磁开关测试系统、方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术揭示了一种磁开关测试系统、方法及装置，所述磁开关测试系统包括：验证性测试模块，所述验证性测试模块包括：测试动作选择单元、第一组参数设置单元、第一运行单元及第一测试结果显示单元；测试动作选择单元用于选择待测试动作；第一组参数设置单元用于设置测试所需的第一组参数；第一运行单元用于根据选择的测试动作和设置的第一组参数运行相应的指令；第一测试结果显示单元用于显示验证性测试结果，所述验证性测试结果包括不同磁场扫描方式下的BOP值和BRP值。本发明专利技术提出的磁开关测试系统、方法及装置，可测试磁开关的多种性能，提高工作效率，节省开发时间。节省开发时间。节省开发时间。

【技术实现步骤摘要】
磁开关测试系统、方法及装置


[0001]本专利技术属于开关测试
，涉及一种测试系统，尤其涉及一种磁开关测试系统、方法及装置。

技术介绍

[0002]磁开关传感器是工业应用中被大量使用到的感知器件，随着数字化时代及物联网的普及，磁开关传感器芯片也是取得了飞速的发展。但现有传统的磁芯片大部分是运用的霍尔原理，而霍尔原理器件存在灵敏度低，输出信号幅度小，功耗高，信噪比低的特点，且传统的霍尔效应传感器只能感应垂直于霍尔效应元件表面；目前有一种AMR（各向异性磁阻，Anisotropic Magnetoresistive Sensor,简称AMR）磁开关传感器，AMR器件全极性感应，其灵敏度比霍尔元件高很多，但是其线性范围窄，容易磁饱和，同时以AMR为敏感元件的磁开关传感器需要设置Set/Reset线圈对其进行预设/复位操作，由于AMR磁开关传感器能感测平面内360
°
磁场强弱，为了验证性能和测试功能，在测试时需要更多测试配置方法和处理步骤，从磁场方向（一种为单磁场方向线性扫描，一种为双磁场任意方向XY磁场矢量合成扫描），到磁场测试步进步长，到自动识别磁场返回点，在配合不同的测试序列，每一种方法都会影响芯片的BOP（工作点）/BRP（释放点），现有测试技术对于不同的验证测试，往往需要在原有的测试系统基础上做大量修改，配置不同的参数和程序结构，费时费力，缺乏一个统一的全项目测试系统和方法。
[0003]有鉴于此，如今迫切需要设计一种新的磁开关传感器测试方式，以便克服现有磁开关传感器测试方式存在的上述至少部分缺陷。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种磁开关测试系统、方法及装置，可测试磁开关的多种性能，提高工作效率，节省开发时间。
[0005]为解决上述技术问题，根据本专利技术的一个方面，采用如下技术方案：一种磁开关测试系统，所述磁开关测试系统包括：验证性测试模块，所述验证性测试模块包括：测试动作选择单元，用于选择待测试动作；所述测试动作选择单元可选择的待测试动作包括正向磁化、反向磁化、正向磁场扫描、反向磁场扫描、先正后反磁场扫描和/或先反后正磁场扫描中的至少一种；第一组参数设置单元，用于设置测试所需的第一组参数，所述第一组参数包括是否找到切换点即返回、BOP上限、BOP下限、BRP上限和BRP下限；第一运行单元，用于根据选择的测试动作和设置的第一组参数运行相应的指令；以及第一测试结果显示单元，用于显示验证性测试结果，所述验证性测试结果包括不同磁场扫描方式下的BOP值和BRP值。
[0006]作为本专利技术的一种实施方式，所述磁开关测试系统还包括二维磁场测试模块，所述二维磁场测试模块包括：第二组参数设置单元，用于设置测试所需的第二组参数，所述第二组参数包括测试角度、步进角度、最大磁场强度、是否单路输出、是否记录BOP/BRP和是否旋转扫描；参数配置单元，用于根据所述第二组参数设置单元设置的第二组参数生成簇类型文件；第二运行单元，用于根据设置的第二组参数运行相应的指令；以及第二测试结果显示单元，用于显示二维磁场测试结果，所述二维磁场测试结果包括当前测试角度、第一当前输出、第二当前输出、X轴磁场和Y轴磁场。
[0007]作为本专利技术的一种实施方式，所述第二测试结果显示单元还用以显示磁开关的输出线性精度，当待测磁开关是双路输出时，对磁开关的输出线性精度进行显示。
[0008]作为本专利技术的一种实施方式，所述磁开关测试系统还包括功能测试模块，所述功能测试模块包括：第三组参数设置单元，用于设置测试所需的第三组参数，所述第三组参数包括磁场方向选择、测试项目选择、BOP阈值范围、BRP阈值范围、Bhys阈值范围、磁场系数、磁场最大值、静电电流标准值和待测磁开关工作电压值；第三运行单元，用于根据设置的第三组参数运行相应的指令；以及第三测试结果显示单元，用于显示磁场当前值、BOP、BRP、Bhys、输出电压和静态电流。
[0009]根据本专利技术的另一个方面，采用如下技术方案：一种磁开关测试方法，所述磁开关测试方法包括验证性测试方法，所述验证性测试方法包括：步骤A1、选择待测试动作；可选择的待测试动作包括正向磁化、反向磁化、正向磁场扫描、反向磁场扫描、先正后反磁场扫描和/或先反后正磁场扫描中的至少一种；设置测试所需的第一组参数，所述第一组参数包括是否找到切换点即返回、BOP上限、BOP下限、BRP上限和BRP下限；步骤A2、根据选择的测试动作和设置的第一组参数运行相应的指令；以及步骤A3、显示验证性测试结果，所述验证性测试结果包括不同磁场扫描方式下的BOP值和BRP值。
[0010]作为本专利技术的一种实施方式，所述步骤A1进一步包括：选择运行次序，根据列表框已有的测试动作配置测试内容和顺序，利用事件结构读取列表框属性节点，触发事件设置为按钮控件值改变或列表框鼠标双击事件；生成状态机枚举列表，根据选择的测试序列生成状态机循环结构的枚举数据，作为循环的输入；所述步骤A2进一步包括：配置磁场返回点磁场扫描，首先需先调用磁场返回点信息，配置为找到BOP/BRP即返回或到达最大磁场返回，读取用户设置的参数并调用设置的参数，将用户设置的参数转换为字符串指令，循环输出信号至磁场驱动电源以控制磁场，每次输出信号至磁场驱动电源后再发送采集指令至采集设备并读取输出返回值，直到完成0Gs~磁场返回点~0Gs的一个周期扫描，此时完成状态机的第一个枚举值测试序列，然后移位寄存器会读取第二个枚举值进行下次扫描直至所有测试序列均完成；所述步骤A3进一步包括：对应的BOP/BRP会以二维数组形式显示在表格控件中，测
试完成后初始化磁场及数字电源。
[0011]作为本专利技术的一种实施方式，所述磁开关测试方法还包括二维磁场测试方法，所述二维磁场测试方法包括：参数配置，获取用于设置的第二组参数，将参数统一放在簇类型文件中，所述簇类型文件包含DBL类型、布尔类型以及字符串类型，DBL类型设置值有二维磁场扫描角度、步进角度和最大磁场强度，布尔类型包含判断是否需要进行旋转扫描测试、是否芯片为单信号输出、单信号输出模式下是否需要测试BOP/BRP；配置二轴线圈矢量合成磁场扫描，获取参数配置中的各项参数，若磁场扫描方式为旋转扫描，则X轴方向磁场为最大磁场值*sinα*A，Y轴磁场为最大磁场值*cosα*A，内循环次数为A次，A从0开始，间隔为1递增，循环次数为角度α从0~2pi范围除以步进角度；若磁场扫描方式不是旋转扫描，则X轴方向磁场为最大磁场值*sinα，Y轴磁场为最大磁场值*cosα；判断待测磁开关是否为单路输出，若待测磁开关为单路输出，则继续是否记录BOP/BRP，若需要记录BOP/BRP，则开始寻找BOP/BRP；若待测磁开关是双路输出，则计算磁开关的输出线性精度。
[0012]作为本专利技术的一种实施方式，所述磁开关测试方法还包括功能测试方法，所述功能测试方法包括：驱动能力测试，进行驱动能力测试时，完成硬件电路的搭建，驱动采集设备测试待测磁开关的mos管驱动电压能力，读取返回电压值并与系统设置的电压阈值比较判断后进行显示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁开关测试系统，其特征在于，所述磁开关测试系统包括：验证性测试模块，所述验证性测试模块包括：测试动作选择单元，用于选择待测试动作；所述测试动作选择单元可选择的待测试动作包括正向磁化、反向磁化、正向磁场扫描、反向磁场扫描、先正后反磁场扫描和/或先反后正磁场扫描中的至少一种；第一组参数设置单元，用于设置测试所需的第一组参数，所述第一组参数包括是否找到切换点即返回、BOP上限、BOP下限、BRP上限和BRP下限；第一运行单元，用于根据选择的测试动作和设置的第一组参数运行相应的指令；以及第一测试结果显示单元，用于显示验证性测试结果，所述验证性测试结果包括不同磁场扫描方式下的BOP值和BRP值。2.根据权利要求1所述的磁开关测试系统，其特征在于：所述磁开关测试系统还包括二维磁场测试模块，所述二维磁场测试模块包括：第二组参数设置单元，用于设置测试所需的第二组参数，所述第二组参数包括测试角度、步进角度、最大磁场强度、是否单路输出、是否记录BOP/BRP和是否旋转扫描；参数配置单元，用于根据所述第二组参数设置单元设置的第二组参数生成簇类型文件；第二运行单元，用于根据设置的第二组参数运行相应的指令；以及第二测试结果显示单元，用于显示二维磁场测试结果，所述二维磁场测试结果包括当前测试角度、第一当前输出、第二当前输出、X轴磁场和Y轴磁场。3.根据权利要求2所述的磁开关测试系统，其特征在于：所述第二测试结果显示单元还用以显示磁开关的输出线性精度，当待测磁开关是双路输出时，对磁开关的输出线性精度进行显示。4.根据权利要求1所述的磁开关测试系统，其特征在于：所述磁开关测试系统还包括功能测试模块，所述功能测试模块包括：第三组参数设置单元，用于设置测试所需的第三组参数，所述第三组参数包括磁场方向选择、测试项目选择、BOP阈值范围、BRP阈值范围、Bhys阈值范围、磁场系数、磁场最大值、静电电流标准值和待测磁开关工作电压值；第三运行单元，用于根据设置的第三组参数运行相应的指令；以及第三测试结果显示单元，用于显示磁场当前值、BOP、BRP、Bhys、输出电压和静态电流。5.一种磁开关测试方法，其特征在于，所述磁开关测试方法包括验证性测试方法，所述验证性测试方法包括：步骤A1、选择待测试动作；可选择的待测试动作包括正向磁化、反向磁化、正向磁场扫描、反向磁场扫描、先正后反磁场扫描和/或先反后正磁场扫描中的至少一种；设置测试所需的第一组参数，所述第一组参数包括是否找到切换点即返回、BOP上限、BOP下限、BRP上限和BRP下限；步骤A2、根据选择的测试动作和设置的第一组参数运行相应的指令；以及步骤A3、显示验证性测试结果，所述验证性测试结果包括不同磁场扫描方式下的BOP值和BRP值。6.根据权利要求5所述的磁开关测试方法，其特征在于：
所述步骤A1进一步包括：选择运行次序，根据列表框已有的测试动作配置测试内容和顺序，利用事件结构读取列表框属性节点，触发事件设置为按钮控件值改变或列表框鼠标双击事件；生成状态机枚举列表，根据选择的测试序列生成状态机循环结构的枚举数据，作为循环的输入；所述步骤A2进一步包括：配置磁场返回点磁场扫描，首先需先调用磁场返回点信息，配置为找到BOP/BRP即返回或到达最大磁场返回，读取用户设置的参数并调用设置的参数，将用户设置的参数转换为字符串指令，循环输出信号至磁场驱动电源以控制磁场，每次输出信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：沙玉新，
申请(专利权)人：微传智能科技常州有限公司，
类型：发明
国别省市：