芯片异常检测用翻转机构制造技术

本实用新型专利技术公开了芯片异常检测用翻转机构，包括拉动单元、导向单元、翻转单元、检测单元和机架，所述机架上固定连接有检测单元，所述机架上转动设置有用于改变拉动单元与检测单元之间位置的翻转单元，所述翻转单元固定连接有用于为拉动单元导向的导向单元，所述拉动单元与所述导向单元滑动连接。本实用新型专利技术的有益效果是，检测单元可以对其他位置进行图像信息的采集，可以更加准确的采集框架不同位置的异常信息。异常信息。异常信息。

【技术实现步骤摘要】
芯片异常检测用翻转机构


[0001]本技术涉及芯片封装
，特别是芯片异常检测用翻转机构。

技术介绍

[0002]芯片封装时，在框架上面焊片、焊线、点胶。检测框架异常：是否存在断线、漏线、漏点胶、点胶厚度是否标准、漏芯片未焊。这些工作结束后将框架放置在框架盒中储存，框架盒中的框架被拉动下到检测位置，检测是否存在断线、漏线、漏点胶、点胶厚度是否标准、漏芯片未焊，现有技术中，检测时框架保持水平位置，检测时只能在水平方向进行检测，并不能从各个方向进行检测，检测结果误差较大。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是为了解决上述问题，设计了芯片异常检测用翻转机构，包括拉动单元、导向单元、翻转单元、检测单元和机架，所述机架上固定连接有检测单元，所述机架上转动设置有用于改变拉动单元与检测单元之间位置的翻转单元，所述翻转单元固定连接有用于为拉动单元导向的导向单元，所述拉动单元与所述导向单元滑动连接。
[0004]进一步地，所述翻转单元包括驱动装置、转轴、翻转架和限位组件，所述转轴与所述机架转动连接，所述转轴端部固定连接有驱动装置，所述转轴上固定连接有翻转架，所述翻转架固定连接有所述导向单元。
[0005]进一步地，所述限位组件包括限位盘、套筒、限位杆和锁紧件，所述转轴上套设有限位盘，所述机架上还固定连接有套筒，限位杆依次穿过所述限位盘、所述机架和所述套筒，限位杆上沿周向设置有一凸出部，所述锁紧件与所述套筒固定连接。
[0006]进一步地，所述套筒端部开设有凹槽，所述锁紧件端部设置有与所述凹槽相适配的凸起。
[0007]进一步地，所述导向单元包括相对设置在所述机架上的导向杆，所述导向杆侧壁开设有容纳框架的导向槽。
[0008]进一步地，所述导向杆的进料端开设有定位槽，所述定位槽与所述导向槽相连通，所述定位槽沿所述导向杆端部向内延伸并且其宽度逐渐减小。
[0009]进一步地，所述拉动单元包括勾爪和与所述翻转单元固定连接的导轨，所述勾爪与所述导轨滑动连接。
[0010]进一步地，所述勾爪端部固定有定位杆。
[0011]利用本技术的技术方案制作的芯片异常检测用翻转机构，所达到的有益效果：拉动单元将框架拉动到检测位置进行异常检测，驱动装置带动翻转架转动，翻转架随着导向单元共同发生位置上的变化，框架处于两个相对的导向杆之间，发生位置上的变化，检测单元可以对其他位置进行图像信息的采集，可以更加准确的采集框架不同位置的异常信息。
附图说明
[0012]图1是本技术所述芯片异常检测用翻转机构的整体结构示意图；
[0013]图2是本技术拉动单元与导向单元的结构示意图；
[0014]图3是本技术勾爪的结构示意图；
[0015]图4是本技术翻转单元的结构示意图；
[0016]图5是本技术限位组件的内部结构示意图；
[0017]图6是本技术限位组件的局部放大图；
[0018]图中，1、拉动单元；11、勾爪；12、导轨；13、定位杆；14、把手；2、导向单元；21、导向杆；22、导向槽；23、定位槽；3、翻转单元；31、驱动装置；32、转轴；33、翻转架；34、限位组件；341、限位盘；342、套筒；343、限位杆；344、锁紧件；345、凸出部；346、凹槽；347、凸起；348、第一螺纹孔；349、第二螺纹孔；4、检测单元；5、机架；6、框架盒。
具体实施方式
[0019]为了更好的理解本技术，下面结合具体实施例和附图对本技术进行进一步的描述，芯片异常检测用翻转机构。如图1
‑
2所示，包括拉动单元1、导向单元2、翻转单元3、检测单元4和机架，所述机架上固定连接有检测单元4，所述机架上转动设置有用于改变拉动单元1与检测单元4之间位置的翻转单元3，所述翻转单元3固定连接有用于为拉动单元1导向的导向单元2，所述拉动单元1与所述导向单元2滑动连接。2工序在框架上进行焊片、焊线、点胶的工作，这些工作结束后将框架放置在框架盒中储存，框架盒中的框架在拉动单元1的拉动下从框架盒中脱出，进入到导向单元2中，并且到达检测位置，检测单元4可选择为检测相机，框架被运送至加测相机的工作区域内，检测框架异常：是否存在断线、漏线、漏点胶、点胶厚度是否标准、漏芯片未焊，检测时，在对框架的不同方位进行检测时，采用翻转单元3将框架的放置角度进行改变，使得检测单元4更容易捕捉到其他位置的图像信息。
[0020]如图2所示，所述拉动单元1包括勾爪11和与所述翻转单元3固定连接的导轨12，所述勾爪11与所述导轨12滑动连接。勾爪11上面固定有把手，拉动把手，使勾爪11沿导轨12移动，并且沿着导向单元2移动，直至到达检测位置。所述导向单元2包括相对设置在所述机架上的导向杆21，所述导向杆21侧壁开设有容纳框架的导向槽22。勾爪11沿着导轨12移动的同时，也进入到导向槽22内部，沿着导向槽22移动，导向杆21、导向槽22和导轨12相互配合，框架传送更加稳定。
[0021]如图2所示，所述导向杆21的进料端开设有定位槽23，所述定位槽23与所述导向槽22相连通，所述定位槽23沿所述导向杆21端部向内延伸并且其宽度逐渐减小。在框架开始进入导向槽22时，由于导向槽22端部设置有定位槽23，并且定位槽23的宽度沿导向杆21端部至导向槽22的方向尺寸由大逐渐过渡到小直到与导向槽22的尺寸保持一致，这使得框架在进入导向槽22之前先经过定位槽23，在进入导向槽22前起到一定的过渡作用，使框架进入导向槽22更加顺利。
[0022]如图3所示，所述勾爪11端部固定有定位杆13。框架盒与移动单元固定连接，移动单元可以改变框架盒的高度，勾爪11移动至框架盒附近时，框架盒在移动单元的作用下，勾爪11端部的定位杆13与框架上的孔洞相互配合，手持把手，使勾爪11携带着框架从框架盒中移出，直至到达检测位置。
[0023]如图4所示，所述翻转单元3包括驱动装置31、转轴32、翻转架33和限位组件34，所述转轴32与所述机架转动连接，所述转轴32端部固定连接有驱动装置31，所述转轴32上固定连接有翻转架33，所述翻转架33固定连接有所述导向单元2。在拉动单元1的带动下，框架被移送至检测位置，此时，框架处于水平位置放置，检测相机收集到框架的图像信息，对框架异常情况，例如：是否存在断线、漏线、漏点胶、点胶厚度是否标准、漏芯片未焊等进行检测，为进一步或许更为精确的图像信息，采用翻转单元3将框架翻转一定角度，框架相对于检测相机的位置进行改变，可以更加准确的采集框架不同位置的信息。具体地，驱动装置31可以选择为电机，驱动装置31带动转轴32转动，由于转轴32与翻转架33固定连接，于是翻转架33随之转动，翻转架33随着导向单元2共同发生位置上的变化，框架处于两个相对的导向杆21之间，发生位置上的变化，检测单元4便可以对其他位置进行图像信息的采集。
[0024]如图4
‑
6所示，所述限位组件34本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.芯片异常检测用翻转机构，其特征在于，包括拉动单元(1)、导向单元(2)、翻转单元(3)、检测单元(4)和机架，所述机架上固定连接有检测单元(4)，所述机架上转动设置有用于改变拉动单元(1)与检测单元(4)之间位置的翻转单元(3)，所述翻转单元(3)固定连接有用于为拉动单元(1)导向的导向单元(2)，所述拉动单元(1)与所述导向单元(2)滑动连接。2.根据权利要求1所述的芯片异常检测用翻转机构，其特征在于，所述翻转单元(3)包括驱动装置(31)、转轴(32)、翻转架(33)和限位组件(34)，所述转轴(32)与所述机架转动连接，所述转轴(32)端部固定连接有驱动装置(31)，所述转轴(32)上固定连接有翻转架(33)，所述翻转架(33)固定连接有所述导向单元(2)。3.根据权利要求2所述的芯片异常检测用翻转机构，其特征在于，所述限位组件(34)包括限位盘(341)、套筒(342)、限位杆(343)和锁紧件(344)，所述转轴(32)上套设有限位盘(341)，所述机架上固定连接有套筒(342)，限位杆(343)依次穿过所述限位盘(341)、所述机架和所述套筒(342...

【专利技术属性】
技术研发人员：印晴佳，
申请(专利权)人：上海屹壹电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：