集成电路设计方法、系统和计算机程序产品技术方案

本公开涉及集成电路设计方法、系统和计算机程序产品。一种方法至少部分地由处理器执行，所述方法包括从集成电路(IC)布局图中的多个路径创建路径的多个组。所述多个组中的每个组在所述多个路径的多个特征当中具有主要特征。所述多个组的所述主要特征彼此不同。所述方法还包括测试所述多个组当中的一个组中的至少一个路径。所述方法还包括响应于所述测试指示所述至少一个路径未通过，修改以下各项中的至少一项：所述IC布局图，具有包括在所述IC布局图中的单元的至少一个库的至少一部分，或用于制造与所述IC布局图相对应的IC的制造工艺。艺。艺。

【技术实现步骤摘要】
集成电路设计方法、系统和计算机程序产品


[0001]本公开涉及集成电路设计方法、系统和计算机程序产品。

技术介绍

[0002]集成电路(IC)通常包括在IC布局图中表示的多个半导体器件。IC布局图是分层的，并且包括根据半导体器件的设计规范执行更高级别功能的模块。这些模块通常由单元的组合构成，每个单元代表被配置为执行特定功能的一个或多个半导体结构。具有预先设计的布局图的单元(有时称为标准单元)存储在标准单元库(在下文中简称为“库”或“单元库”)，并可通过各种工具(例如电子设计自动化(EDA)工具)访问，以生成、优化和验证IC的设计。在IC设计过程期间的各个步骤中，执行各种检查和测试，以确保IC能够按照设计要求制造和起作用。

技术实现思路

[0003]根据本公开的一个实施例，提供了一种用于集成电路设计的方法，所述方法至少部分地由处理器执行，所述方法包括：从集成电路IC布局图中的多个路径创建路径的多个组，其中所述多个组中的每个组在所述多个路径的多个特征当中具有主要特征，并且所述多个组的所述主要特征彼此不同；测试所述多个组当中的一个组中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路设计的方法，所述方法至少部分地由处理器执行，所述方法包括：从集成电路IC布局图中的多个路径创建路径的多个组，其中所述多个组中的每个组在所述多个路径的多个特征当中具有主要特征，并且所述多个组的所述主要特征彼此不同；测试所述多个组当中的一个组中的至少一个路径；以及响应于所述测试指示所述至少一个路径未通过，修改以下各项中的至少一项：所述IC布局图，具有包括在所述IC布局图中的单元的至少一个库的至少一部分，或用于制造与所述IC布局图相对应的IC的制造工艺。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述修改不仅改变未通过所述测试的所述至少一个路径，而且还改变与所述至少一个路径相同的组中的其他路径。3.根据权利要求1所述的方法，还包括：针对所述组中的所述至少一个路径生成至少一个测试模式，其中，所述测试包括使用所生成的至少一个测试模式来测试所述至少一个路径。4.根据权利要求1所述的方法，其中：所述多个特征包括以下各项中的至少一项：所述IC布局图的静态时序分析STA的时序报告中的一个或多个时序特征，与所述IC布局图相对应的IC原理图中的一个或多个逻辑特征，或所述IC布局图中的元件的一个或多个物理特征。5.根据权利要求1所述的方法，还包括：从所述多个特征中去除至少一个特征以获得包括所述多个组的所述主要特征的简化特征集合。6.根据权利要求5所述的方法，其中：在所述去除中，所去除的至少一个特征包括在所述多个路径上没有变化的特征。7.根据权利要求5所述的方法，还包括：对于所述多个特征当中的每个特征，确定以下两者之间的相关系数：所述多个路径中的所述特征的值，以及所述多个路径中的松紧度的值，其中，在所述去除中，所去除的至少一个特征包括具有预定范围内的相关系数的特征。8.根据权利要求7所述的方法，其中：所述多个特征包括：具有数值值的数值特征，以及具有非数值值的分类特征，所述方法还包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：桑迪，
申请(专利权)人：台积电南京有限公司，
类型：发明
国别省市：