一种集成电路制程布局可靠性的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于集成电路检测技术领域，且公开了一种集成电路制程布局可靠性的测试装置，包括放置台，所述放置台的顶部开设有放置槽，所述放置槽的内壁设置有限位板，所述放置槽的顶部开设有底槽，所述放置台的内部开设有导电内腔，所述导电内腔的内部固定安装有一号导电柱和二号导电柱，所述一号导电柱和二号导电柱的外表面分别活动套接有一号滑块和二号滑块，所述一号滑块和二号滑块的底部均固定连接有导电轻质弹簧。本实用新型专利技术通过使得一号接线和二号接线在接入测试电路后接头可与集成电路板的针脚接触并形成通路，而一号滑块和二号滑块则能通过移动来适配不同类型针脚的集成电路板，具有适用性强的优点。具有适用性强的优点。具有适用性强的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路制程布局可靠性的测试装置


[0001]本技术属于集成电路检测
，具体是一种集成电路制程布局可靠性的测试装置。

技术介绍

[0002]集成电路指的是采用一定的工艺，将电路中所需的晶体管、电阻和电容等原件及布线连在一起形成通路的一种电子器件，一般制作在一小块或几小块半导体晶片，高度集成化，而集成电路在成型后需要对其进行制成布局的可靠性检测，即接通电路并连入测试电路然后进行检测。
[0003]目前，集成电路制程布局可靠性的测试装置的连接模块一般为固定的，通过连接模块的连接件与集成电路板上的针脚连接并通电，由于连接模块固定，使得检测装置只能检测特定的集成电路，缺乏适用性；同时，一旦电路异常并电流变大便会烧坏电路，而现有的检测装置缺乏相应的电路保护措施，具有很大的危险性。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是针对以上问题，本技术提供了一种集成电路制程布局可靠性的测试装置，具有适用性强和保护效果好的优点。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路制程布局可靠性的测试装置，包括放置台，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路制程布局可靠性的测试装置，包括放置台(1)，其特征在于：所述放置台(1)的顶部开设有放置槽(2)，所述放置槽(2)的内壁设置有限位板(3)，所述放置槽(2)的顶部开设有底槽(4)，所述放置台(1)的内部开设有导电内腔(18)，所述导电内腔(18)的内部固定安装有一号导电柱(6)和二号导电柱(7)，所述一号导电柱(6)和二号导电柱(7)的外表面分别活动套接有一号滑块(9)和二号滑块(10)，所述一号滑块(9)和二号滑块(10)的底部均固定连接有导电轻质弹簧(12)，所述导电轻质弹簧(12)的另一端固定连接有连接片(13)和接头(14)，所述一号导电柱(6)和二号导电柱(7)另一端分别固定连接有一号接线(17)和二号接线(8)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路制程布局可靠性的测试装置，其特征在于：所述放置槽(2)的正面开设有两个通槽(16)，所述二号滑块(10)和一号滑块(9)分别位于上下两个通槽(16)中，所述放置台(1)内壁的前后端均固定套接有套圈(5)，所述一号导电柱(6)和二号导电柱(7)均通过套圈(5)固定安装在放置台(1)的内壁，所述一号滑块(9)和二号滑块(10)底部的左侧均固定安装有...

【专利技术属性】
技术研发人员：周华，谢勰，
申请(专利权)人：深圳市华思科泰电子有限公司，
类型：新型
国别省市：