全波段光谱仪及其工作方法技术

本发明专利技术提供了全波段光谱仪及其工作方法，所述全波段光谱仪包括壳体、准直镜、光栅、成像镜和阵列式探测器，所述准直镜、光栅和成像镜设置在所述壳体内部，测量光依次经过所述准直镜、光栅和成像镜后，成像在所述阵列式探测器上；还包括：光纤头固定在光纤座上，所述光纤座设置在所述壳体上；第一调节单元用于在沿着所述光纤头的中心轴线方向调节所述光纤座和所述准直镜间的距离；第二调节单元用于调节所述成像镜的空间位置；延伸臂设置在所述壳体内壁，所述壳体内的所述测量光的部分穿过二个延伸臂之间的缝隙，部分被延伸臂阻挡；消光单元设置在所述阵列式探测器的侧部。本发明专利技术具有调节简单、去除杂散光等优点。去除杂散光等优点。去除杂散光等优点。

【技术实现步骤摘要】
全波段光谱仪及其工作方法


[0001]本专利技术涉及光谱仪，特别涉及全波段光谱仪及其工作方法。

技术介绍

[0002]目前市场上已有的光谱仪多为紫外光谱、红外光谱、紫外
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可见光谱等，这种光谱仪存在诸多不足，如：
[0003]1.难以做到从紫外波段到近红外波段的全波长覆盖，检测范围有限；
[0004]2.光谱仪在装配调试时，调试困难，精度难以达到要求，产品不合格率高，导致生产成本高；
[0005]3.杂散光影响大；对于杂散光消除，现有光谱仪往往从硬件方面进行抑制和用软件算法进行校正补偿，研发难度加大，而紫外
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近红外全波段，杂散光的影响更大。

技术实现思路

[0006]为解决上述现有技术方案中的不足，本专利技术提供了一种全波段光谱仪。
[0007]本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的：
[0008]全波段光谱仪，所述全波段光谱仪包括壳体、准直镜、光栅、成像镜和阵列式探测器，所述准直镜、光栅和成像镜设置在所述壳体内部，测量光依次经过所述准直镜、光栅和成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.全波段光谱仪，所述全波段光谱仪包括壳体、准直镜、光栅、成像镜和阵列式探测器，所述准直镜、光栅和成像镜设置在所述壳体内部，测量光依次经过所述准直镜、光栅和成像镜后，成像在所述阵列式探测器上；其特征在于，所述全波段光谱仪还包括：光纤头和光纤座，所述光纤头固定在所述光纤座上，所述光纤座设置在所述壳体上；第一调节单元，所述第一调节单元用于在沿着所述光纤头的中心轴线方向调节所述光纤座和所述准直镜间的距离；第二调节单元，所述第二调节单元用于调节所述成像镜的空间位置；多个延伸臂，所述延伸臂设置在所述壳体内壁，所述壳体内的所述测量光的部分穿过二个延伸臂之间的缝隙，部分被延伸臂阻挡；消光单元，所述消光单元设置在所述阵列式探测器的侧部。2.根据权利要求1所述的全波段光谱仪，其特征在于，所述壳体具有直线通道，所述光纤座设置在所述直线通道内；所述光纤座具有第一侧面和第二侧面，所述第一侧面和第二侧面与所述光纤座的中心轴线间的夹角均为非直角，第一侧面和第二侧面间的夹角为锐角、直角或钝角；所述第一调节单元包括第一螺钉和第二螺钉，所述第一螺钉和第二螺钉设置在所述壳体上，所述第一螺钉顶住所述第一侧面，所述第二螺钉顶住所述第二侧面。3.根据权利要求2所述的全波段光谱仪，其特征在于，所述光纤座具有V形槽，所述V形槽的位置相对的壁分别是所述第一侧面和第二侧面。4.根据权利要求1所述的全波段光谱仪，其特征在于，所述全波段光谱仪还包括：多个滤光片，与不同波段分别对应的滤光片设置在所述阵列式探测器上。5.根据权利要求1所述的全波段光谱仪，其特征在于，第一延伸臂阻挡从所述光纤头出射的测量光的部分，以及阻挡所述准直镜上的反射光的部分；第二延伸臂阻挡所述光栅上的出射光...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴晨，胡建坤，李佩聪，唐小燕，李锐，赵永乾，
申请(专利权)人：杭州谱育科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：