一种用于光学元器件检测的系统技术方案

一种用于光学元器件检测的系统，包括恒温箱、温控器和热传感元件，恒温箱中空且底部内壁设有加热元件，恒温箱的中空腔内底部设有用于承载光学元器件的承载台；恒温箱的顶部和底部设有与承载台的位置相对应的通光孔；热传感元件设于靠近光学元器件的上方并不干涉光学元器件的位置，温控器与加热元件和热传感元件分别电连接，以调节恒温箱内的检测温度至恒温。通过在恒温箱上开设通光区域，内置热传感元件反馈温度，并由温控器对比预设温度与反馈温度控制加热元件的开关，使待测元器件所在的检测环境温度保持在设定的温度范围内，适用于检测光学元器件及其组件的温度变化性能及光路折射性能。路折射性能。路折射性能。

【技术实现步骤摘要】
一种用于光学元器件检测的系统


[0001]本技术涉及检测系统领域，特别涉及用于光学元器件检测的系统。

技术介绍

[0002]光学元器件是光电子领域中的重要功能器件。大多数光学元器件，尤其是光学滤波器，其光电子材料(如硅、二氧化硅、磷化铟)都具有一定的热光效应，即材料的折射率会随着温度的变化而发生变化，这种热光效应会导致光学元器件的工作波长随着温度的变化而漂移，因此，测试光学元器件的温度变化曲线与温度的极值和典型值是验证光学元器件性能的一个很重要的方法。使用常规的恒温箱作为光学滤波器件的测试工具是不匹配的，其缺少测试光学元器件所需要的通光区域，其次，由于光学元器件有不耐高温的特性，需要对测试环境的温度限定在一定范围之内。

技术实现思路

[0003]为解决上述现有技术存在的问题，本申请的目的在于提供一种用于光学元器件检测的系统，通过在恒温箱顶部和底部开设通光区域，对应于光学元器件的通光孔，在被测光学元器件周边设置热传感元件测量环境温度，并将热传感元件测得的温度反馈给温控器，由温控器控制加热元件的开关，以使恒温箱内温度保持恒温，从而构本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于光学元器件检测的系统，其特征在于，包括恒温箱、温控器和热传感元件，所述恒温箱中空，其底部内壁设有加热元件，所述恒温箱的中空腔内底部包括用于承载所述光学元器件的承载台；所述恒温箱的顶部和底部设有与所述承载台的位置相对应的通光孔，以使通过所述光学元器件的光路通畅；所述热传感元件设于靠近所述光学元器件的上方并不干涉所述光学元器件的位置，所述温控器与加热元件和热传感元件分别电连接，以调节所述恒温箱内的检测温度至恒温。2.根据权利要求1所述的一种用于光学元器件检测的系统，其特征在于，所述恒温箱侧壁设有引线孔，以引出温控器与热传感元件电路和温控器与加热元件电路。3.根据权利要求2所述的一种用于光学元器件检测的系统，其特征在于，所述恒温箱顶部和底部的通光孔外部相对应地分别设有光源和光线采集器，以...

【专利技术属性】
技术研发人员：林琳，黄创文，
申请(专利权)人：深圳市海谱纳米光学科技有限公司，
类型：新型
国别省市：