一种半导体器件参数测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种半导体器件参数测试装置，包括微控制器、多路DA转换电路、功率放大电路、倍压电路、恒流电路、多路继电器线圈驱动电路、第一继电器KA1、第二继电器KA2、第三继电器KA3、第四继电器KA4、第五继电器KA5、限流电阻R1、第一取样电阻R2、第二取样电阻R3、第三取样电阻R4、第一取样电路、第二取样电路、第三取样电路、第四取样电路、多路AD转换电路；本实用新型专利技术将三极管以及二极管参数测量方案融合在一个系统之中；通过改变各个继电器线圈的通断控制相应继电开关的状态使得系统处于不同状态即可测量不同的参数，测量精度高，且在测量不同参数时共用电路结构，节约了硬件成本。节约了硬件成本。节约了硬件成本。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体器件参数测试装置


[0001]本技术涉及器件参数测试领域，具体涉及一种半导体器件参数测试装置。

技术介绍

[0002]三极管以及二极管是构成电子设备的基本单元，其优劣决定了整体设备的质量和可靠性。因此其参数测试作为控制产品质量的手段之一具有非常重要的作用。传统的三极管参数测试常使用晶体管特性图示仪或万用表来实现，但晶体管特性图示仪价格昂贵、不便携带，并且准确度不高，万用表仅能测定三极管直流放大倍数且误差较大。现有的对二极管参数测定的方案大多比较繁杂且成本较高，且传统测量二极管反向击穿电压及反向饱和电流时通常使用电压表直接测其电压，使用电流表直接测其反向饱和电流，高压带电操作存在安全隐患且测得的数据误差较大。专利201320097645.2中使用单一系统结构对三极管的放大系数、集电极
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发射极反向饱和电流和饱和电压进行测量，整个系统为模块化设计，分为三极管基极和集电极电压测量单元、反向击穿电压测量单元、反向饱和电流测量单元，没有对集电极和基极电流进行测量，模块化设计意味着各个单元硬件电路相互独立无法共用，浪费了硬件资源，此专利只能测量三极管的相关参数，不能测量二极管的相关参数，功能较为单一。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的技术问题是提供一种半导体器件参数测试装置，既可以精确地测量三极管的相关参数，也可以精确地测量二极管的相关参数，将三极管以及二极管参数测量融合在一个系统之中，节约了硬件成本。
[0004]本技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种半导体器件参数测试装置，包括微控制器、多路DA转换电路、功率放大电路、倍压电路、恒流电路、多路继电器线圈驱动电路、第一继电器KA1、第二继电器KA2、第三继电器KA3、第四继电器KA4、第五继电器KA5、限流电阻R1、第一取样电阻R2、第二取样电阻R3、第三取样电阻R4、第一取样电路、第二取样电路、第三取样电路、第四取样电路、多路AD转换电路、第一测试接口、第二测试接口以及第三测试接口；
[0005]所述微控制器通过数据总线分别与所述多路继电器线圈驱动电路的输入端、所述多路DA转换电路的输入端以及所述多路AD转换电路的输出端连接；
[0006]所述多路继电器线圈驱动电路的输出端与电源电压VCC之间电连接有所述第一继电器KA1的线圈、所述第二继电器KA2的线圈、所述第三继电器KA3的线圈、所述第四继电器KA4的线圈以及所述第五继电器KA5的线圈，且所述第一继电器KA1的线圈、所述第二继电器KA2的线圈、所述第三继电器KA3的线圈、所述第四继电器KA4的线圈以及所述第五继电器KA5的线圈并联；
[0007]所述多路DA转换电路的输出端通过所述功率放大电路与所述第一继电器KA1的转换触点的动端连接，所述第一继电器KA1的转换触点的一个静端通过所述倍压电路与所述
第二继电器KA2的转换触点的动端连接，所述第一继电器KA1的转换触点的另一个静端通过非倍压线路与所述第二继电器KA2的转换触点的动端连接；所述第二继电器KA2的转换触点的一个静端通过所述限流电阻R1与所述第三继电器KA3的转换触点的动端连接，所述第二继电器KA2的转换触点的另一个静端通过非限流线路与所述第三继电器KA3的转换触点的动端连接；所述第三继电器KA3的转换触点的一个静端通过所述第一取样电阻R2连接在所述第一测试接口上，所述第三继电器KA3的转换触点的另一个静端通过所述第二取样电阻R3连接在所述第一测试接口上；所述第一取样电阻R2的阻值的数量级为10
‑1欧姆，所述第二取样电路R3的阻值的数量级为105欧姆；
[0008]所述多路DA转换电路的输出端还与所述第四继电器KA4的转换触点的动端连接，所述第四继电器KA4的转换触点的一个静端依次通过所述恒流电路以及所述第三取样电阻R4连接在所述第五继电器KA5的常闭触点的一端，所述第四继电器KA4的转换触点的另一个静端通过非恒流线路连接在所述恒流电路与所述第三取样电阻R4之间；所述第五继电器KA5的常闭触点的另一端连接在所述第二测试接口上；所述第三测试接口接地；
[0009]所述第一取样电路的一取样端连接在所述第三继电器KA3的转换触点的动端上，所述第一取样电路的另一取样端连接在所述第一测试接口上，所述第一取样电路的输出端连接在所述多路AD转换电路的输入端上；
[0010]所述第二取样电路的一取样端连接在所述第三取样电阻R4的一端上，所述第二取样电路的另一取样端连接在所述第三取样电阻R4的另一端上，所述第二取样电路的输出端连接在所述多路AD转换电路的输入端上；
[0011]所述第三取样电路的一取样端连接在所述第二测试接口上，所述第三取样电路的另一取样端连接在所述第三测试接口上，所述第三取样电路的输出端连接在所述多路AD转换电路的输入端上；
[0012]所述第四取样电路的一取样端连接在所述第一测试接口上，所述第四取样电路的另一取样端连接在所述第三测试接口上，所述第四取样电路的输出端连接在所述多路AD转换电路的输入端上。
[0013]在上述技术方案的基础上，本技术还可以做如下改进。
[0014]进一步，所述半导体器件参数测试装置用于测量待测二极管或待测三极管的参数；所述第一测试接口用于接入待测三极管的集电极或待测二极管的阳极，所述第二测试接口用于接入待测三极管的基极，所述第三测试接口用于接入待测三极管的发射极或待测二极管的阴极。
[0015]进一步，还包括串口，所述串口与所述微控制器连接。
[0016]进一步，还包括显示屏，所述显示屏与所述微控制器连接。
[0017]进一步，还包括按键，所述按键与所述微控制器连接。
[0018]进一步，所述多路DA转换电路具体为双极性输出的多路DA转换电路。
[0019]进一步，所述多路继电器线圈驱动电路包括位移寄存器和5个晶体管，所述位移寄存器的型号为74HC595，所述位移寄存器的数据输入端连接在所述微处理器的IO接口上，所述位移寄存器的5位并行数据输出端分别通过5个所述晶体管对应与所述第一继电器KA1的线圈、所述第二继电器KA2的线圈、所述第三继电器KA3的线圈、所述第四继电器KA4的线圈以及所述第五继电器KA5的线圈连接。
[0020]进一步，所述晶体管具体为NPN型三极管。
[0021]进一步，所述第一继电器KA1、所述第二继电器KA2、所述第三继电器KA3、所述第四继电器KA4以及所述第五继电器KA5均为5V的继电器。
[0022]进一步，所述第三取样电阻R4的阻值的数量级为10
‑1欧姆。
[0023]本技术的有益效果是：本技术一种半导体器件参数测试装置将三极管以及二极管参数测量方案融合在一个系统之中，可进行三极管输入特性测量、三极管输出特性测量、三极管直流放大倍数测量、三极管集电极
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发射极反向击穿电压测量、三极管集电极
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发射极反向饱和电流测量、二极管正向伏安特本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体器件参数测试装置，其特征在于：包括微控制器、多路DA转换电路、功率放大电路、倍压电路、恒流电路、多路继电器线圈驱动电路、第一继电器KA1、第二继电器KA2、第三继电器KA3、第四继电器KA4、第五继电器KA5、限流电阻R1、第一取样电阻R2、第二取样电阻R3、第三取样电阻R4、第一取样电路、第二取样电路、第三取样电路、第四取样电路、多路AD转换电路、第一测试接口、第二测试接口以及第三测试接口；所述微控制器通过数据总线分别与所述多路继电器线圈驱动电路的输入端、所述多路DA转换电路的输入端以及所述多路AD转换电路的输出端连接；所述多路继电器线圈驱动电路的输出端与电源电压VCC之间电连接有所述第一继电器KA1的线圈、所述第二继电器KA2的线圈、所述第三继电器KA3的线圈、所述第四继电器KA4的线圈以及所述第五继电器KA5的线圈，且所述第一继电器KA1的线圈、所述第二继电器KA2的线圈、所述第三继电器KA3的线圈、所述第四继电器KA4的线圈以及所述第五继电器KA5的线圈并联；所述多路DA转换电路的输出端通过所述功率放大电路与所述第一继电器KA1的转换触点的动端连接，所述第一继电器KA1的转换触点的一个静端通过所述倍压电路与所述第二继电器KA2的转换触点的动端连接，所述第一继电器KA1的转换触点的另一个静端通过非倍压线路与所述第二继电器KA2的转换触点的动端连接；所述第二继电器KA2的转换触点的一个静端通过所述限流电阻R1与所述第三继电器KA3的转换触点的动端连接，所述第二继电器KA2的转换触点的另一个静端通过非限流线路与所述第三继电器KA3的转换触点的动端连接；所述第三继电器KA3的转换触点的一个静端通过所述第一取样电阻R2连接在所述第一测试接口上，所述第三继电器KA3的转换触点的另一个静端通过所述第二取样电阻R3连接在所述第一测试接口上；所述第一取样电阻R2的阻值的数量级为10
‑1欧姆，所述第二取样电路R3的阻值的数量级为105欧姆；所述多路DA转换电路的输出端还与所述第四继电器KA4的转换触点的动端连接，所述第四继电器KA4的转换触点的一个静端依次通过所述恒流电路以及所述第三取样电阻R4连接在所述第五继电器KA5的常闭触点的一端，所述第四继电器KA4的转换触点的另一个静端通过非恒流线路连接在所述恒流电路与所述第三取样电阻R4之间；所述第五继电器KA5的常闭触点的另一端连接在所述第二测试接口上；所述第三测试接口接地；所述第一取样电路的一取样端连接在所述第三继电器KA3的转换触点的动端上，所述第一取样电路的另一取样端连接在所述第一测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：易先军，彭洪驰，梁音裔，周锐，
申请(专利权)人：武汉工程大学，
类型：新型
国别省市：