一种可测试多组元件的间歇工作寿命测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种可测试多组元件的间歇工作寿命测试系统，涉及电子技术领域，包括测试机体，设于所述测试机体下端的电气柜以及设于所述电气柜一侧的控制台，所述测试机体由两块上下平行设置的横向承接板以及一块贯穿所述横向承接板中部设置的纵向分隔板而隔成四个独立的测试室，所述测试室内于所述横向承接板上端固设有水冷板，所述水冷板上设有多个夹持机构，所述夹持机构包括两端分别卡接于所述水冷板正面边沿和背面边沿的支撑框架，通过横向承接板和纵向分隔板分割出四个独立的测试室，从而能够同时进行不同种类元件的寿命测试，通过灵活的夹持机构从而适应不同规格的元件测试。元件测试。元件测试。

【技术实现步骤摘要】
一种可测试多组元件的间歇工作寿命测试系统


[0001]本技术涉及电子
，尤其涉及一种可测试多组元件的间歇工作寿命测试系统。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。今日大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，而硅更是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种，需要一种寿命测试设备来对其进行寿命检测。
[0003]然而，现有的寿命测试设备还存在一定的缺陷：一次性只能进行一种半导体的寿命测试，且夹持装置不够灵活，无法适应不同规格的元件。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题是克服现有技术中存在的不足，提供一种可测试多组元件的间歇工作寿命测试系统。
[0005]本技术是通过以下技术方案予以实现：
[0006]一种可测试多组元件的间歇工作寿命测试系统，其特征在于，包括测试机体，设于所述测试机体下端的电气柜以及设于所述电气柜一侧的控制台，所述测试机体由两块上下平行设置的横向承接板以及一块贯穿所述横向承接板中部设置的纵向分隔板而隔成四个独立的测试室，所述测试室内于所述横向承接板上端固设有水冷板，所述水冷板上设有多个夹持机构，所述水冷板上方的所述测试机体的内壁上挂设有多个移动板，所述夹持机构包括两端分别卡接于所述水冷板正面边沿和背面边沿的支撑框架，滑动设于所述支撑框架上端支架的两块连接板以及贯穿所述连接板伸出所述支撑框架的部分的夹持螺杆。
[0007]所述测试机体正面设有两扇双开的防护门。
[0008]所述移动板可沿设于所述测试机体内壁的滑槽来回往复移动，所述移动板上设有电流夹。
[0009]所述支撑框架可沿所述水冷板边沿来回往复移动。
[0010]本技术的有益效果是：通过横向承接板和纵向分隔板分割出四个独立的测试室，从而能够同时进行不同种类元件的寿命测试，通过灵活的夹持机构从而适应不同规格的元件测试。
附图说明
[0011]图1示出了根据本技术的实施例的正视结构示意图。
[0012]图2示出了根据本技术的实施例的夹持机构的侧视结构示意图。
[0013]图3示出了根据本技术的实施例的夹持机构的俯视结构示意图。
[0014]图中：1、测试机体；2、电气柜；3、控制台；4、横向承接板；5、纵向分隔板；6、测试室；7、水冷板；8、移动板；9、支撑框架；10、连接板；11、夹持螺杆；12、防护门；13、滑槽；14、电流夹。
具体实施方式
[0015]为了使本
的技术人员更好地理解本技术的技术方案，下面结合附图和最佳实施例对本技术作进一步的详细说明。
[0016]如图所示，本技术包括测试机体1，设于所述测试机体1下端的电气柜2以及设于所述电气柜2一侧的控制台3，所述测试机体1由两块上下平行设置的横向承接板4以及一块贯穿所述横向承接板4中部设置的纵向分隔板5而隔成四个独立的测试室6，所述测试室6内于所述横向承接板4上端固设有水冷板7，所述水冷板7上设有多个夹持机构，所述水冷板7上方的所述测试机体1的内壁上挂设有多个移动板8，所述夹持机构包括两端分别卡接于所述水冷板7正面边沿和背面边沿的支撑框架9，滑动设于所述支撑框架9上端支架的两块连接板10以及贯穿所述连接板10伸出所述支撑框架9的部分的夹持螺杆11，所述测试机体1正面设有两扇双开的防护门12，所述移动板8可沿设于所述测试机体1内壁的滑槽13来回往复移动，所述移动板8上设有电流夹14，所述支撑框架9可沿所述水冷板7边沿来回往复移动，每个测试室6由控制台3上单独的按钮控制其电流的大小和电流的开启、关闭，移动板8通过导线与电气柜2和控制台3相连，测试的时候，根据元件的种类分别放于不同的测试室6中，再根据其规格大小，滑动相邻的两个支撑框架9至与元件的长度相匹配位置，再滑动连接板10至与元件的宽度相匹配位置，转动夹持螺杆11实现夹持，再将电流夹14夹至元件上，关闭防护门12开始测试，移动块8上还设有温度测量模块，实时监测元件温度。
[0017]本技术的有益效果是：通过横向承接板和纵向分隔板分割出四个独立的测试室，从而能够同时进行不同种类元件的寿命测试，通过灵活的夹持机构从而适应不同规格的元件测试。
[0018]以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可测试多组元件的间歇工作寿命测试系统，其特征在于，包括测试机体，设于所述测试机体下端的电气柜以及设于所述电气柜一侧的控制台，所述测试机体由两块上下平行设置的横向承接板以及一块贯穿所述横向承接板中部设置的纵向分隔板而隔成四个独立的测试室，所述测试室内于所述横向承接板上端固设有水冷板，所述水冷板上设有多个夹持机构，所述水冷板上方的所述测试机体的内壁上挂设有多个移动板，所述夹持机构包括两端分别卡接于所述水冷板正面边沿和背面边沿的支撑框架，滑动设于所述支撑框架上端支架...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱永兵，
申请(专利权)人：天津海瑞电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：