本发明专利技术公开了一种适用于非标准连接接口转接的检测系统，第一组合件的卡扣件穿过转接卡的固定槽以使第一组合件与转接卡彼此卡扣固定组合，第一组合件的卡扣件再穿过第二组合件的卡扣槽以使第一组合件、转接卡以及第二组合件彼此卡扣固定组合，主机板与转接卡彼此电性连接，转接卡与标准测试转接卡彼此电性连接，标准测试转接卡再与标准BSI开发测试治具彼此电性连接，借此可以达成提供转接卡的限位保护且提高非标准连接接口检测稳定性的技术功效。功效。功效。
【技术实现步骤摘要】
适用于非标准连接接口转接的检测系统
[0001]一种检测系统，尤其是指一种适用于非标准连接接口转接的检测系统。
技术介绍
[0002]目前主机板测试中，当主机板的非标准连接接口进行测试时，对于不同的非标准连接接口需要通过对应非标接口使用特定的连接线，才能将非标准连接接口连接至标准BSI开发测试治具转接卡，再通过标准BSI开发测试治具以进行对应的测试。
[0003]在上述测试条件，需要针对每一种非标准连接接口订制特定的连接线，然而非标准连接接口的仅能在特定订制下才会被使用，进而导致特定连接线的订制上来说也存在成本高昂且会受限于非标准连接接口的专利权限制，导致特定连接线订制不便。
[0004]进一步来说，特定连接线与非标准连接接口一般是使用金属卡扣的方式以进行电性连接，在测试过程中的反复连接以及移除的过程易造成非标准连接接口与特定连接线的卡扣结构容易产生损坏，导致会产生出非标准连接接口不正确的测试结果。
[0005]综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在主机板的非标准连接接口检测不便且检测结果准确性不足的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。
技术实现思路
[0006]有鉴于现有技术存在主机板的非标准连接接口检测不便且检测结果准确性不足的问题，本专利技术遂公开一种适用于非标准连接接口转接的检测系统，其中：
[0007]本专利技术所公开的适用于非标准连接接口转接的检测检测系统，其包含：主机板、转接卡、第一组合件、第二组合件、标准测试转接卡以及标准BSI开发测试治具，转接卡更包含：非标准连接接口、第一标准连接接口以及多个固定槽；标准测试转接卡更包含：多个第二标准连接接口以及第一标准BSI开发测试治具连接接口。
[0008]主机板具有多个主机板非标准连接接口，主机板非标准连接接口相连的电路种类比例不相同。
[0009]转接卡的非标准连接接口是用以与主机板非标准连接接口其中之一形成电性连接；转接卡的第一标准连接接口与转接卡的非标准连接接口形成电性连接；及转接卡的多个固定槽分别配置于转接卡。
[0010]第一组合件具有多个卡扣件，第一组合件的卡扣件的位置与转接卡的固定槽的位置一一对应，第一组合件的卡扣件穿过转接卡的固定槽以使第一组合件与转接卡彼此卡扣固定组合。
[0011]第二组合件具有多个卡扣槽以及标准连接接口穿槽，第一组合件与转接卡彼此形成卡扣固定，第一组合件的卡扣件再穿过第二组合件的卡扣槽以及第一标准连接接口穿过标准连接接口穿槽以使第一组合件、转接卡以及第二组合件彼此卡扣固定组合。
[0012]标准测试转接卡的多个第二标准连接接口具有不相同的脚位数量，依据第二标准连接接口的脚位数量以及主机板非标准连接接口相连的电路种类比例选择与第一标准连
接接口形成电性连接的第二标准连接接口以进行电性连接；及标准测试转接卡的第一标准BSI开发测试治具连接接口与第二标准连接接口形成电性连接。
[0013]标准BSI开发测试治具具备第二标准BSI开发测试治具连接接口，标准BSI开发测试治具通过第二标准BSI开发测试治具连接接口与第一标准BSI开发测试治具连接接口形成电性连接，以对主机板对应的主机板非标准连接接口进行测试。
[0014]本专利技术所公开的系统如上，与现有技术之间的差异在于第一组合件的卡扣件穿过转接卡的固定槽以使第一组合件与转接卡彼此卡扣固定组合，第一组合件的卡扣件再穿过第二组合件的卡扣槽以使第一组合件、转接卡以及第二组合件彼此卡扣固定组合，主机板与转接卡彼此电性连接，转接卡与标准测试转接卡彼此电性连接，标准测试转接卡再与标准BSI开发测试治具彼此电性连接，借以提供转接卡的限位保护且提高非标准连接接口检测稳定性。
[0015]通过上述的技术手段，本专利技术可以达成提供转接卡的限位保护且提高非标准连接接口检测稳定性的技术功效。
附图说明
[0016]图1为本专利技术适用于非标准连接接口转接的检测系统的系统方块图。
[0017]图2为本专利技术适用于非标准连接接口转接的检测的转接卡立体图。
[0018]图3为本专利技术适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件立体图。
[0019]图4为本专利技术适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件与转接卡立体组合图。
[0020]图5为本专利技术适用于非标准连接接口转接的检测的第二组合件立体图。
[0021]图6为本专利技术适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件、转接卡以及第二组合件立体组合图。
[0022]图7为本专利技术适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件立体组合图。
[0023]图8为本专利技术适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件、转接卡以及第二组合件平面组合图。
[0024]其中，附图标记：
[0025]10
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主机板
[0026]11
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非标准连接接口
[0027]20
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转接卡
[0028]21
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非标准连接接口
[0029]22
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第一标准连接接口
[0030]23
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固定槽
[0031]24
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底边
[0032]30
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第一组合件
[0033]31
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卡扣件
[0034]311
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卡槽
[0035]32
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防护导件
[0036]33
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底边
[0037]40
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第二组合件
[0038]41
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卡扣槽
[0039]42
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标准连接接口穿槽
[0040]43
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底边
[0041]50
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标准测试转接卡
[0042]51
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第二标准连接接口
[0043]52
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第一标准BSI开发测试治具连接接口
[0044]60
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标准BSI开发测试治具
[0045]61
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第二标准BSI开发测试治具连接接口
具体实施方式
[0046]以下将配合图式及实施例来详细说明本专利技术的实施方式，借此对本专利技术如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。
[0047]以下首先要说明本专利技术所公开的适用于非标准连接接口转接的检测系统，并请参考图1所示，图1为本专利技术适用于非标准连接接口转接的检测系统的系统方块图。
[0048]本专利技术所公开的适用于非标准连接接口转接的检测系统，其包含：主机板10、转接卡20、第一组合件30、第二组合件40、标准测试转接卡50以及标准BSI本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种适用于非标准连接接口转接的检测系统，其特征在于，所述适用于非标准连接接口转接的检测系统包含：一主机板，所述主机板具有多个主机板非标准连接接口，所述主机板非标准连接接口相连的电路种类比例不相同；一转接卡，所述转接卡更包含：一非标准连接接口，用以与所述主机板非标准连接接口其中之一形成电性连接；一第一标准连接接口，所述第一标准连接接口与所述非标准连接接口形成电性连接；及多个固定槽，分别配置于所述转接卡；一第一组合件，所述第一组合件具有多个卡扣件，所述第一组合件的所述卡扣件的位置与所述转接卡的所述固定槽的位置一一对应，所述第一组合件的所述卡扣件穿过所述转接卡的所述固定槽以使所述第一组合件与所述转接卡彼此卡扣固定组合；一第二组合件，所述第二组合件具有多个卡扣槽以及一标准连接接口穿槽，所述第一组合件与所述转接卡彼此形成卡扣固定，所述第一组合件的所述卡扣件再穿过所述第二组合件的所述卡扣槽以及所述第一标准连接接口穿过所述标准连接接口穿槽以使所述第一组合件、所述转接卡以及所述第二组合件彼此卡扣固定组合；一标准测试转接卡，所述标准测试转接卡更包含：多个第二标准连接接口，所述第二标准连接接口具有不相同的脚位数量，依据所述第二标准连接接口的脚位数量以及所述主机板非标准连接接口相连的电路种类比例选择与所述第一标准连接接口形成电性连接的所述第二标准连接接口以进行电性连接；及多个第一标准BSI开发测试治具连接接口，所述第一标准BSI开发测试治具连接接口与所述第二标准连接接口形成电性连接；及一标准BSI开发测试治具，具备一第二标准BSI开发测试治具连接接口，所述标准BSI开发测试治具通过所述第二标准BSI开发测试治具连接接口与所述第一标准BSI开发测试治具连接接口形成电性连接，以对所述主机板对应的所述主机板非标准连接接口进行测试。2.如权利要求1所述的适用于非标准连接接口转接的检测系统，其特征在于，所述电路种类是选自由拉电阻、下拉电阻、整流电路、单/双向控...
【专利技术属性】
技术研发人员：张琳，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司英业达集团天津电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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