半导体制冷组件温差及最大电流自动测试装置制造方法及图纸

技术编号:32626881 阅读:15 留言:0更新日期:2022-03-12 18:00
本实用新型专利技术涉及半导体制冷片技术领域,特别涉及半导体制冷组件温差及最大电流自动测试装置,包括测试台、温度检测组件和制冷组件;测试台包括底座、升降机和压板,底座上面设置有卡槽,制冷组件固定在卡槽内;压板固定在升降机上,压板下压固定制冷组件,温度检测组件包括第一检测探头、第二检测探头、电流采集器、直流电源、主机,第一检测探头和第二检测探头分别安装在卡槽和压板上,主机通信连接电流采集器、第一检测探头和第二检测探头,本实用新型专利技术实现了可自动记录最大电流,判断温差恒定,保证制冷性能测试参数的全面性,提高测试效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
半导体制冷组件温差及最大电流自动测试装置


[0001]本技术涉及半导体制冷片
,特别涉及半导体制冷组件温差及最大电流自动测试装置。

技术介绍

[0002]半导体制冷组件一般是由半导体制冷片构成,半导体制冷片是一种由半导体所组成的一种冷却装置,利用半导体材料的特性,当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时,在电偶的两端分别吸收热量和放出热量实现制冷的目的。
[0003]现有技术的半导体制冷组件,在产品出厂前需要对其进行温差检测,当半导体制冷组件上的温差不在预设阈值内时,即判断产品不合格,现有的半导体制冷组件温差检测装置,在检测的过程中,其自动化程度较低,在对半导体制冷组件进行温差测试时,通过电源给定的电流值测试温度变化,并观察记录数据,无法具体观察到温差变化路线和电流变化路线,温差检测装置无法自动记录最大电流,判断温差恒定,会导致制冷性能测试参数不全面、测试效率偏低的问题。

技术实现思路

[0004]为此,需要提供一种半导体制冷组件温差及最大电流自动测试装置,解决温差检测装置无法自动记录最大电流,判断温差恒定,制冷性能测试参数不全面、测试效率偏低的问题。
[0005]为实现上述目的,本技术提供了半导体制冷组件温差及最大电流自动测试装置,包括测试台、温度检测组件和制冷组件;所述测试台包括底座、升降机和压板,所述底座上面设置有卡槽,所述制冷组件固定在卡槽内;所述升降机固定在底座的侧边,所述压板固定在升降机上,所述压板下压固定制冷组件;所述温度检测组件包括第一检测探头、第二检测探头、电流采集器、直流电源、主机,所述第一检测探头和第二检测探头分别安装在卡槽和压板上,所述第一检测探头和第二检测探头分别与制冷组件的上下表面相贴合;所述主机安装在底座的侧边,所述电流采集器和直流电源安装在主机的侧边,所述主机通信连接电流采集器、第一检测探头和第二检测探头,所述直流电源电性连接第一检测探头、第二检测探头、主机、制冷组件和电流采集器,采用温度检测组件采集测试过程中的温差变化和电流变化,电流采集器、第一检测探头和第二检测探头将数据反馈给主机进行数据分析处理,自动记录最大电流,判断温差恒定,保证制冷性能测试参数的全面性。
[0006]进一步的,所述主机包括显示屏和数据处理器,所述数据处理器通信连接显示屏、电流采集器、第一检测探头和第二检测探头,通过数据处理器进行数据分析处理,提高测试效率。
[0007]进一步的,所述卡槽底面和压板底面分布设有第一探头安装槽和第二探头安装槽,所述第一探头安装槽和第二探头安装槽内固定有绝缘弹性垫,所述第一检测探头和第二检测探头分别安装在第一探头安装槽和第二探头安装槽内绝缘弹性垫上,所述第一测探
头和第二检测探头分别凸出于安装的第一探头安装槽和第二探头安装槽,利用弹性垫弹性确保制冷组件的上下表面能跟第一检测探头和第二检测探头能够相贴合,防止接触不良导致实验数据不稳定。
[0008]进一步的,还包括有两个导电夹头,所述卡槽的深度小于制冷组件的厚度,所述导电夹头一端连接制冷组件,所述导电夹头另一端电性连接直流电源,利用导电夹头连接制冷组件和直流电源,简化测试线路安装,防止线路接触不良,提高测试效率。
[0009]进一步的,所述直流电源为60V三路输出可编程直流电源,所述直流电源包括一路电源、二路电源和三路电源,所述一路电源与第一检测探头和第二检测探头连接,所述二路电源与主机连接,所述三路电源与导电头和电流采集器连接,采用可编程直流电源集中供电,保证电流的稳定性。
[0010]进一步的,所述升降机包括升降气缸、轨道、滑块和水平横杆,所述轨道竖直固定在底座一侧,所述升降气缸竖直固定在轨道的底端,所述滑块滑动设置在轨道上,所述滑块与升降气缸的输出轴固定连接,所述水平横杆的两端分别与滑块和压板相固定,利用升降机控制压板下压固定制冷组件,安装测试方便,利用升降气缸带动升降机进行升降结构简单,安装方面。
[0011]进一步的,所述轨道顶端设置有两个相对的滚轮,所述滑块相对的两侧设有滑槽,所述滚轮与滑块的滑槽相配合,利用滚轮进行滑动摩擦,减小摩擦力,提高耐磨性,提高升降机的使用寿命。
[0012]进一步的,所述测试台的下表面设有与卡槽位置相对应的通槽,所述通槽内固定有多个的散热片,用于对底座和制冷组件进行散热,避免影响后续制冷组件的检测,提升测试环境的稳定性和统一性。
[0013]区别于现有技术,上述技术方案具有以下有益效果:采用温度检测组件采集测试过程中的温差变化和电流变化,电流采集器、第一检测探头和第二检测探头将数据反馈给主机进行数据分析处理,自动记录最大电流,判断温差恒定,保证制冷性能测试参数的全面性。
附图说明
[0014]图1为具体实施方式所述整体主视图;
[0015]图2为图1中A部分的放大图;
[0016]图3为具体实施方式所述升降机的整体图;
[0017]图4为具体实施方式所述升降机的俯视图;
[0018]图5为具体实施方式所述直流电源的线路图。
[0019]附图标记说明:
[0020]1、测试台,101、底座,1011、卡槽,1012、第一探头安装槽,1013、绝缘弹性垫,102、升降机,1021、升降气缸,1022、轨道,1023、滑块,1024、水平横杆,1025、滑槽,1026、滚轮,103、压板,1031、第二探头安装槽,104、导电夹头,105、通槽,2、温度检测组,201、第一检测探头,202、第二检测探头,203、电流采集器,204、直流电源,205、主机,2051、数据处理器,2052、显示屏,3、制冷组件,4、散热片。
具体实施方式
[0021]为详细说明技术方案的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果,以下结合具体实施例并配合附图详予说明。
[0022]请参阅图1

5,本实施例公开半导体制冷组件温差及最大电流自动测试装置,包括测试台1、温度检测组件2和制冷组件3;测试台1包括底座101、升降机102和压板103,底座101上面设置有卡槽1011,制冷组件3固定在卡槽1011内;升降机102固定在底座101的侧边,压板103固定在升降机102上,压板103下压固定制冷组件3;温度检测组件2包括第一检测探头201、第二检测探头202、电流采集器203、直流电源204、主机205,第一检测探头201和第二检测探头202分别安装在卡槽1011和压板103上,第一检测探头201和第二检测探头202分别与制冷组件3的上下表面相贴合;主机205安装在底座101的侧边,电流采集器203和直流电源204安装在主机205的侧边,主机205通信连接电流采集器203、第一检测探头201和第二检测探头202,直流电源204电性连接第一检测探头201、第二检测探头202、主机205、制冷组件3和电流采集器203,采用温度检测组件2采集测试过程中的温差变化和电流变化,电流采集器203、第一检测探头201和第二检测探头202将数据本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.半导体制冷组件温差及最大电流自动测试装置,其特征在于,包括测试台、温度检测组件和制冷组件;所述测试台包括底座、升降机和压板,所述底座上面设置有卡槽,所述制冷组件固定在卡槽内;所述升降机固定在底座的侧边,所述压板固定在升降机上,所述压板下压固定制冷组件;所述温度检测组件包括第一检测探头、第二检测探头、电流采集器、直流电源、主机,所述第一检测探头和第二检测探头分别安装在卡槽和压板上,所述第一检测探头和第二检测探头分别与制冷组件的上下表面相贴合;所述主机安装在底座的侧边,所述电流采集器和直流电源安装在主机的侧边,所述主机通信连接电流采集器、第一检测探头和第二检测探头,所述直流电源电性连接第一检测探头、第二检测探头、主机、制冷组件和电流采集器。2.根据权利要求1所述的半导体制冷组件温差及最大电流自动测试装置,其特征在于,所述主机包括显示屏和数据处理器,所述数据处理器通信连接显示屏、电流采集器、第一检测探头和第二检测探头。3.根据权利要求1所述的半导体制冷组件温差及最大电流自动测试装置,其特征在于,所述卡槽底面和压板底面分布设有第一探头安装槽和第二探头安装槽,所述第一探头安装槽和第二探头安装槽内固定有绝缘弹性垫,所述第一检测探头和第二检测探头分别安装在第一探头安装槽和第二探头安装槽内绝缘弹性垫上,所述第一测探头和第二检测探头分别凸...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈天顺
申请(专利权)人:鹏南科技厦门有限公司
类型:新型
国别省市:

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