形成弹性各向异性导电膜的成形材料层,在该成形材料中,表现出磁性的导电性粒子分散于通过硬化处理可变为弹性高分子物质的液态高分子形成材料中;以及在变为连接用导电部分和变成被支撑部分的部分上对成形材料层施加高强度的磁场,由此在成形材料层中变为连接用导电部分的部分中聚集导电性粒子,并使得至少存在于成形材料层中的变为被支撑部分的部分中的导电性粒子保留在这些部分中,并且使导电性粒子沿厚度方向取向,并且在这种状态中,对成形材料层进行硬化处理以形成弹性各向异性导电膜。12.根据权利要求11的各向异性导电性连接器的制造方法,其特征在于,通过下列步骤在框板的各个各向异性导电膜配置用孔及其隔板的通孔中形成成形材料层:准备包含上模和下模的模具,在该上模和下模上,已根据待形成的弹性各向异性导电膜中的连接用导电部分的图案所对应的图案分别形成了铁磁性物质;-->通过丝网印刷,用表现出磁性的导电性粒子分散于液态高分子形成材料中的成形材料对模具的上模和下模中的一个或两个的成形表面进行涂敷,其中,液态高分子形成材料将通过硬化处理可变为弹性高分子物质;以及通过框板和配置于框板的一个表面或两个表面上的隔板使上模和下模相互...
【专利技术属性】
技术研发人员:小久保辉一,妹尾浩司,直井雅也,井上和夫,
申请(专利权)人:JSR株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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