一种恒温光谱仪及光谱仪冷却装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种恒温光谱仪及光谱仪冷却装置，电路板和光学组件设置在隔热箱的冷却空间内，制冷片安装在所述制冷窗口处且制冷面朝向所述冷却空间，所述制冷面和所述制热面分别设有冷侧散热片和热侧散热片，散热风扇安装在热侧散热片上。通过设计冷却装置，将光谱仪的电路板和光学组件设置在同一冷却恒温环境内，同时对二者进行冷却控温，避免光谱仪在工作中温度升高影响光路和电路信号的稳定性，进而提高检测精度，并且相较于单独对电路进行局部冷却的方式，大大降低温控难度，避免直接制冷产生的冷凝水会对部件造成腐蚀。冷产生的冷凝水会对部件造成腐蚀。冷产生的冷凝水会对部件造成腐蚀。

【技术实现步骤摘要】
一种恒温光谱仪及光谱仪冷却装置


[0001]本专利技术涉及光谱仪
，尤其涉及一种恒温光谱仪及光谱仪冷却装置。

技术介绍

[0002]近红外光谱仪使用的是半导体光电探测器，其噪声来源分为电噪声和光噪声。电噪声是探测器自身产生的噪声，光噪声是探测器接收背景辐射和信号光完成光电转换时产生的噪声。随着温度升高，噪声会变强，从而影响光谱探测，所以目前的光谱仪大多会通过冷却探测器及电路以提高探测精度和灵敏度。为了保证对探测器的冷却效果，这类光谱仪通常将制冷单元直接安装在探测器电路板上进行小范围制冷。但是，这样设计对电路板局部控温要求较高，需要高灵敏度的传感器和复杂的算法支持。同时，将制冷单元直接安装在电路板上，制冷产生的冷凝水会对电路板造成腐蚀，甚至造成电路板短路。
[0003]此外，环境温度不仅会影响探测器，也会影响光路中的其他光学器件，如光栅、透镜、反射镜等。当温度变化时，光机结构将发生热弹性形变，导致系统镜面发生面形变化和刚体位移，引起光谱仪焦面上谱线产生几何位移，导致阵列探测器像元的相对采样位置发生变化，即产生谱线漂移。因此，为了消除本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光谱仪冷却装置，其特征在于，包括：隔热箱(1)、制冷片(2)和散热风扇(3)；隔热箱(1)内设有用于容纳光谱仪电路板(20)和光学组件(30)的冷却空间，隔热箱(1)侧壁设有制冷窗口，制冷片(2)两侧分别具有制冷面和散热面，制冷片(2)安装在所述制冷窗口处且制冷面朝向所述冷却空间，所述制冷面和所述制热面分别设有冷侧散热片(4)和热侧散热片(5)，散热风扇(3)安装在热侧散热片(5)上。2.根据权利要求1所述的光谱仪冷却装置，其特征在于，还包括循环冷风扇(6)，循环冷风扇(6)位于所述冷却空间内且安装在冷侧散热片(4)上。3.根据权利要求1所述的恒温光谱仪及光谱仪冷却装置，其特征在于，所述冷却空间内壁设有内隔热层。4.根据权利要求1所述的光谱仪冷却装置，其特征在于，隔热箱(1)外壁设有外隔热层。5.根据权利要求1所述的恒温光谱仪，其特征在于，隔热箱(1)包括顶部开口的下箱体(11)和上盖体(12)，制冷片(2)和散热风扇(3)安装在下箱体(11)。6.根据权利要求1所述的光谱仪冷却装置，其特征在于，还包括控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：张洪明，胡乃银，杨柳，
申请(专利权)人：安徽中科谱康科技有限公司，
类型：发明
国别省市：