数据校正装置、测量系统和校正方法制造方法及图纸

一种数据校正装置400，包括：获取部件410，其从测量装置100获取测量数据，测量装置100能够在移动至少一个(i)待测对象10或(ii)测量装置100的至少一部分中的至少一个的同时周期性地测量距离，测量数据中，距离的第一测量结果以时间序列布置，并且在待测对象10和测量装置100处于静止状态时通过测量距离而获得的第二测量结果布置在第一测量结果的头部或尾部；以及校正部件430，其通过将测量数据应用于基于测量装置的测量结果的时间导数的递推公式来校正测量数据中包括的误差。校正测量数据中包括的误差。校正测量数据中包括的误差。

【技术实现步骤摘要】
数据校正装置、测量系统和校正方法


[0001]本公开涉及数据校正装置、测量系统、程序和校正方法。

技术介绍

[0002]已知一种在腔(谐振器)中设有频移器、并且输出多个其振荡频率随时间线性变化的纵模(longitudinal
‑
mode)激光的频移反馈激光器(frequency
‑
shifted feedback laser，FSFL)。此外，已知一种使用这种FSFL的光学测距仪(例如，参见专利文献1:日本专利第3583906号的说明书，以及非专利文献1:“Distance Sensing by FSF Laser and Its Application”，Takefumi HARA，Optonews，第7卷，第3期，2012年，第25
‑
31页)。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的问题
[0004]光学测距仪将频移反馈激光器分成参考光和测量光，并通过混合所述参考光和通过将所述测量光照射到待测对象上而反射的反射光来生成差拍信号。然后，光学测距仪通过指定差拍本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据校正装置，包括：获取部件，其从测量装置获取测量数据，所述测量装置使用调频激光束测量从参考位置到待测对象的距离，并且能够在移动(i)待测对象或(ii)测量装置的至少一部分中的至少一个的同时周期性地测量所述距离，在所述测量数据中，所述距离的第一测量结果以时间序列布置，并且由测量装置在待测对象和测量装置处于静止状态时测量所述距离而获得的第二测量结果被布置在所述第一测量结果的头部或尾部；以及校正部件，其通过将由所述获取部件获取的所述测量数据应用于基于所述测量装置的测量结果的时间导数的递推公式，基于所述待测对象或所述测量装置的至少一部分中的至少一个的移动来校正所述测量数据中包括的误差。2.根据权利要求1所述的数据校正装置，其中所述校正部件根据调频率的正符号和负符号使用不同的递推公式，所述调频率基于由所述测量装置使用的所述调频激光束的每单位时间的频率的变化率。3.根据权利要求2所述的数据校正装置，其中当所述调频率为负时，所述获取部件获取其中所述第二测量数据被布置在所述第一测量数据的头部的测量数据，并且所述校正部件使用校正由所述获取部件获取的以时间序列布置的测量数据的递推公式，所述校正以所述布置的时间序列的顺序进行。4.根据权利要求3所述的数据校正装置，其中所述校正部件使用由以下等式表示的第一递推公式作为递推公式或者由以下等式表示的第二递推公式作为递推公式其中L
n
'是包括由多普勒频移引起的误差的第n个测量结果，L
n
是校正了由多普勒频移引起的所述误差的第n个测量结果，s＝k/Δt，Δt是所述测量装置测量所述距离的时间间隔，k＝2c0/λnγ，c0是真空中的光速，λ是所述调频激光束的波长，n是空气的折射率，γ是所述调频率。5.根据权利要求3所述的数据校正装置，其中所述校正部件使用由以下等式表示的第三递推公式作为递推公式其中L
n
'是包括由多普勒频移引起的误差的第n个测量结果，L
n
是校正了由多普勒频移引起的所述误差的第n个测量结果，s＝k/Δt，Δt是所述测量装置测量所述距离的时间间隔，k＝2c0/λnγ，c0是真空中的光速，λ是所述调频激光束的波长，n是空气的折射率，γ是所述调频率，并且系数(a0,a1,
…
,a
m
,b)是用于使用具有第m阶准确度的差分方法将测量数据的时间微分数据近似为时间微分数据的系数。
6.根据权利要求3至5中任一项所述的数据校正装置，其中每次所述测量装置测量所述距离时，所述获取部件获取所述测量数据，并且所述校正部件在所述测量装置继续测量所述距离的同时，开始校正由所述获取部件获取的所述测量数据以顺序地校正所述测量数据。7.根据权利要求2所述的数据校正装置，其中当所述调频率为正时，所述获取部件获取其中所述第二测量数据被布置在所述第一测量数据的尾部的测量数据，并且所述校正部件使用校正由所述获取部件获取的以时间序列进行布置的所述测量数据的递推公式，所述校正以所述布置的时间序列的相反顺序进行。8.根据权利要求7所述的数据校正装置，其中所述校正部件使用由以下等式表示的第四递推公式作为递推公式或者由以下等式表示的第五递推公式作为递推公式其中L
n
'是包括由多普勒频移引起的误差的第n个测量结果，L
n
是校正了由多普勒频移引起的所述误差的第n个测量结果，s＝k/Δt，Δt是所述测量装置测量所述距离的时...

【专利技术属性】
技术研发人员：氏原大希，
申请(专利权)人：株式会社三丰，
类型：发明
国别省市：