本发明专利技术提供一种胶接试件的测量装置及方法，涉及胶接试件测量技术领域。该装置包括：基座；支撑结构，支撑结构的第一端与基座固定连接；顶板，顶板固定设置于支撑结构的第二端，顶板上设置有固定结构；底板，底板与支撑结构固定连接，设置于基座和顶板之间；底板上靠近基座的一侧固定设置有压力检测装置；底板上远离基座的一侧设置有定位结构；螺杆，螺杆的第一端穿设压力检测装置和底板，并与定位结构连接；第二端设置有旋钮，且压力检测装置与旋钮之间设置有弹性构件；时栅位移传感器，包括第一结构和第二结构；第一结构与顶板连接，第二结构与定位结构连接。解决了对于尺寸较小或蠕变量较小的胶接试件的蠕变量的测量误差较大或测量不出的问题。或测量不出的问题。或测量不出的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种胶接试件的测量装置及方法
[0001]本专利技术涉及胶接试件测量的
，特别涉及一种胶接试件的测量装置及方法。
技术介绍
[0002]胶粘剂在长期载荷作用下将产生蠕变，蠕变会导致胶接结构的缓慢变形，随着时间的积累，最终导致胶接结构失去原有形态而丧失功能。对于高精密仪器而言，蠕变不仅会降低各零部件之间的连接强度、刚度，更重要的是会影响内部各零部件之间的装配精度，降低精密器件自身的工作性能。目前，针对胶接试件的蠕变测量都为大量程的测量装置，对于尺寸较小或者蠕变量较小的胶接试件的蠕变量的测量误差较大或者测量不出，不能满足对胶接试件蠕变量的测量精度的要求。
技术实现思路
[0003]本专利技术实施例提供一种胶接试件的测量装置及方法，用以解决现有技术中对于尺寸较小或者蠕变量较小的胶接试件的蠕变量的测量误差较大或者测量不出，不能满足对胶接试件蠕变量的测量精度的要求的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：
[0005]本专利技术实施例提供一种胶接试件的测量装置，包括：
[0006]基座；
[0007]支撑结构，所述支撑结构的第一端与所述基座固定连接；
[0008]顶板，所述顶板固定设置于所述支撑结构的第二端，所述顶板上设置有固定结构，用于对胶接试件的第一端进行固定；
[0009]底板，所述底板与所述支撑结构固定连接，设置于所述基座和所述顶板之间；所述底板上靠近所述基座的一侧固定设置有压力检测装置；所述底板上远离所述基座的一侧设置有定位结构，用于对胶接试件的第二端进行定位；
[0010]螺杆，所述螺杆的第一端穿设所述压力检测装置和所述底板，并与所述定位结构连接；第二端设置有旋钮，且所述压力检测装置与所述旋钮之间设置有弹性构件；
[0011]时栅位移传感器，所述时栅位移传感器包括第一结构和第二结构；所述第一结构与所述顶板连接，所述第二结构与所述定位结构连接。
[0012]进一步地，所述基座为光学平板。
[0013]进一步地，所述支撑结构，包括：
[0014]四个支撑立柱和至少两个支撑横梁；
[0015]每一所述支撑立柱的一端分别与所述基座固定连接，另一端与所述顶板连接；
[0016]所述支撑横梁与所述支撑立柱垂直且设置于两个所述支撑立柱之间；
[0017]所述底板与所述支撑立柱固定连接；或者，所述底板与所述支撑横梁固定连接。
[0018]进一步地，所述时栅位移传感器的第一结构为时栅位移传感器的定尺；
[0019]所述时栅位移传感器的第二结构为时栅位移传感器的动尺。
[0020]进一步地，所述顶板设置有通孔；
[0021]所述胶接试件的第一端设置有第一定位孔，所述胶接试件的第一端穿设所述通孔且所述第一定位孔位于所述顶板的第一侧，所述顶板的第一侧为远离所述基座的一侧；
[0022]所述固定结构包括第一定位销，所述第一定位销穿设所述第一定位孔且所述第一定位销的侧面与所述顶板的第一侧贴合。
[0023]进一步地，所述顶板还设置有凹槽，所述第一定位销的侧面与所述凹槽贴合；
[0024]所述固定结构还包括第一垫块，所述第一垫块上设置有第二定位孔，所述第一垫块设置于所述通孔且所述第二定位孔与所述第一定位孔同轴。
[0025]进一步地，所述定位结构，包括：挂扣和第二定位销；
[0026]所述挂扣设置有第一凹陷和第一螺纹孔；
[0027]所述第一凹陷上设置有两个同轴的第三定位孔，所述第三定位孔与所述第一螺纹孔的轴线垂直；
[0028]所述胶接试件的第二端设置有第四定位孔，所述胶接试件的第二端插入所述第一凹陷且所述第二定位孔与所述第四定位孔同轴；
[0029]所述第二定位销穿设所述第三定位孔和所述第四定位孔；
[0030]所述螺杆的第一端通过所述第一螺纹孔与所述挂扣连接。
[0031]进一步地，所述定位结构还包括：限位夹具和第二垫块；
[0032]所述限位夹具的第一端与所述底板固定连接，第二端与所述挂扣垂直于所述底板的侧面贴合；所述第二垫块上设置有第五定位孔，所述第二垫块设置于所述第一凹陷且所述第五定位孔与所述第三定位孔同轴。
[0033]进一步地，所述胶接试件的测量装置，还包括：保温腔体。
[0034]本专利技术实施例还提供了一种胶接试件的测量方法，应用于如上所述的胶接试件的测量装置，包括：
[0035]在胶接试件的第一端固定于顶板且第二端固定于定位结构之后，旋转旋钮，使螺杆旋进底板，直至压力检测装置监测的压力值为预设值；
[0036]获取位移传感器的第一输出信号，并对所述第一输出信号进行处理，得到第一位移量；
[0037]旋转所述旋钮，使所述螺杆旋出所述底板，直至所述压力检测装置监测的压力值为零；
[0038]获取位移传感器的第二输出信号，并对所述第二输出信号进行处理，得到第二位移量；
[0039]根据所述第一位移量和所述第二位移量，确定所述胶接试件平行于胶接面方向的蠕变量。
[0040]本专利技术的有益效果是：
[0041]本专利技术实施例的胶接试件测量装置，通过时栅位移传感器对胶接试件的蠕变量进行测试，能够得到高精度的测量结果，通过设置弹性构件，能够进行不同盈利水平的测试，且操作简便。解决了现有技术中对于尺寸较小或者蠕变量较小的胶接试件的蠕变量的测量误差较大或者测量不出，不能满足对胶接试件蠕变量的测量精度的要求的问题。
附图说明
[0042]图1表示本专利技术实施例的胶接试件的测量装置的测量原理示意图；
[0043]图2表示本专利技术实施例的时栅位移传感器的结构示意图；
[0044]图3表示本专利技术实施例的时栅位移传感器的定尺的结构示意图；
[0045]图4表示本专利技术实施例的时栅位移传感器的动尺的结构示意图；
[0046]图5表示本专利技术实施例的对时栅位移传感器采集数据进行处理的流程示意图；
[0047]图6表示本专利技术实施例的胶接试件的测量装置的结构示意图；
[0048]图7表示图6中胶接试件的测量装置的A向剖面示意图；
[0049]图8表示本专利技术实施例的胶接试件的测量方法的步骤示意图。
具体实施方式
[0050]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例对本专利技术进行详细描述。
[0051]本专利技术针对现有技术中对于尺寸较小或者蠕变量较小的胶接试件的蠕变量的测量误差较大或者测量不出，不能满足对胶接试件蠕变量的测量精度的要求的问题，提供一种胶接试件的测量装置及方法。
[0052]本专利技术实施例的原理如图1所示，将胶接试件的第一端1.1固定；通过弹性构件2对胶接试件的第二端1.2施加力；通过压力传感器3检测弹性构件2施加的力的大小；通过与胶接试件的第二端1.2连接的位移传感器8测量胶接试件在不同力的作用下胶接试件平行于交接平面方向的蠕变量，并通本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种胶接试件的测量装置，其特征在于，包括：基座；支撑结构，所述支撑结构的第一端与所述基座固定连接；顶板，所述顶板固定设置于所述支撑结构的第二端，所述顶板上设置有固定结构，用于对胶接试件的第一端进行固定；底板，所述底板与所述支撑结构固定连接，设置于所述基座和所述顶板之间；所述底板上靠近所述基座的一侧固定设置有压力检测装置；所述底板上远离所述基座的一侧设置有定位结构，用于对胶接试件的第二端进行定位；螺杆，所述螺杆的第一端穿设所述压力检测装置和所述底板，并与所述定位结构连接；第二端设置有旋钮，且所述压力检测装置与所述旋钮之间设置有弹性构件；时栅位移传感器，所述时栅位移传感器包括第一结构和第二结构；所述第一结构与所述顶板连接，所述第二结构与所述定位结构连接。2.根据权利要求1所述的胶接试件的测量装置，其特征在于，所述基座为光学平板。3.根据权利要求1所述的胶接试件的测量装置，其特征在于，所述支撑结构，包括：四个支撑立柱和至少两个支撑横梁；每一所述支撑立柱的一端分别与所述基座固定连接，另一端与所述顶板连接；所述支撑横梁与所述支撑立柱垂直且设置于两个所述支撑立柱之间；所述底板与所述支撑立柱固定连接；或者，所述底板与所述支撑横梁固定连接。4.根据权利要求1所述的胶接试件的测量装置，其特征在于，所述时栅位移传感器的第一结构为时栅位移传感器的定尺；所述时栅位移传感器的第二结构为时栅位移传感器的动尺。5.根据权利要求1所述的胶接试件的测量装置，其特征在于，所述顶板设置有通孔；所述胶接试件的第一端设置有第一定位孔，所述胶接试件的第一端穿设所述通孔且所述第一定位孔位于所述顶板的第一侧，所述顶板的第一侧为远离所述基座的一侧；所述固定结构包括第一定位销，所述第一定位销穿设所述第一定位孔且所述第一定位销的侧面与所述顶板的第一侧贴合。6.根据权利要求5...
【专利技术属性】
技术研发人员：夏焕雄，刘检华，展丙男，张秀敏，刘小康，郭磊，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：发明
国别省市：
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