用于探测技术系统的传感器记录中异常的方法及设备技术方案

用于探测技术系统的多个传感器记录（x

【技术实现步骤摘要】
用于探测技术系统的传感器记录中异常的方法及设备


[0001]本专利技术涉及一种用于探测技术系统的传感器记录中异常的方法、一种异常探测设备、一种用于训练所述异常探测设备的方法、一种训练设备、一种计算机程序和一种存储介质。

技术介绍

[0002]未出版的DE 10 2020 208 642.7公开了一种用于探测技术系统中的异常的方法和设备。
[0003]You Lu, Bert Huang于2019年5月30日的“Structured Output Learning with Conditional Generative Flows”，https://arxiv.org/abs/1905.13288v1公开了一种用于训练条件标准化流（Conditional Normalizing Flow）的方法。
[0004]本专利技术的优点技术系统可以使用传感器来感知技术系统的运行状态变量或环境的物理环境状态变量，其中所述传感器将对应的传感器记录传送给所述技术系统。然而，例如当所述传感器有缺陷时，所述传感器可能传送错误的信号。为了缓解这个问题，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于探测技术系统（100、200、250、300、400、500）的多个传感器记录（x
70
）中的异常的以计算机实现的方法，所述方法包括以下步骤：
·
确定第一异常值，所述第一异常值关于所述多个传感器记录（x
70
）的所有传感器记录而表征是否存在异常；
·
确定多个第二异常值，其中所述多个第二异常值（x
70
）中的第二异常值与所述多个传感器记录（x
70
）中的传感器记录相对应，并且所述第二异常值关于所述传感器记录以及在出现其他传感器记录的条件下表征在所述传感器记录中是否存在异常；
·
如果所述第一异常值表征异常的存在并且与所述传感器记录相对应的所述第二异常值表征异常并且所述第二异常值与所述多个第二异常值中的其他第二异常值的差异超过预定义度量，则探测到所述多个传感器记录（x
70
）中的所述传感器记录中的异常。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一异常值表征出现所述多个传感器记录（x
70
）的概率或概率密度值，和/或第二异常值表征在出现所述多个传感器记录（x
70
）中的其他传感器记录的条件下出现与所述第二异常值相对应的所述传感器记录的条件概率或条件概率密度值。3.根据权利要求2所述的方法，其中借助于第一异常探测模型（72）确定所述第一异常值。4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中借助于多个第二异常探测模型（73a、73b、73c）确定所述多个第二异常值，其中所述多个第二异常探测模型（73a、73b、73c）中的第二异常探测模型（73a、73b、73c）分别与传感器记录相对应，并确定与所述传感器记录...

【专利技术属性】
技术研发人员：CN，
申请(专利权)人：罗伯特，
类型：发明
国别省市：