【技术实现步骤摘要】
一种单晶XRD精修方法及其平台
[0001]本专利技术涉及X射线衍射
，更具体的说是涉及一种单晶XRD精修方法及其平台。
技术介绍
[0002]X射线衍射仪技术(X
‑
ray diffraction，XRD)。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
[0003]然而在采集XRD数据的过程中，由于零点漂移的出现，实际的峰值与通过数据所转换出来的图形产生了不一致的情况，导致测量结果不准确的问题。
[0004]因此，如何提供一种单晶XRD精修方法及其平台从而提高XRD数据使用的准确率是本领域技术人员亟需解决的问题。
技术实现思路
[0005]有鉴于此，本专利技术提供了一种单晶XRD精修方法及其平台，目的在于在考虑零点漂移的情况下，精确寻找到单晶XRD峰值，有效提高材料结构表征的准确性。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
[0007]一种单晶XRD精修方法，包...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种单晶XRD精修方法，其特征在于，包括以下步骤：S1.数据处理；读取XRD数据，对所述XRD数据进行数据转换后获得二维数组A，所述二维数组A中包括衍射角度X和所述衍射角度X所对应的峰值强度Y；S2.寻找峰值；具体包括：S21.初步判定：找出所述二维数组A中Y的最大值并缩小80
‑
120倍后得到Y
max
，取出所述二维数组A中比Y
max
大的Y以及对应的X，组成新的二维数组B；S22.获取第一判据：在所述二维数组A中寻找所述二维数组B中的每个X的位置，并以A中X的位置作为起点取出一个第一预设长度的子集数组，获取子集数组中X的最大值并判断X的最大值是否为当前子集数组的起点，若是则取出当前子集数组作为数组C；S23.获取第二判据：针对A中的每一个Y，将当前Y作为起点选取一个第二预设长度的Y的子集并获取其中Y的最大值Y
Lmax
，取出长度为200
‑
400个数据点的子集数组，将每个Y
Lmax
与Y
max
进行比较，将大于Y
max
的Y
Lmax
取出并在A中找到取出的Y
Lmax
对应的X，形成新的二维数组D；S24.根据所述第一判据和所述第二判据获取最终峰值：取数组C和数组D的交集，获取到最终的峰值；S3.晶格常数和零点漂移计算；根据获取到的最终峰值对应的衍射角度X计算晶格常数，通过方差获得零点漂移值。2.根据权利要求1所述的一种单晶XRD精修方法，其特征在于，S1的数据处理过程中还包括：判断所述XRD数据的TXT文件中是否存在数据分隔的情况，其中数据分隔的情况包括TXT文件中存在0值、空格、换行符或逗号，删去对应存在数据分隔情况的数据。3.根据权利要求1所述的一种单晶XRD精修方法，其特征在于，所述第一预设长度和所述第二预设长度均为任意正整数，并且所述第二预设长度大于所述第一预设长度。4.根据权利要求1所述的一种单晶XRD精修方法，其特征在于，计算晶格常数的具体方法为：根据X射线获取对应的波长λ和晶面指数，获取最终峰值对应的衍射角度X，在所述衍射角度X的基础上对X进行加减修正值计算实现X的修正，得到衍射角范围，在所述衍射角范围内每隔一个预设取值间隔取一个角度值θ，根据布拉格方程对获取到的每个θ计算晶面间距d：2dsinθ＝nλ其中，θ为入射线、反射线与反射晶面之间的夹角，即衍射角度，n为反射级数；计算每个晶面间距d对应的晶格常数a：其中，h，k和l为晶面指数；对每个所述衍射角范围内的晶格常数a进行方...
【专利技术属性】
技术研发人员：曹义明，张元磊，康艳茹，赵加旺，李佳丽，魏生贤，何禧佳，徐坤，李哲，
申请(专利权)人：曲靖师范学院，
类型：发明
国别省市：
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