基于X射线衍射及ICP-MS的土壤纳米颗粒定量方法技术

本发明专利技术公开了一种基于X射线衍射及ICP

【技术实现步骤摘要】
基于X射线衍射及ICP
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MS的土壤纳米颗粒定量方法


[0001]本专利技术涉及电感耦合等离子体质谱(ICP
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MS)，并且特别涉及通过单颗粒ICP
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MS检测土壤颗粒。

技术介绍

[0002]电感耦合等离子体质谱(ICP
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MS)常用于对样品进行元素分析，例如以测量样品中微量金属的浓度。ICP
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MS系统包括基于等离子体的离子源，所述离子源用于生成等离子体以将样品分子分解成原子并且然后电离所述原子以便为元素分析做准备。在典型操作中，通过(典型地是气动辅助型的)雾化器将液体样品雾化，即转化为气溶胶(细喷雾或薄雾)，并且将气雾化样品引导至由等离子体源生成的等离子体羽中。等离子体源经常被配置为具有两个或更多个同心管的流过式等离子体炬管。典型地，等离子体形成气体(诸如氩气)流过炬管的外部管并且由适当的能量源(典型地是射频(RF)供电的负载线圈)激励成等离子体。气雾化样品流过炬管的同轴中心管(或毛细管)并且被发射到原生样的等离子体中。暴露于等离子体会将样品分子分解本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于X射线衍射及ICP
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MS的土壤纳米颗粒定量方法，其特征在于，所述方法包括：基于土壤的X射线衍射数据，获得目标样品的矿物组成信息；基于深度残差收缩网络的方法，利用矿物PDF卡片和所述X射线衍射数据，获得不同矿物的元素特征；基于所述矿物组成信息和所述元素特征，结合ICP
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MS对土壤纳米颗粒进行检测，以获得土壤纳米颗粒的定量信息。2.根据权利要求1所述的土壤纳米颗粒定量方法，其特征在于，所述基于深度残差收缩网络的方法，利用矿物PDF卡片和所述X射线衍射数据，获得不同矿物的元素特征的步骤包括：S1、采集X射线衍射数据作为样本数据，并对X射线衍射数据进行类别标注；S2、对采集的X射线衍射数据进行预处理；S3、对预处理后的X射线衍射数据进行特征计算，包括MFCC特征及其一阶差分计算、GFCC特征及其一阶差分计算以及小波能量特征计算，将计算得到的特征做归一化处理；S4、构造深度残差收缩网络模型并进行模型训练，保存训练好的模型；S5、矿物的元素特征预测，对新的输入样本做预处理、特征计算以及特征融合后输入至保存好的模型中，计算其属于每个矿物的元素的概率值大小，以此来分析矿物的元素特征。3.根据权利要求1所述的土壤纳米颗粒定量方法，其特征在于，所述的矿物包括土壤原生矿、土壤次生矿物、人工纳米材料中的至少一种。4.根据权利要求1所述的土壤纳米颗粒定量方法，其特征在于，所述元素特征包括元素的种类、元素的比例中的至少一种。5.根据权利要求1所述的土壤纳米颗粒定量方法，其特征在于，所述土壤纳米颗粒的定量信息是基于ICP

【专利技术属性】
技术研发人员：丁铿博，张妙月，赵曼，汤叶涛，仇荣亮，
申请(专利权)人：中山大学，
类型：发明
国别省市：