一种适用于低电压低功耗应用下的上电复位电路制造技术

本发明专利技术提供了一种适用于低电压低功耗应用下的上电复位电路，其特征在于，包括电源电压调整电路、电源电压检测电路、SMIT触发器，整形驱动；其中所述电源电压调整电路由第一电阻R1、第一NMOS管M0、第二NMOS管M1和Native管MS构成，为SMIT触发器、整形驱动及系统其它模块供电；所述电源电压检测电路由第二电阻R2和第三NMOS管M2构成；本发明专利技术由于所述电源电压调整电路的引入，随着供电电压VDD电压的不断升高，V(1)、VL几乎不变，M2的阻抗几乎不变，在同样面积的情况下，R2支路的功耗大大缩小，并同时保持了输出信号PORN翻转电平的准确性。持了输出信号PORN翻转电平的准确性。持了输出信号PORN翻转电平的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于低电压低功耗应用下的上电复位电路


[0001]本专利技术涉及集成电路
，具体地说是一种适用于低电压低功耗应用下的上电复位电路。

技术介绍

[0002]现今，上电复位电路被广泛应用于集成电路芯片电源电压上电或下电时，电源电压未稳定前可能会对芯片内部电路造成误操作，因此需要上电复位电路来确保电源电压达到一定电压值并且稳定之后再让芯片开始工作。
[0003]为适应国家节能减排的要求，电子系统对功耗的要求越来越低。如图2所示的那样，为降低系统的功耗，只有增大R2的阻值，这样就会增大芯片的面积(也是一种能源的浪费)，而且在VDD(图1或图2中的供电电压)宽电压1.6～6V范围下，当VDD电压较低时，流经R2的电流较小，容易受到环境的干扰使系统工作不稳定。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提出一种适用于低电压低功耗应用下的上电复位电路，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供以下技术方案：
[0006]一种适用于低电压低功耗应用下的上电复位电路，包括电源电压调整电路5、电源电压检测电路6、SMIT触发器和整形驱动；其中所述电源电压调整电路5由第一电阻R1、第一NMOS管M0、第二NMOS管M1和Native管MS构成，为SMIT触发器、整形驱动及系统其它模块供电；所述电源电压检测电路6由第二电阻R2和第三NMOS管M2构成；电路中存在四个比较重要的连接节点分别为第一节点1、第二节点2、第三节点3和第四节点4。
[0007]所述电源电压调整电路5中所述第一电阻R1远离所述第一节点1的一端连接所述Native管MS的漏极并一起连接到供电电压VDD，靠近所述第一节点1的一端连接到所述第一节点1；所述第一节点1为所述第一电阻R1靠近所述第一节点1的一端和所述第一NMOS管M0的漏极、栅极、所述Native管MS的栅极以及所述第三NMOS管M2的栅极连接点；
[0008]所述第一NMOS管M0的源极连接到第二节点2；所述第二节点2为所述第一NMOS管M0的源极、所述第二NMOS管M1的栅极和漏极的连接点；
[0009]所述第二NMOS管M1的源极接地；
[0010]所述Native管MS的漏极连接到所述供电电压VDD，栅极连接到第一节点1，源极连接到第三节点3，所述第三节点3还连接所述电源电压调整电路5的输出电压VL；所述第三节点3为所述Native管的源极与所述第二电阻R2靠近所述第三节点3一端的连接点。
[0011]所述电源电压检测电路6中所述第二电阻R2的靠近所述第三节点3的一端连接到所述第三节点3，远离所述第三节点3的一端连接到第四节点4；
[0012]所述第四节点4为所述第二电阻R2远离所述第三节点3的一端和所述第三NMOS的漏极及所述SMIT触发器输入端的连接点；
[0013]所述第三NMOS管M2的漏极连接到所述第四节点4，栅极连接到所述第一节点1，源极连接到地。
[0014]与现有技术相比，本专利技术有益效果如下：
[0015]本专利技术通过引入所述电源电压调整电路，使供电电压VDD在1.6～6V宽电压工作范围时，得到相对稳定的电源电压调整电路的输出电压VL，VL输出电压为1.6～2V；能够在同样阻值R2的情况下降低功耗，降低到原来的1/3，还能解决当VDD电压较低时，流经R2的电流较小，容易受到环境的干扰使系统工作不稳定的问题。
附图说明
[0016]图1为本专利技术提出的适用于低压低功耗的上电复位电路；
[0017]图2为现有技术中适用于低压低功耗的上电复位电路。
具体实施方式
[0018]为阐明技术问题、技术方案、实施过程及性能展示，以下结合实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释。本专利技术，并不用于限定本专利技术。以下将参考附图详细说明本公开的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面，但是除非特别指出，不必按比例绘制附图。
[0019]在这里专用的词“示例性”意为“用作例子、实施例或说明性”。这里作为“示例性”所说明的任何实施例不必解释为优于或好于其它实施例。
[0020]另外，为了更好的说明本公开，在下文的具体实施方式中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解，没有某些具体细节，本公开同样可以实施。在一些实例中，对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件和电路未作详细描述，以便于凸显本公开的主旨。
[0021]实施例1
[0022]如图1所示，一种适用于低电压低功耗应用下的上电复位电路，包括电源电压调整电路5、电源电压检测电路6、SMIT触发器和整形驱动；其中所述电源电压调整电路5由第一电阻R1、第一NMOS管M0、第二NMOS管M1和Native管MS构成，为SMIT触发器、整形驱动及系统其它模块供电；所述电源电压检测电路6由第二电阻R2和第三NMOS管M2构成；电路中存在四个比较重要的连接节点分别为第一节点1、第二节点2、第三节点3和第四节点4。
[0023]所述电源电压调整电路5中所述第一电阻R1远离所述第一节点1的一端连接所述Native管MS的漏极并一起连接到供电电压VDD，靠近所述第一节点1的一端连接到所述第一节点1；所述第一节点1为所述第一电阻R1靠近所述第一节点1的一端和所述第一NMOS管M0的漏极、栅极、所述Native管MS的栅极以及所述第三NMOS管M2的栅极连接点；
[0024]所述第一NMOS管M0的源极连接到第二节点2；所述第二节点2为所述第一NMOS管M0的源极、所述第二NMOS管M1的栅极和漏极的连接点；
[0025]所述第二NMOS管M1的源极接地；
[0026]所述Native管MS的漏极连接到所述供电电压VDD，栅极连接到第一节点1，源极连接到第三节点3，所述第三节点3还连接所述电源电压调整电路5的输出电压VL；所述第三节点3为所述Native管的源极与所述第二电阻R2靠近所述第三节点3一端的连接点。
[0027]所述电源电压检测电路6中所述第二电阻R2的靠近所述第三节点3的一端连接到所述第三节点3，远离所述第三节点3的一端连接到第四节点4；
[0028]所述第四节点4为所述第二电阻R2远离所述第三节点3的一端和所述第三NMOS的漏极及所述SMIT触发器输入端的连接点；
[0029]所述第三NMOS管M2的漏极连接到所述第四节点4，栅极连接到所述第一节点1，源极连接到地。
[0030]本实例设计值：
[0031]在VDD(图1中的供电电压)低于1.6V时，(仿真时使用的5V工艺，Vtn＝Vtp＝0.8V，此时供电电压还不足以开启所述第一NMOS管M0，所述第二NMOS管M1)，I1(图1中流经R1、M0及M1的电流)＝0，所述电源电压调整电路5中所述第一节点1处电压V1跟随VDD电压变化，所述电源电压检测电路6本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于低电压低功耗应用下的上电复位电路，其特征在于，包括电源电压调整电路(5)、电源电压检测电路(6)、SMIT触发器和整形驱动；其中所述电源电压调整电路(5)由第一电阻R1、第一NMOS管M0、第二NMOS管M1和Native管MS构成，为SMIT触发器、整形驱动及系统其它模块供电；所述电源电压检测电路(6)由第二电阻R2和第三NMOS管M2构成；电路中存在四个比较重要的连接节点分别为第一节点(1)、第二节点(2)、第三节点(3)和第四节点(4)。2.根据权利要求1所述的一种适用于低电压低功耗应用下的上电复位电路，其特征在于，所述电源电压调整电路(5)中所述第一电阻R1远离所述第一节点(1)的一端连接所述Native管MS的漏极并一起连接到供电电压VDD，靠近所述第一节点(1)的一端连接到所述第一节点(1)；所述第一节点(1)为所述第一电阻R1靠近所述第一节点(1)的一端和所述第一NMOS管M0的漏极、栅极、所述Native管MS的栅极以及所述第三NMOS管M2的栅极连接点；所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：王卫华，万虹，金志俊，郑奇生，郑涵，
申请(专利权)人：微传智能科技常州有限公司，
类型：发明
国别省市：