有机电激发光显示装置及侦测显示装置中湿气的方法制造方法及图纸

一种湿气侦测装置，其适用于一发光显示装置，且该湿气侦测装置与一或多个显示元件封装于基板与背盖间。该湿气侦测装置包括一设置于一既定位置的金属层，该金属层邻近于该显示元件，使其不影响该显示元件的操作，其中，通过侦测该湿气侦测装置的一个或多个湿气影响材质特性以侦测多余的湿气。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种有机电激发光(electroluminescence，EL)显示装置，特别是涉及一种侦测光电显示装置的密封像素元件与密封显示面板内湿气的方法和系统。
技术介绍
电激发光显示装置由多个发光元件(像素)所构成，其利用固态荧光物质的电场发光特性(称为电激发光现象)。电激发光装置的发光材质层一般是应用于液晶、平面、光电显示装置的背光模块，其导光性质可分为穿透式、反射式和/或半穿透半反射式。以目前的技术来说，电激发光像素是使用有机发光二极管(OLED)，其特色为将有机高分子聚合层当做显示装置的发光材质层。相对于以前使用无机材质层，使用有机高分子聚合层可改善显示装置的显示效能、运作效率、封装后的体积大小或携带便利性，也可减少功率与电压的需求。相比较于无机电激发光元件，有机电激发光元件(如有机发光二极管)对会使其发生劣化的周遭环境因素十分敏感，如湿气与自由氧。特别的是，湿气与氧气作用后产生氧化反应，可能产生下列不欲见的状况，包括有机固体的结晶化与形成、在有机电极层接口起电化学反应、金属腐蚀、以及离子游离现象。研究中已发现，因湿气而导致的劣化，其破坏性比因自由氧而导致的劣化至少大1000倍。这些劣化的物理现象通常是发光显示元件上产生黑点缺陷的方式来呈现，而这样的缺陷可能导致效能损失、运作不稳定、显示颜色不足或光线发射角度错误，也可能缩短运作生命周期。典型上，黑点缺陷不会立即形成在显示元件上，其数量、大小与位置的变化是视曝露在恶劣环境下的时间而定。为了将因劣化的物理现象所造成的影响减到最小，典型的是对有机电激发光元件进行封装以防止湿气转移到作用中的电激发光元件。传统的封装方法利用黏着剂将背盖黏着于基板层上，背盖为透明或半透明基板，其覆盖整个显示元件。对于液晶显示或发光二极管显示面板装置而言，根据目前现有技术，相对于封装单一或较小群显示元件，背盖可封装多个显示元件。传统的封装方法通常会将少量残余湿气封闭于显示装置中，所以要在封装过程中将全部湿气完全排除掉是很难做到的。基于许多不同因素，在经过封装的显示元件上仍会持续产生黑点缺陷。使用于封装的黏着剂可能一开始特性就较差，或随时间而自身劣化的缘故，无法保持封装的完整性，因而令湿气渗进封装材中而令有机电激发光显示元件吸附到湿气，使得有机电激发光显示元件产生更多的黑点缺陷。传统上，有机电激发光显示制造设备在完成封装后会进行测试，该测试是用以令显示装置中的黑点缺陷加速产生。该测试包括让显示设备处于高温(60～85℃)与高相对湿度(85～90％HR)的环境中，其令设备检视与判断完成制造的显示装置其是否具封装上的缺陷，也进行封装完整性与预期生命周期的判断与推论。上述压力测试方法由于依赖人工与目测检视，故会产生限制与不正确性，而目测检视流程可用于黑点缺陷的定性定量分析。图1为显示现有的有机电激发光显示装置100，其说明封装显示装置的背盖与黏着剂的应用。如图所示，基板102是由封装背盖104所覆盖，背盖104的材质可为滤光片或透明基板，并且利用设置在基板102上的黏着剂106所构成与有机电激发光显示装置长、宽边相同方向的连续线，覆盖着整个有机电激发光显示装置。背盖104利用黏着剂106直接附着于基板102，进而封装有机电激发光显示装置100。综上所述，利用黏着剂106将背盖104的底表面与基板102的上表面黏合以完成整个封装程序。图1也显示在有机电激发光显示装置100产生黑点缺陷108。两个黑点缺陷108说明已封装的显示装置中的黑点缺陷的任意数量、大小与位置。图2说明有机电激发光显示面板200的上视图，其包括多个电激发光显示装置或显示元件。显示面板200包括多个被封装在背盖204与基板206间的有机发光二极管元件202。背盖204是沿着设置于基板206的黏着剂208所构成的连续线与基板206相互密合，黑点缺陷210产生于已封装的显示面板200内。鉴于上述缺点，因此需要一个有效的测试方法或装置，用于侦测已封装的有机电激发光显示装置与显示面板内的湿气。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种测试装置，其提供多个感测且正确的数据，用以进行定性定量分析以及显示装置内因湿气所造成的影响的判断。基于上述目的，本专利技术提供一种侦测发光显示装置内湿气的装置。该装置包括一或多个显示元件，且封装于基板与背盖之间。该装置还具有一金属层，其设置于一既定位置且邻近于该显示元件，使其不影响显示元件的操作，其中，通过侦测一或多个湿气侦测装置的一个或多个湿气影响材质特性以侦测多余的湿气附图说明图1为现有的有机电激发光显示装置100示意图，其说明用于封装显示装置的基板与黏着剂的应用。图2为有机电激发光显示面板120的上视图，其包括多个电激发光显示装置或显示元件。图3为本专利技术实施例的湿气侦测装置的剖视图；图4为本专利技术的湿气侦测装置的阻值与时间的关系图；图5为本专利技术实施例的包括湿气侦测模块的有机电激发光显示装置的上视图；图6a与图6b为本专利技术另两实施例的包括湿气侦测模块的有机电激发光显示装置的上视图。具体实施例方式为让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举出较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。本专利技术实施例是提供一种用以有效检测及监视于封装后有机电激发光显示装置及面板中湿气的改进方法。所揭露方法中提供一种湿气侦测装置，其设置于该显示装置与面板中，用以对吸附的湿气进行灵敏且精确的定性定量分析，其中湿气会影响湿气侦测装置的一个或多个湿气影响材质特性。上述湿气侦测方法与装置相当易于设计整合入现有的显示装置中，也可整合入现有的制作工艺中，其只增加一些额外成本与制造流程。所揭露方法与装置具有较高的可靠度与装置营运周期。图3显示本专利技术实施例的湿气侦测装置的剖视图。湿气侦测装置300设置于基板302的上方。湿气侦测装置300包括三个基本的材质层。底部电极层306于有机电激发光显示元件的最后制作工艺期间沉积于基板302的上方，其可由与用于有机电激发光显示元件相同的金属化合物所构成，例如阴极和阳极的铝或铟锡氧化物。中间层304沉积于底部电极层306的上方，其可由金属周期表中的碱金族(IA)元素(包括锂(Li)、钠(Na)、钾(K)等)或碱土族(IIA)元素(包括铍(Be)、镁(Mg)、钙(Ca)等)的金属化合物所构成。除了IA或IIA族的金属元素等金属化合物外，任何其它可与水产生反应的金属也可适用于此湿气侦测器。较薄的中间金属层304(小于200埃(angstroms))所呈现的阻值与穿透属性，较适合于侦测已封装有机电激发光显示装置内的湿气。特别是较薄的IA族与IIA族金属化合物层对湿气的反应非常明显，使得电性阻值与光线穿透率的改变在可预期与可重复的范围内。侦测装置可设置在显示面板的任何位置，不限于特定位置。图4显示本专利技术的湿气侦测装置的阻值与时间的关系图，该湿气侦测装置的尺寸系由既定尺寸大小(即长、宽、高)的钙化合物中间层304所构成。需注意到，该侦测装置持续曝露于温度60℃与相对湿度90％的环境下，其测量到的电性阻值与时间(每小时)的关系如图所示。持续曝露在控制的湿度环境下会造成中间层304以及其邻接底部电极层306与顶层电极层308的材质属性出现有效地改变，并且提升测量到的阻值。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种侦测显示装置中湿气的方法，包括下列步骤：提供一具有至少一显示单元的基板；将至少一湿气侦测装置设置在该基板上、且邻接该各显示单元的一预定位置；以及将该各显示单元及该湿气侦测装置封装至一背盖及该基板间。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：邱圳毅，苏志鸿，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]