一种方便可调的晶体管HTRB和HTGB试验装置，包括安装板，所述安装板上设置有若干测试区；每一测试区内设置有一用于安插晶体管的安装座，所述安装座内设置有用于与晶体管的引脚连接的三组插片；所述安装座的旁侧设置引脚组，所述引脚组包括分别与所述插片一一对应连接的三个引脚；所述引脚组的旁侧设置有用于提供高电平的第一接线端子组和用于提供低电平的第二接线端子组。本实用新型专利技术能够同时进行HTRB和HTGB试验，并且测试过程中即使某一个样品被烧毁，也不会影响到其他的样品。也不会影响到其他的样品。也不会影响到其他的样品。
【技术实现步骤摘要】
一种方便可调的晶体管HTRB和HTGB试验装置
[0001]本技术涉及晶体管试验工装，尤其涉及一种方便可调的晶体管HTRB和HTGB试验装置。
技术介绍
[0002]现有技术中，晶体管在进行HTRB和HTGB试验，受限于样品封装大小，试验类型的限制，进行 HTRB和HTGB试验时，需要有不同的试验测试板，且若是有样品在试验过程中烧毁，会导致测试板损坏及试验终止，试验后维护保养测试板也很麻烦。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于提供一种方便可调的晶体管HTRB和HTGB试验装置，能够同时进行HTRB和HTGB试验，并且测试过程中即使某一个样品被烧毁，也不会影响到其他的样品。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0005]一种方便可调的晶体管HTRB和HTGB试验装置，包括安装板，所述安装板上设置有若干测试区；每一测试区内设置有一用于安插晶体管的安装座，所述安装座内设置有用于与晶体管的引脚连接的三组插片；所述安装座的旁侧设置引脚组，所述引脚组包括分别与所述插片一一对应连接的三个引脚；所述引脚组的旁侧设置有用于提供高电平的第一接线端子组和用于提供低电平的第二接线端子组。
[0006]进一步的，所述安装板上设置有供电电源，所述供电电源包括电源正极和电源负极，所述第一接线端子组与电源正极电性连接，所述第二接线端子与电源负极电性连接。
[0007]进一步的，所述第一接线端子组与电源正极之间串联有限流电阻和熔断器。
[0008]进一步的，所述安装座上表面开设有三个用于安装插片的安装槽，每一组插片包括两片间隙设置的金属导电片。
[0009]进一步的，所述安装板的四周设置有若干安装孔；相邻两块安装板之间设置有连接件，所述连接件的第一端设置有螺纹段，第二端设置有螺纹孔；所述螺纹段穿过安装板的安装孔，与另一连接件的螺纹孔螺纹配合。
[0010]进一步的，所述螺纹段的长度大于安装孔深度并小于安装孔与螺纹孔的深度之和。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术可通过讲三个引脚连接不同的电平，分别进行HTRB和HTGB试验；如在进行HTRB试验时，需要将晶体管的源极和栅极接低电平，漏极接高电平，则只需要通过导线将安装座旁对应源极和栅极的引脚与第二接线端子组连通，将对应漏极的引脚与第一接线端子组连通即可；同理，在进行HTGB试验时，则需要将对应源极和漏极的引脚与第二接线端子组连通，将对应栅极的引脚与第一接线端子组连通。本技术的方案可在同一个安装板中实现不同类型的晶体管试验，同时，本技术分为多个测试区，即使某一个样品被烧毁，也不会影响到其他的样品。
附图说明
[0012]图1为本技术一实施例的整体结构示意图。
[0013]图2为本技术一实施例单个测试区内的结构示意图。
[0014]图3为本技术的HTRB试验时的导线连接图。
[0015]图4为本技术的HTGB试验时的导线连接图。
[0016]图5为本技术一实施例的安装座结构示意图。
[0017]图6为本技术一实施例的安装座剖视图。
[0018]图7为本技术一实施例的安装板叠放示意图。
[0019]图中：1、安装板；11、测试区；12、安装孔；
[0020]2、安装座；21、插片；22、安装槽；
[0021]3、引脚组；
[0022]41、第一接线端子组；42、第二接线端子组；
[0023]5、供电电源；
[0024]6、连接件；61、螺纹段；62、螺纹孔。
具体实施方式
[0025]下面对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]请参阅图1，本实施例提供一种方便可调的晶体管HTRB和HTGB试验装置，包括安装板1，所述安装板1上设置有若干阵列排列的测试区11。每一个测试区11内设置有独立的测试单元，具体的：
[0027]请参照图2，每一测试区11内设置有一用于安插晶体管的安装座2，所述安装座2内设置有用于与晶体管的引脚连接的三组插片21；所述安装座2的旁侧设置引脚组3，所述引脚组3包括分别与所述插片21一一对应连接的三个引脚pin1、pin2、pin3。于本实施例中，所述引脚组3的数量为两组，分别设置在安装座2的左右两侧。
[0028]所述引脚组3的旁侧设置有用于提供高电平的第一接线端子组41和用于提供低电平的第二接线端子组42，用于与所述引脚组3电性连接，进而为待检测的晶体管的三个引脚提供高低电平。
[0029]请参照图1，于本实施例中，所述安装板1上设置有为所有测试单元供电的供电电源5。所述供电电源5包括电源正极V+和电源负极V
‑
；以其中一个测试单元为例，所述第一接线端子组41与电源正极V+电性连接，所述第二接线端子42与电源负极V
‑
电性连接。
[0030]同时，为了避免第一接线端子组41连接高电平时发生损坏，本实施例对电路进行了限流，具体的，如图2所示，所述第一接线端子组31与电源正极之间串联有限流电阻R1和熔断器FU1，所述限流电阻R1的阻值为10kΩ，防止电流过大，同时熔断器FU1在电路电流遇特殊情况电流过大时熔断，起到保护电路中其他电子元件的作用。
[0031]如图3所示，在进行HTRB试验时，需要将晶体管的源极和栅极接低电平，漏极接高电平，则只需要通过导线将安装座旁对应源极和栅极的引脚与第二接线端子组连通，将对
应漏极的引脚与第一接线端子组连通即可。同理，如图4所示，在进行HTGB试验时，则需要将对应源极和漏极的引脚与第二接线端子组连通，将对应栅极的引脚与第一接线端子组连通。值得一提的是，如图3、图4所示的安装座内，自上而下的插片分别对应晶体管的栅极、漏极、源极。
[0032]请参照图5和图6，所述安装座2上表面开设有三个用于安装插片21的安装槽22，每一组插片21包括两片间隙设置的金属导电片，安装晶体管时，只需要将晶体管的三个引脚分别插入金属导电片之间的间隙即可。
[0033]为了将多个安装板更合理地叠放，节省空间，请参照图1和图6，所述安装板1的四周设置有4个安装孔12。上下相邻两块安装板1之间设置有连接件6，所述连接件6的第一端设置有螺纹段61，第二端设置有螺纹孔62；所述螺纹段61穿过安装板1的安装孔12，与另一连接件6的螺纹孔62螺纹配合，即可实现安装板上下叠放。值得一提的是，所述螺纹段的长度大于安装孔深度并小于安装孔与螺纹孔的深度之和。
[0034]对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种方便可调的晶体管HTRB和HTGB试验装置，其特征在于，包括安装板，所述安装板上设置有若干测试区；每一测试区内设置有一用于安插晶体管的安装座，所述安装座内设置有用于与晶体管的引脚连接的三组插片；所述安装座的旁侧设置引脚组，所述引脚组包括分别与所述插片一一对应连接的三个引脚；所述引脚组的旁侧设置有用于提供高电平的第一接线端子组和用于提供低电平的第二接线端子组。2.根据权利要求1所述的一种方便可调的晶体管HTRB和HTGB试验装置，其特征在于，所述安装板上设置有供电电源，所述供电电源包括电源正极和电源负极，所述第一接线端子组与电源正极电性连接，所述第二接线端子与电源负极电性连接。3.根据权利要求2所述的一种方便可调的晶体管HTRB和HTGB试验装置，...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢思朝，蔡正兵，
申请(专利权)人：杭州泰鼎三捷检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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