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本发明属于地电位抬升测试领域，尤其是一种雷击地电位抬升测试方法，针对现有的不能够对电子器件的地电位抬升能力进行预估，不便于对地电位抬升能力进行检测的问题，现提出如下方案，其包括以下步骤：S1、检测器件性能，根据性能预估抬升能力，并建立曲线变...
该专利属于丁旻所有，仅供学习研究参考，未经过丁旻授权不得商用。

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