一种斜向几何公差测量仪制造技术

本实用新型专利技术涉及测量仪技术领域，且公开了一种斜向几何公差测量仪，包括底板，所述底板顶部右侧固定安装有支撑柱，所述支撑柱外侧活动安装有套筒，所述套筒右侧活动安装有一端延伸至其内部并与支撑柱卡合的螺栓。该斜向几何公差测量仪，启动伺服电机带动螺纹杆转动，使移动块推动滑轮左右移动，进而推动块推动移动板沿滑槽上下移动，支撑杆上下移动过程中改变放置杆的偏转角度，从而适配不同倾斜角度的零件的几何公差测量，实现了测量角度可调减轻测量难度目的，松开螺栓与卡合槽分离，上下移动套筒至合适位置然后拧紧螺栓继续与卡合槽卡合，即可调节连接杆的水平高度，从而使测量表与不同规格的被测工件表面贴合。与不同规格的被测工件表面贴合。与不同规格的被测工件表面贴合。

【技术实现步骤摘要】
一种斜向几何公差测量仪


[0001]本技术涉及测量仪
，具体为一种斜向几何公差测量仪。

技术介绍

[0002]在机械零件几何公差测量中，经常会遇到斜向几何公差特征项目的测量，即被测几何要素相对于零件主体是斜的，或被测要素相对于基准要素倾斜一定的角度，如斜面、斜线、圆锥的发生线、倾斜度和斜向跳动等。
[0003]现有的几何公差测量仪在使用时，不具备调节功能，不能适应不同倾斜角度的斜面的几何公差测量，适配性较差，增加了工作难度，故而提出一种斜向几何公差测量仪来解决上述所提出的问题。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种斜向几何公差测量仪，具备测量角度可调减轻测量难度等优点，解决了现有的几何公差测量仪在使用时，不具备调节功能，不能适应不同倾斜角度的斜面的几何公差测量，适配性较差，增加了工作难度的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述测量角度可调减轻测量难度目的，本技术提供如下技术方案：一种斜向几何公差测量仪，包括底板，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种斜向几何公差测量仪，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)顶部右侧固定安装有支撑柱(2)，所述支撑柱(2)外侧活动安装有套筒(3)，所述套筒(3)右侧活动安装有一端延伸至其内部并与支撑柱(2)卡合的螺栓(4)，所述套筒(3)左侧活动安装有连接杆(5)，所述底板(1)顶部固定安装有位于支撑柱(2)左侧的夹持块(6)，所述底板(1)顶部固定安装有位于夹持块(6)左侧的放置箱(7)，所述放置箱(7)内壁左右两侧之间活动安装有移动板(8)，所述移动板(8)底部固定安装有推动块(9)，所述放置箱(7)内壁右侧固定安装有伺服电机(10)，所述伺服电机(10)输出轴处固定安装有一端与放置箱(7)内壁左侧活动连接的螺纹杆(11)，所述螺纹杆(11)外侧螺纹连接有一端与放置箱(7)内壁底部活动连接的移动块(12)，所述移动块(12)顶部固定安装有与推动块(9)贴合的滑轮(13)，所述移动板(8)顶部固定安装有延伸至放置箱(7)顶部的支撑杆(14)，所述移动板(8)顶部固定安装有两个...

【专利技术属性】
技术研发人员：张瑜，姚兴宇，陈姗姗，韩翘楚，
申请(专利权)人：辽宁省计量科学研究院，
类型：新型
国别省市：