【技术实现步骤摘要】
圆轴测量装置、辊轴及应用该辊轴的纳米压印设备
[0001]本申请请求保护一种圆轴生产技术,尤其涉及一种圆轴测量装置。本申请还涉及一种辊轴及应用该辊轴的滚涂系统和纳米压印设备。
技术介绍
[0002]三维纳米薄膜是材料尺度在纳米级别的薄膜,其制造方法制造属微纳制造
,而微纳制造是现代制造工业的基础技术之一,也是当前备受瞩目的重要前沿
现今,三维纳米薄膜制造技术已经在生产包括军用芯片在内的军事科学和环境科学等领域得到广泛应用。针对不同的应用领域不同,对纳米结构的要求也不尽相同,如在军事科学中常需要采用可降解的材料制备,在环境科学中常需要采用三维立体结构等,但通用的要求与准则都是要求低成本、高产出、标准化。因此,高分辨、高精准三维生物材料纳米结构的制造技术将成为下一代军用设备研发的技术制高点。
[0003]三维纳米结构生物薄膜在军事科学和环境监测等领域具有广阔的应用前景。传统制作三维纳米结构生物薄膜的方法,基本上分为两类,一类采用物理或化学的方法,包括自组装、热致相分离法等方法。
[0004]另一类属 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种圆轴测量装置,其特征在于,包括:电感测微仪和双频激光干涉仪分别用于测量圆轴的圆度和直线度;所述电感测微仪中交流电桥的第一桥臂上并入可调电感,通过调整所述可调电感和所述交流电桥的衔铁,补偿工作线圈的残余电压,根据经过残余电压补偿的所述工作线圈产生的电信号计算所述圆轴的圆度;所述双频激光干涉仪将正交偏振激光经过分光镜后,产生的第一反射光经过第一偏振片生成参考信号,产生的第一透射光经过偏振分束镜生成第二反射光和第二投射光,分别经过参考镜片和测量镜片沿原路返回,并经过第二偏振片发生干涉,生成测量信号,根据所述参考信号和测量信号计算所述圆轴的直线度。2.根据权利要求1所述圆轴测量装置,其特征在于,所述电感测微仪和双频激光干涉仪是分体式设计,且所述电感测微仪和所述双频激光干涉仪根据所述圆轴的直径与长度进行自定义装配。3.根据权利要求2所述圆轴测量装置,其特征在于,还包括:装配架,所述装配架根据所述自定义装配,固定所述电感测微仪和双频激光干涉仪。4.根据权利要求1所述圆轴测量装置,其特征在于,所述正交偏振光包括o光和e光;所述参考信号的表达式如下:I
R
∝
A
R
COS[2π(f1-f2)t+Φ
R
]所述测量信号的频率表达式如下:其中,所述A
R
和A
M
参考信号和测量信号的振幅,所述f1是o光的频率,所述f2是e光的频率,所述Φ
R
和是参考信号和测量信号的初始位移,所述Δf是多普勒移频。5.一种辊轴,其特征在于,在制作所述辊轴的过程中,通过权利要求1所述圆轴测量装置测量所述辊轴的圆度误差和直线度误差。6.一种滚涂系统,其特征在于,采用权利要求5所述辊...
【专利技术属性】
技术研发人员:程晓亮,刘炳坤,刘海玲,高臣,
申请(专利权)人:天津市英贝特航天科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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