一种干涉滤光片全视场透过率扫描测试装置制造方法及图纸

技术编号:32571007 阅读:20 留言:0更新日期:2022-03-09 16:58
本实用新型专利技术公开了一种干涉滤光片全视场透过率扫描测试装置,该透过率扫描装置包括激光发射单元:一台波长可调谐激光器;控制与数据处理单元:所测试的干涉滤光片、聚焦透镜、旋转电机、电动一维角度调整架、电动二维调整架、电机控制与数据处理机;探测单元:功率计;该装置采用旋转电机带动激光器进行干涉滤光片透过率进行扫描测试。本实用新型专利技术的特点是通过旋转电机与安装在上面的电动一维角度调整架,控制激光器指向,能够对干涉滤光片全视场透过率进行扫描测试,同时能够控制电动二维调整架来对干涉滤光片的角度进行调整,找出与激光工作波长匹配的干涉滤光片最佳的工作角度。波长匹配的干涉滤光片最佳的工作角度。波长匹配的干涉滤光片最佳的工作角度。

【技术实现步骤摘要】
一种干涉滤光片全视场透过率扫描测试装置


[0001]本技术属于光学领域,尤其涉及干涉干涉滤光片全视场透过率扫描测试装置。

技术介绍

[0002]干涉滤光片在不同的激光入射角的情况下,其透过率会随着入射角的变化而变化,对于激光雷达系统而言,其接收有一定视场角,不同角度入射的激光信号,干涉滤光片的透过率也同样存在不同的透过率。以往的测试干涉滤光片透过率的技术限制在只能进行X轴与Y轴的扫描,因此在安装滤光片时,能够对干涉滤光片全视场透过率进行扫描测试,这样就可以保证滤光片在系统全接收视场内达到最优的综合透过率。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于克服干涉滤波片透过率扫描测试装置只能进行X轴与Y轴的扫描,提供一种可以进行干涉滤光片全视场透过率扫描测试装置。该装置适用于对干涉滤光片透过率测试,可以实现高精度、全视场透过率的测量。
[0004]本技术的基本原理是通过旋转电机与电动一维角度调整架对波长可调谐激光器的控制,来实现激光输出指向覆盖干涉滤光片全视场,通过电机控制与数据处理机来得到全视场干涉滤光片的透过率,在通过电动二维调整架调整干涉滤波片的角度,找出与激光工作波长匹配的干涉滤光片最佳的工作角度。
[0005]本技术技术解决方案如下:
[0006]一种干涉滤光片全视场透过率扫描测试装置,其特点在于,包括旋转电机,电动一维角度调整架,电动二维调整架,干涉滤波片,聚焦透镜,电机控制与数据处理机,波长可调谐激光器和功率计;
[0007]所述的电机控制与数据处理机分别控制旋转电机和电动一维角度调整架、,进而带动波长可调谐激光器实现二维平面内的螺旋运动,对干涉滤光片进行全视场的覆盖;
[0008]所述的电机控制与数据处理机通过控制电动二维调整架,进而调整干涉滤光片的角度;
[0009]所述的波长可调谐激光器发射的激光依次经所述的干涉滤波片和聚焦透镜后,由功率计进行功率探测,并将探测数据由传输至电机控制与数据处理机。
[0010]进一步,所述的电机控制与数据处理机控制旋转电机带动波长可调谐激光器旋转,使得波长可调谐激光器发射出的激光指向在平行于激光器的平面内做圆周运动;所述的电机控制与数据处理机通过控制电动一维角度调整架进而控制波长可调谐激光器的出射方向,使波长可调谐激光器发出的激光指向在垂直平面内做往复运动。
[0011]所述的干涉滤光片的透过率T,满足如下公式:
[0012][0013]式中,E1为未放置干涉滤光片时,功率计探测到的功率,E2为放置干涉滤光片时,功率计探测到的功率。
[0014]对所述的干涉滤光片放置位置的透过率曲线进行分析,检验在所需视场范围内透过率的变化是否符合要求,对于未符合要求时,通过控制电动二维调整架对干涉滤光片的角度进行调整,直至找出与激光工作波长匹配的干涉滤光片最佳的工作角度。
[0015]本技术的有益效果在于:
[0016]1、可以精确的获得干涉滤光片全视场的透过率。
[0017]2、可以根据获得透过率曲线来改变干涉滤光片的角度位置,找出与激光工作波长匹配的干涉滤光片最佳的工作角度。
附图说明
[0018]图1为本技术基于一种干涉滤光片全视场透过率扫描测试装置结构框图。
[0019]图中:1—旋转电机,2—电动一维角度调整架,3—电动二维调整架,4—波长可调谐激光器,5—干涉滤光片,6—聚焦透镜,7—功率计,8—电机控制与数据处理机。
[0020]图2为本技术的波长可调谐激光器在旋转电机与电动一维角度调整架的共同作用下出射方向指向平面示意图。
具体实施方式
[0021]下面结合实例和附图对本技术作进一步说明,但不应以此限制本技术的保护范围。
[0022]首先请参照图1,图1为本技术基于一种干涉滤光片全视场透过率扫描测试装置结构框图。由图1可见,本技术基于一种干涉滤光片全视场透过率扫描测试装置结构框图包括旋转电机1,电动一维角度调整架2,电动二维调整架3,波长可调谐激光器4,干涉滤波片5,聚焦透镜6,功率计7,电机控制与数据处理机8。
[0023]所述的电机控制与数据处理机8通过输入合适的参数来控制旋转电机1的旋转,旋转电机1的旋转带动波长可调谐激光器4旋转,随即激光器的指向也发生变化,电动一维角度调整架2通过电机控制与数据处理机8输入合适的参设来控制波长可调谐激光器4的出射方向,在旋转电机1与电动一维角度调整架2的同时控制下,波长可调谐激光器4会在二维平面内做螺旋运动,从而实现了激光出射方向对干涉滤光片5全视场覆盖,波长可调谐激光器4发射的激光通过干涉滤波片5,在经过聚焦透镜6后,由功率计7进行功率探测,所得出的数据由电机控制与数据处理机8接收,电动二维调整架3根据电机控制与数据处理机8所得数据处理后的透过率曲线来确定合适参数来调整干涉滤光片5的角度位置,找出与激光工作波长匹配的干涉滤光片5最佳的工作角度。
[0024]所述干涉滤光片全视场透过率的方法,包括下列步骤:
[0025]①
波长可调谐激光器4与旋转电机1以及电动一维角度调整架2同时连接,电机控制与数据处理机8通过对旋转电机1进行控制,使得旋转电机1以一定的速度在平行于激光器的平面做圆周运动,从而带动激光器同样做圆周运动,电动一维角度调整架2控制激光器在垂直平面内做往复运动,同时控制可以使得激光指向实现二维平面内的螺旋运动。先设定旋转电机1与电动一维角度调整架2的参数,再未放置干涉滤光片5时,由功率计7进行功
率探测,由电机控制与数据处理机8进行数据采集,定义为E1;再以同样的参数进行对放置干涉滤光片5时的功率数据采集定义为E2。对以上两种情况采集到的数据进行计算,干涉滤光片5的透过率为从而能够精确获得干涉滤光片5全视场透过率数据。
[0026]②
得出该干涉滤光片5放置位置的透过率曲线后,对曲线进行分析,检验在所需视场范围内透过率的变化是否符合要求。对于未符合要求时,通过控制电动二维调整架3对干涉滤光片5的角度进行调整,再次以上述同样的方法进行测试,直至找出与激光工作波长匹配的干涉滤光片5最佳的工作角度,确定精确位置后安装干涉滤光片5。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种干涉滤光片全视场透过率扫描测试装置,其特征在于,包括旋转电机(1),电动一维角度调整架(2),电动二维调整架(3)干涉滤光片(5),聚焦透镜(6),电机控制与数据处理机(8),波长可调谐激光器(4)和功率计(7);所述的电机控制与数据处理机(8)分别控制旋转电机(1)和电动一维角度调整架(2),进而带动波长可调谐激光器(4)实现二维平面内的螺旋运动,对干涉滤光片(5)进行全视场的覆盖;所述的电机控制与数据处理机(8)通过控制电动二维调整架(3),进而调整干涉滤光片(5)的角度;所述的波长可调谐激光器(4)发射的激光依次经所述的干涉滤光片(5)和聚焦透镜(6)后,由功率计(7)进行功率探测,并将探测数据由传输至电机控制与数据处理机(8)。2.根据权利要求1所述的一种干涉滤光片全视场透过率扫描测试装置,其特征在于,所述的电机控制与数据处理机(8)控制旋转电机(1)带动波长可调谐激光器(4)旋转,使得...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈卫标樊纯璨竹孝鹏杨巨鑫刘继桥吕良孟志鹏
申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
类型:新型
国别省市:

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