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一种用于光学元器件检测的系统,包括恒温箱、温控器和热传感元件,恒温箱中空且底部内壁设有加热元件,恒温箱的中空腔内底部设有用于承载光学元器件的承载台;恒温箱的顶部和底部设有与承载台的位置相对应的通光孔;热传感元件设于靠近光学元器件的上方并不干...该专利属于深圳市海谱纳米光学科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市海谱纳米光学科技有限公司授权不得商用。
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一种用于光学元器件检测的系统,包括恒温箱、温控器和热传感元件,恒温箱中空且底部内壁设有加热元件,恒温箱的中空腔内底部设有用于承载光学元器件的承载台;恒温箱的顶部和底部设有与承载台的位置相对应的通光孔;热传感元件设于靠近光学元器件的上方并不干...