【技术实现步骤摘要】
适用于非标准连接接口转接的检测系统
[0001]一种检测系统,尤其是指一种适用于非标准连接接口转接的检测系统。
技术介绍
[0002]目前主机板测试中,当主机板的非标准连接接口进行测试时,对于不同的非标准连接接口需要通过对应非标接口使用特定的连接线,才能将非标准连接接口连接至标准BSI开发测试治具转接卡,再通过标准BSI开发测试治具以进行对应的测试。
[0003]在上述测试条件,需要针对每一种非标准连接接口订制特定的连接线,然而非标准连接接口的仅能在特定订制下才会被使用,进而导致特定连接线的订制上来说也存在成本高昂且会受限于非标准连接接口的专利权限制,导致特定连接线订制不便。
[0004]进一步来说,特定连接线与非标准连接接口一般是使用金属卡扣的方式以进行电性连接,在测试过程中的反复连接以及移除的过程易造成非标准连接接口与特定连接线的卡扣结构容易产生损坏,导致会产生出非标准连接接口不正确的测试结果。
[0005]综上所述,可知现有技术中长期以来一直存在主机板的非标准连接接口检测不便且检测结果准确性不足 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种适用于非标准连接接口转接的检测系统,其特征在于,所述适用于非标准连接接口转接的检测系统包含:一主机板,所述主机板具有多个主机板非标准连接接口,所述主机板非标准连接接口相连的电路种类比例不相同;一转接卡,所述转接卡更包含:一非标准连接接口,用以与所述主机板非标准连接接口其中之一形成电性连接;一第一标准连接接口,所述第一标准连接接口与所述非标准连接接口形成电性连接;及多个固定槽,分别配置于所述转接卡;一第一组合件,所述第一组合件具有多个卡扣件,所述第一组合件的所述卡扣件的位置与所述转接卡的所述固定槽的位置一一对应,所述第一组合件的所述卡扣件穿过所述转接卡的所述固定槽以使所述第一组合件与所述转接卡彼此卡扣固定组合;一第二组合件,所述第二组合件具有多个卡扣槽以及一标准连接接口穿槽,所述第一组合件与所述转接卡彼此形成卡扣固定,所述第一组合件的所述卡扣件再穿过所述第二组合件的所述卡扣槽以及所述第一标准连接接口穿过所述标准连接接口穿槽以使所述第一组合件、所述转接卡以及所述第二组合件彼此卡扣固定组合;一标准测试转接卡,所述标准测试转接卡更包含:多个第二标准连接接口,所述第二标准连接接口具有不相同的脚位数量,依据所述第二标准连接接口的脚位数量以及所述主机板非标准连接接口相连的电路种类比例选择与所述第一标准连接接口形成电性连接的所述第二标准连接接口以进行电性连接;及多个第一标准BSI开发测试治具连接接口,所述第一标准BSI开发测试治具连接接口与所述第二标准连接接口形成电性连接;及一标准BSI开发测试治具,具备一第二标准BSI开发测试治具连接接口,所述标准BSI开发测试治具通过所述第二标准BSI开发测试治具连接接口与所述第一标准BSI开发测试治具连接接口形成电性连接,以对所述主机板对应的所述主机板非标准连接接口进行测试。2.如权利要求1所述的适用于非标准连接接口转接的检测系统,其特征在于,所述电路种类是选自由拉电阻、下拉电阻、整流电路、单/双向控...
【专利技术属性】
技术研发人员:张琳,
申请(专利权)人:英业达股份有限公司英业达集团天津电子技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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