光谱仪装置制造方法及图纸

公开了一种光谱仪装置(110)。光谱仪装置(110)被配置为确定至少一个对象(112)的至少一项光谱或光谱学信息。光谱仪装置(110)被配置为确定从对象(112)传播到光谱仪装置(110)的至少一个光束的组分波长信号的强度。光谱仪装置(110)包括至少一个距离检测器(134)。距离检测器(134)被配置为确定关于至少一个对象(112)与光谱仪装置(110)之间的距离的至少一项距离信息。光谱仪装置(110)包括至少一个像素化成像检测器(121)，该至少一个像素化成像检测器(121)被配置为确定对象(112)的至少一个图像。光谱仪装置(110)包括至少一个评估装置(120)，该至少一个评估装置(120)被配置为通过评估由像素化成像检测器(121)确定的对象(112)的至少一个图像来确定至少一项材料信息。评估装置(120)被配置为在考虑所确定的距离信息和材料信息的情况下，对组分波长信号的所确定的强度执行至少一种光谱分析。所确定的强度执行至少一种光谱分析。所确定的强度执行至少一种光谱分析。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光谱仪装置


[0001]本专利技术涉及一种光谱仪装置、一种用于确定来自至少一个对象的至少一个光束的至少一个光特性的至少一个差异的方法，以及该光谱仪装置的各种用途。通常，此类装置和方法可用于各种应用，例如用于调查或监测的目的，特别是，红外检测应用；光谱学应用；排气监测应用；燃烧过程监测应用；污染监测应用；工业过程监测应用；化学过程监测应用；食品加工过程监测应用；水质监测应用；空气质量监测应用；质量控制应用；运动控制应用；排气控制应用；气体感测应用；气体分析应用；化学感测应用；农业应用，例如土壤、青贮饲料、肥料、作物或农产品的特性；监测植物健康；塑料识别和/或回收应用等。然而，其他种类的应用也是可能的。

技术介绍

[0002]各种光谱仪装置和系统是已知的。光谱仪通常朝着样品或对象发射光，并测量反射的、透射的、散射的或接收的光。光谱分析基于发射光和接收光之间的差异。光谱仪确定与样品或对象相互作用之前和之后的波长相关强度差异。光谱仪可以进一步确定诸如波长相关偏振差异之类的特性。
[0003]为了分析与样品或对象相互作用之前和之后的光特性差异，重本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光谱仪装置(110)，其被配置为确定至少一个对象(112)的至少一项光谱或光谱学信息，其中，所述光谱仪装置(110)被配置为确定从所述对象(112)传播到所述光谱仪装置(110)的至少一个光束的组分波长信号的强度，其中，所述光谱仪装置(110)包括至少一个距离检测器(134)，其中，所述距离检测器(134)被配置为确定关于所述至少一个对象(112)与所述光谱仪装置(110)之间的距离的至少一项距离信息，其中，所述光谱仪装置(110)包括至少一个像素化成像检测器(121)，所述至少一个像素化成像检测器(121)被配置为确定所述对象(112)的至少一个图像，其中，所述光谱仪装置(110)包括至少一个评估装置(120)，其中，所述评估装置(120)被配置为通过评估由所述像素化成像检测器(121)确定的对象(112)的至少一个图像来确定所述对象(112)的至少一项材料信息，其中，所述评估装置(120)被配置为通过对由所述像素化成像检测器(121)确定的对象(112)的图像应用至少一个材料相关图像滤波器Ф来确定所述材料信息，其中，所述材料相关图像滤波器是选自以下各项的至少一个滤波器：亮度滤波器；斑点形状滤波器；平方范数梯度；标准偏差；平滑度滤波器，诸如高斯滤波器或中值滤波器；基于灰度出现的对比度滤波器；基于灰度出现的能量滤波器；基于灰度出现的同质性滤波器；基于灰度出现的相异性滤波器；定律的能量滤波器；阈值区域滤波器；或其线性组合，或通过|ρ
φother，φm
|≥0.40与所述亮度滤波器、所述斑点形状滤波器、所述平方范数梯度、所述标准偏差、所述平滑度滤波器、所述基于灰度出现的能量滤波器、所述基于灰度出现的同质性滤波器、所述基于灰度出现的相异性滤波器、所述定律的能量过滤器、或所述阈值区域滤波器中的一者或多者、或它们的线性组合相关的另一材料相关图像滤波器φ
other
，其中φ
m
是所述亮度滤波器、所述斑点形状滤波器、所述平方范数梯度、所述标准偏差、所述平滑度滤波器、所述基于灰度出现的能量滤波器、所述基于灰度出现的同质性滤波器、所述基于灰度出现的相异性滤波器、所述定律的能量滤波器、或所述阈值区域滤波器之一或其线性组合，其中，所述评估装置(120)被配置为在考虑所确定的距离信息和所述材料信息的情况下，对组分波长信号的所确定的强度执行至少一种光谱分析。2.根据前一权利要求所述的光谱仪装置(110)，其中，所述光谱仪装置(110)是可移动光谱仪装置。3.根据前述权利要求中的任一项所述的光谱仪装置(110)，其中，所述光谱仪装置(110)包括至少一个波长选择元件(114)，其被配置为将入射光分离为组分波长信号的光谱，其中，通过采用包括多个像素的至少一个像素化光学检测器(116)和/或至少一个单像素光学检测器来确定所述组分波长信号的相应强度。4.根据前述权利要求中的任一项所述的光谱仪装置(110)，其中，所述光谱分析包括确定由于所述对象(112)的存在而引起的至少一个光特性的至少一个差异，其中，所述光特性的所述差异选自：至少一个波长相关强度差异；至少一个波长相关偏振差异。5.根据前一权利要求所述的光谱仪装置(110)，其中，通过使用以下技术中的一者或多者获得所述距离信息：光子比率测距、结构化光、光束轮廓分析、飞行时间、从运动恢复形状、对焦测距、三角测量、离焦测距、立体传感器。6.根据前述权利要求中的任一项所述的光谱仪装置(110)，其中，所述距离检测器(134)包括具有光学传感器的矩阵的至少一个传感器元件，所述光学传感器各自具有光敏区域，其中，每个光学传感器被配置为响应于由从所述对象(112)传播到所述光谱仪装置
(110)的至少一个光束对所述光敏区域的照射而产生至少一个传感器信号，其中，所述光学传感器中的至少一个第一光学传感器适于响应于被第一组分波长照射而产生第一传感器信号，以及其中，所述光学传感器中的至少一个第二光学传感器适于响应于被所述第一组分波长照射而产生第二传感器信号，其中，所述评估装置(120)被配置为通过评估所述第一传感器信号和所述第二传感器信号的组合信号Q，确定所述对象(112)的至少一个纵向坐标z。7.根据前一权利要求所述的光谱仪装置(110)，其中，所述组合信号Q通过以下一者或多者导出：形成所述第一信号与所述第二信号的商，或反之亦然；形成所述第一信号的倍数与所述第二信号的倍数的商，或反之亦然；形成所述第一信号的线性组合与所述第二信号的线性组合的商，或反之亦然；形成所述第一信号和所述第二信号的第一线性组合与所述第一信号和所述第二信号的第二线性组合的商，其中，所述评估装置(120)被配置为使用所述组合信号Q与所述对象(112)的所述纵向坐标z之间的至少一...

【专利技术属性】
技术研发人员：W，
申请(专利权)人：特里纳米克斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：