机器人的工具坐标的校准方法和装置、机器人和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种机器人的工具坐标的校准方法和装置、机器人和存储介质。其中，一种机器人的工具坐标的校准方法，机器人包括光电传感器，光电传感器用于产生光线，方法包括：响应于工具校准指令，控制机器人驱动工具按照第一轨迹运动，获取工具穿过光线时的交点的第一坐标信息；根据第一坐标信息，校准工具的坐标值。本申请通过在机器人的工具发生改变或碰撞，可能导致工具坐标发生变化时，对工具坐标进行自动的再校准，从而保证工具坐标值准确无误，能够保证机器人的加工精度，提高机器人的工作效率和加工良品率。率和加工良品率。率和加工良品率。

【技术实现步骤摘要】
机器人的工具坐标的校准方法和装置、机器人和存储介质


[0001]本专利技术涉及机器人控制
，具体而言，涉及一种机器人的工具坐标的校准方法和装置、机器人和存储介质。

技术介绍

[0002]在相关技术中，机器人在工业生产过程中，需要在法兰上安装工具进行实际的加工工作。工具坐标校准的精确程度直接影响机器人的加工精度。如果在加工过程中，工具发生更换，或工具出现了碰撞，会导致工具校准失效。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
[0004]为此，本专利技术的第一方面提出一种机器人的工具坐标的校准方法。
[0005]本专利技术的第二方面提出一种机器人的工具坐标的校准装置。
[0006]本专利技术的第三方面提出一种机器人。
[0007]本专利技术的第四方面提出一种可读存储介质。
[0008]本专利技术的第五方面提出另一种机器人。
[0009]有鉴于此，本专利技术的第一方面提供了一种机器人的工具坐标的校准方法，机器人包括光电传感器，光电传感本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种机器人的工具坐标的校准方法，其特征在于，所述机器人包括光电传感器，所述光电传感器用于产生光线，所述方法包括：响应于工具校准指令，控制所述机器人驱动所述工具按照第一轨迹运动，获取所述工具穿过所述光线时的交点的第一坐标信息；根据所述第一坐标信息，校准所述工具的坐标值。2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，在所述响应于工具校准指令之前，所述方法还包括：确定所述工具的原始坐标值。3.根据权利要求2所述的校准方法，其特征在于，所述光线包括第一光线和第二光线，其中，所述第一光线和所述第二光线垂直相交，所述第一光线和所述第二光线的交点为参考点；所述确定所述工具的原始坐标值，包括：根据所述参考点标定所述机器人的原点坐标；控制所述机器人驱动所述工具由所述原点坐标出发，在第一水平面中按照第二轨迹运动，得到所述工具与所述第一光线和所述第二光线的第一交点坐标；控制所述机器人驱动所述工具在第二水平面中按照第三轨迹运动运动，得到所述工具与所述第一光线和所述第二光线的第二交点坐标；控制所述机器人驱动所述工具按照第四轨迹运动，得到所述工具与所述第一光线和所述第二光线的第三交点坐标；根据所述第一交点坐标、所述第二交点坐标和所述第三交点坐标确定所述原始坐标值。4.根据权利要求3所述的校准方法，其特征在于，所述第一水平面和所述第二水平面的高度差为第一差值。5.根据权利要求3所述的校准方法，其特征在于，还包括：控制所述机器人驱动所述工具由所述原点运动至所述参考点；基于所述第一光线和所述第二光线均被所述工具遮挡，确定所述原始坐标校准完成。6.根据权利要求3所述的校准方法，其特征在于，所述第二轨迹和所述第三轨迹均包括两个半矩形轨迹，所述第四轨迹为矩形轨迹。7.根据权利要求4至6中任一项所述的校准方法，其特征在于，所述第一轨迹为矩形轨迹；所述控制所述机器人驱动所述工具按照第一轨迹运动，获取所述工具穿过所述光线时的交点的第一坐标信息，包括：控制所述机器人驱动所述工具在第三水平面按照所述矩形轨迹运动，确定所述工具与所述第一光线和所述第二光线的第四交点坐标；控制所述机器人驱动所述工具在第四水平面按照所述矩形轨迹运动，确定所述工具与所述第一光线和所述第二光线的第五交点坐标，其中，所述第四水平面与所述第三水平面的高度差为第二差值；控制所述机器人驱动所述工具按照所述矩形轨迹再次运动，确定所述工具与所述第一光线和所述第二光线的第六交点坐标；
控制所述机器人驱动所述工具由所述原点出发垂直运动，以使所述工具的高度下降所述第二差值，确定所述工具与所述第一光线和所述第二光线的第七交点坐标。8.根据权利要求3至6中任一项所述的校准方法，其特征在于，在所述确定所述工具的原始坐标值之前，所述方法还包括：标定所述机器人的工具坐标系；以及校准所述机器人的...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐舟，夏俊超，
申请(专利权)人：库卡机器人制造上海有限公司，
类型：发明
国别省市：