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雷击地电位抬升测试方法技术

技术编号:32462602 阅读:9 留言:0更新日期:2022-02-26 08:54
本发明专利技术属于地电位抬升测试领域,尤其是一种雷击地电位抬升测试方法,针对现有的不能够对电子器件的地电位抬升能力进行预估,不便于对地电位抬升能力进行检测的问题,现提出如下方案,其包括以下步骤:S1、检测器件性能,根据性能预估抬升能力,并建立曲线变化图;S2、多次考核地电位抬升能力,并与预估的数据进行对比,计算差异度;S3、如差异在设定范围内,则预估数据准确;S4、如某次考核数据超出设定范围,则首先判断考核是否准确,如考核准确,则预估数据有误,需对预估进行调整,S5、再次考核,本发明专利技术可以对电子器件的地电位抬升能力进行预估,对地电位抬升能力进行检测。对地电位抬升能力进行检测。

【技术实现步骤摘要】
雷击地电位抬升测试方法


[0001]本专利技术涉及地电位抬升测试
,尤其涉及一种雷击地电位抬升测试方法。

技术介绍

[0002]地电位抬升是指因为电力故障或者近距离雷击使地表面瞬间产生高电位,地电位抬升具有一定的危害,它会引起地电位反击,破坏地电位抬升范围内的电子及金属设备。当人处于地电位抬升范围内时,可能产生跨步电压,危及生命安全。目前采用较多的预防地电位抬升危害的方法为:设置独立地网,采取绝缘、隔离等防护措施。
[0003]现有技术中,不能够对电子器件的地电位抬升能力进行预估,不便于对地电位抬升能力进行检测,因此我们提出了雷击地电位抬升测试方法,用来解决上述问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在不能够对电子器件的地电位抬升能力进行预估,不便于对地电位抬升能力进行检测的缺点,而提出的雷击地电位抬升测试方法。
[0005]为了实现上述目的,本专利技术采用了如下技术方案:
[0006]雷击地电位抬升测试方法,包括以下步骤:
[0007]S1、检测器件性能,根据性能预估抬升能力,并建立曲线变化图;
[0008]S2、多次考核地电位抬升能力,并与预估的数据进行对比,计算差异度;
[0009]S3、如差异在设定范围内,则预估数据准确;
[0010]S4、如某次考核数据超出设定范围,则首先判断考核是否准确,如考核准确,则预估数据有误,需对预估进行调整;
[0011]S5、再次考核,直至连续多次考核数据与预估数据的差异在设定范围内。
[0012]优选的,所述S1中,检测器件性能,对器件性能数据进行记录,在数据库中输入记录的数据,获取该数据对应的抬升能力,对此抬升能力数据进行提取,根据此数据预估抬升能力。
[0013]优选的,所述S2中,多次考核抬升能力,每次考核间隔1

10min,对每次考核的数据进行记录,先进行考核数据的对比,然后再将考核数据与预估的数据进行对比。
[0014]优选的,所述S2中,多次考核抬升能力,对考核点进行标记,考核完成一次后,更换考核点。
[0015]优选的,所述S5中,将考核的器件性能数据,考核的地电位抬升能力与预估的数据上传至数据库进行存储。
[0016]优选的,所述S2中,多次考核地电位抬升能力,同一位置每次考核获取2

4组数据,对2

4组数据进行记录,并分析数据之前是否存在差异。
[0017]优选的,所述S2中,考核时,对器件的工作电平进行获取,将考核时的电平与器件平时工作的电平进行对比,判断器件是否正常。
[0018]优选的,所述S5中,考核完成后,对器件的工作状态进行监测,监测时间12

24h。
[0019]与现有技术相比,本专利技术的有益效果在于:
[0020]本方案通过检测器件性能,根据性能预估抬升能力,并建立曲线变化图,多次考核地电位抬升能力,并与预估的数据进行对比,计算差异度,如差异在设定范围内,则预估数据准确,如某次考核数据超出设定范围,则首先判断考核是否准确,如考核准确,则预估数据有误,需对预估进行调整,再次考核,直至连续多次考核数据与预估数据的差异在设定范围内,进而可以对电子器件的地电位抬升能力进行预估,对地电位抬升能力进行检测;
[0021]本专利技术可以对电子器件的地电位抬升能力进行预估,对地电位抬升能力进行检测。
附图说明
[0022]图1为本专利技术提出的雷击地电位抬升测试方法的流程图。
具体实施方式
[0023]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。
[0024]实施例一
[0025]参照图1,雷击地电位抬升测试方法,包括以下步骤:
[0026]S1、检测器件性能,对器件性能数据进行记录,在数据库中输入记录的数据,获取该数据对应的抬升能力,对此抬升能力数据进行提取,根据此数据预估抬升能力,并建立曲线变化图;
[0027]S2、多次考核地电位抬升能力,对考核点进行标记,考核完成一次后,更换考核点,每次考核间隔1min,对每次考核的数据进行记录,先进行考核数据的对比,然后再将考核数据与预估的数据进行对比,计算差异度,同一位置每次考核获取2组数据,对2组数据进行记录,并分析数据之前是否存在差异;
[0028]S3、如差异在设定范围内,则预估数据准确;
[0029]S4、如某次考核数据超出设定范围,则首先判断考核是否准确,如考核准确,则预估数据有误,需对预估进行调整;
[0030]S5、再次考核,直至连续多次考核数据与预估数据的差异在设定范围内,将考核的器件性能数据,考核的地电位抬升能力与预估的数据上传至数据库进行存储,考核完成后,对器件的工作状态进行监测,监测时间12h。
[0031]实施例二
[0032]参照图1,雷击地电位抬升测试方法,包括以下步骤:
[0033]S1、检测器件性能,对器件性能数据进行记录,在数据库中输入记录的数据,获取该数据对应的抬升能力,对此抬升能力数据进行提取,根据此数据预估抬升能力,并建立曲线变化图;
[0034]S2、多次考核地电位抬升能力,对考核点进行标记,考核完成一次后,更换考核点,每次考核间隔3min,对每次考核的数据进行记录,先进行考核数据的对比,然后再将考核数据与预估的数据进行对比,计算差异度,同一位置每次考核获取2组数据,对2组数据进行记录,并分析数据之前是否存在差异;
[0035]S3、如差异在设定范围内,则预估数据准确;
[0036]S4、如某次考核数据超出设定范围,则首先判断考核是否准确,如考核准确,则预估数据有误,需对预估进行调整;
[0037]S5、再次考核,直至连续多次考核数据与预估数据的差异在设定范围内,将考核的器件性能数据,考核的地电位抬升能力与预估的数据上传至数据库进行存储,考核完成后,对器件的工作状态进行监测,监测时间16h。
[0038]实施例三
[0039]参照图1,雷击地电位抬升测试方法,包括以下步骤:
[0040]S1、检测器件性能,对器件性能数据进行记录,在数据库中输入记录的数据,获取该数据对应的抬升能力,对此抬升能力数据进行提取,根据此数据预估抬升能力,并建立曲线变化图;
[0041]S2、多次考核地电位抬升能力,对考核点进行标记,考核完成一次后,更换考核点,每次考核间隔5min,对每次考核的数据进行记录,先进行考核数据的对比,然后再将考核数据与预估的数据进行对比,计算差异度,同一位置每次考核获取3组数据,对3组数据进行记录,并分析数据之前是否存在差异;
[0042]S3、如差异在设定范围内,则预估数据准确;
[0043]S4、如某次考核数据超出设定范围,则首先判断考核是否准确,如考核准本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.雷击地电位抬升测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、检测器件性能,根据性能预估抬升能力,并建立曲线变化图;S2、多次考核地电位抬升能力,并与预估的数据进行对比,计算差异度;S3、如差异在设定范围内,则预估数据准确;S4、如某次考核数据超出设定范围,则首先判断考核是否准确,如考核准确,则预估数据有误,需对预估进行调整;S5、再次考核,直至连续多次考核数据与预估数据的差异在设定范围内。2.根据权利要求1所述的雷击地电位抬升测试方法,其特征在于,所述S1中,检测器件性能,对器件性能数据进行记录,在数据库中输入记录的数据,获取该数据对应的抬升能力,对此抬升能力数据进行提取,根据此数据预估抬升能力。3.根据权利要求1所述的雷击地电位抬升测试方法,其特征在于,所述S2中,多次考核抬升能力,每次考核间隔1

10min,对每次考核的数据进行记录,先进行考核数据的对比,然后再将考核数据与预估的数据进行对比。4.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:丁旻
申请(专利权)人:丁旻
类型:发明
国别省市:

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