测试探头和电子顺磁共振谱仪制造技术

本发明专利技术公开了一种测试探头和电子顺磁共振谱仪，测试探头包括探头架、标样管和待测样品管，探头架内具有测试腔；标样管用于放置标准样品，标样管在第一位置和第二位置之间可运动地设于探头架；待测样品管用于放置待测样品，待测样品管设于测试腔内；其中，在第一位置，标样管完全位于测试腔内；在第二位置，标样管的至少容纳标准样品的部分位于测试腔之外。根据本发明专利技术实施例的测试探头，通过在探头架中设置可在第一位置和第二位置之间运动的标样管，可以使得作业人员可以根据标准样品的测量频段和待测样品的测量频段调节标样管的位置，保证测量结果的准确性，更为准确地测量出待测样品的信号强度。样品的信号强度。样品的信号强度。

【技术实现步骤摘要】
测试探头和电子顺磁共振谱仪


[0001]本专利技术涉及电子顺磁共振
，尤其是涉及一种测试探头和电子顺磁共振谱仪。

技术介绍

[0002]电子顺磁共振（electron paramagnetic resonance，EPR）是由不配对电子的磁矩发源的一种磁共振技术，可用于从定性和定量方面检测物质原子或分子中所含的不配对电子，并探索其周围环境的结构特性。电子顺磁共振谱仪主要分脉冲式和连续波式两种类型。连续波顺磁共振谱仪通过将待测样品放入恒定频率的微波场，通过改变外磁场频率得到连续波EPR谱线。
[0003]在电子顺磁共振实验中，为精确检测待测样品的探测信号强度，一般会实时对比测量标准样品。但是电子顺磁共振谱仪在测量某些与标准样品的测量频段至少部分重合的待测样品时，标准样品会影响待测样品的测量精度，导致待测样品的测量结果不准确。

技术实现思路

[0004]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种测试探头，通过在探头架中设置可在第一位置和第二位置之间运动的标样管，将标准样品设于标样管中，可以使得作业人员可以根据标准样品的测量频段和待测样品的测量频段调节标样管的位置，保证测量结果的准确性，更为准确地测量出待测样品的信号强度。
[0005]本专利技术还提出了一种具有上述测试探头的电子顺磁共振谱仪。
[0006]根据本专利技术第一方面实施例的测试探头，用于电子顺磁共振谱仪，测试探头包括：探头架，所述探头架内具有测试腔；用于放置标准样品的标样管，所述标样管在第一位置和第二位置之间可运动地设于所述探头架；用于放置待测样品的待测样品管，所述待测样品管设于所述测试腔内；其中，在所述第一位置，所述标样管的至少容纳所述标准样品的部分完全位于所述测试腔内；在所述第二位置，所述标样管的至少容纳所述标准样品的部分位于所述测试腔之外。
[0007]根据本专利技术实施例的测试探头，通过在探头架中设置可在第一位置和第二位置之间运动的标样管，将标准样品设于标样管中，在测量一些与标准样品测量频段不重合的待测样品时，将标样管置于第一位置，标准样品完全位于测试腔内，在检测待测样品的过程中，待测样品可以在被检测的同时与标准样品进行实时对比，保证测量结果的准确性，从而可以更为准确地测量出待测样品的信号强度；在测量某些与标准样品测量频段至少部分重合的待测样品时，将标样管置于第二位置，可以减少或避免标准样品对待测样品的测量结果的影响，使得待测样品的测量结果更为准确，从而可以更为准确地测量出待测样品的信号强度。这样可以使得作业人员可以根据标准样品的测量频段和待测样品的测量频段调节标样管的位置，保证测量结果的准确性，更为准确地测量出待测样品的信号强度。
[0008]根据本专利技术的一些实施例，所述标样管在所述第一位置和所述第二位置之间可移动。
[0009]根据本专利技术的一些实施例，所述第一位置和所述第二位置之间的间距范围为8
‑
12mm。
[0010]根据本专利技术的一些实施例，测试探头包括：驱动组件，所述驱动组件用于驱动所述标样管在所述第一位置和所述第二位置之间运动。
[0011]根据本专利技术的一些实施例，所述驱动组件包括：驱动机构；传动杆，所述驱动机构与所述标样管分别位于所述传动杆的长度方向上的相对两侧，所述传动杆的长度方向上的一端与所述驱动机构的输出轴相连；传动机构，所述传动机构可传动地连接在所述传动杆的长度方向上的另一端与所述标样管之间。
[0012]根据本专利技术的一些实施例，所述标样管在所述第一位置和所述第二位置之间可移动，所述传动杆的延伸方向垂直于所述标样管的移动方向。
[0013]根据本专利技术的一些实施例，所述标样管在所述第一位置和所述第二位置之间可移动，所述传动机构包括：传动齿轮，所述传动齿轮连接在所述传动杆的长度方向上的另一端；传动齿条，所述传动齿条设于所述标样管且沿所述标样管的移动方向延伸，所述传动齿条与所述传动齿轮啮合。
[0014]根据本专利技术的一些实施例，所述传动齿轮的旋转角度范围为220
‑
320
°
。
[0015]根据本专利技术的一些实施例，所述传动齿轮为塑料件；和/或，所述传动齿条为塑料件。
[0016]根据本专利技术的一些实施例，所述传动杆为金属件且为非磁性件。
[0017]根据本专利技术的一些实施例，所述驱动机构为空心杯电机。
[0018]根据本专利技术的一些可选地实施例，测试探头还包括：用于限定所述传动杆的转动角度的限位结构，所述限位结构设在所述探头架上，所述传动杆在第一转动位置和第二转动位置之间可转动，所述限位结构位于所述第一转动位置和所述第二转动位置之间，在所述标样管位于所述第一位置时，所述传动杆位于所述第一转动位置且所述传动杆与所述限位结构在所述传动杆的周向上抵接；在所述标样管位于所述第二位置时，所述传动杆位于所述第二转动位置且所述传动杆与所述限位结构在所述传动杆的周向上抵接。
[0019]在本专利技术的一些可选地实施例中，所述驱动组件还包括：联轴器，所述联轴器设在所述驱动机构的输出轴与所述传动杆的一端之间，在所述传动杆位于所述第一转动位置且所述驱动机构驱动的输出轴朝向限位结构的方向转动时以及在所述传动杆位于所述第二转动位置且所述驱动机构驱动的输出轴朝向所述限位结构的方向转动时，所述联轴器与所述传动杆之间不具有传动关系。
[0020]在本专利技术的一些可选地实施例中，所述联轴器包括轴套，所述轴套为弹性体，所述轴套套设在所述驱动机构的输出轴的外周侧且相对所述驱动机构的输出轴固定，所述传动杆的一端具有配合孔，所述轴套设在所述配合孔内。
[0021]根据本专利技术第二方面实施例的电子顺磁共振谱仪，包括：根据本专利技术第一方面实施例的测试探头。
[0022]根据本专利技术实施例的电子顺磁共振谱仪，通过设置上述的测试探头，可以保证测
量结果的准确性，更为准确地测量出待测样品的信号强度。
[0023]本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0024]图1是根据本专利技术实施例的测试探头的立体图；图2是根据本专利技术实施例的驱动组件和标样管的立体图；图3是图1中的测试探头的主视图；图4是图1中的测试探头的俯视图；图5是沿图4中A
‑
A线的剖视图；图6是图2中的驱动组件的立体图；图7是沿图6中B
‑
B线的剖视图。
[0025]附图标记：100、测试探头；1、探头架；11、测试腔；12、限位结构；2、标样管；3、待测样品管；4、驱动组件；41、驱动机构；411、输出轴；42、传动杆；421、限位件；43、传动机构；431、传动齿轮；432、传动齿条；44、联轴器；441、轴套。
具体实施方式
[0026]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试探头，用于电子顺磁共振谱仪，其特征在于，包括：探头架，所述探头架内具有测试腔；用于放置标准样品的标样管，所述标样管在第一位置和第二位置之间可运动地设于所述探头架；用于放置待测样品的待测样品管，所述待测样品管设于所述测试腔内；其中，在所述第一位置，所述标样管的至少容纳所述标准样品的部分完全位于所述测试腔内；在所述第二位置，所述标样管的至少容纳所述标准样品的部分位于所述测试腔之外。2.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述标样管在所述第一位置和所述第二位置之间可移动。3.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，包括：驱动组件，所述驱动组件用于驱动所述标样管在所述第一位置和所述第二位置之间运动。4.根据权利要求3所述的测试探头，其特征在于，所述驱动组件包括：驱动机构；传动杆，所述驱动机构与所述标样管分别位于所述传动杆的长度方向上的相对两侧，所述传动杆的长度方向上的一端与所述驱动机构的输出轴相连；传动机构，所述传动机构可传动地连接在所述传动杆的长度方向上的另一端与所述标样管之间。5.根据权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述标样管在所述第一位置和所述第二位置之间可移动，所述传动杆的延伸方向垂直于所述标样管的移动方向。6.根据权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述标样管在所述第一位置和所述第二位置之间可移动，所述传动机构包括：传动齿轮，所述传动齿轮连接在所述传动杆的长度方向上的另一端；传动齿条，所述传动齿条设于所述标样管且沿所述标样管的移动方向延伸，所述传动齿条与所述传动齿轮啮合。7.根据权利要求6所述的测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡江波，吴俊峰，
申请(专利权)人：国仪量子合肥技术有限公司，
类型：发明
国别省市：