用于探测技术系统的传感器记录中的异常的方法和设备技术方案

用于探测技术系统的传感器记录中的异常的方法和设备。计算机实现的用于探测在技术系统的多个传感器记录中的异常的方法，所述方法包括如下步骤：确定第一异常值，所述第一异常值关于多个传感器记录中的所有传感器记录表征是否存在异常；确定多个第二异常值，其中出自多个第二异常值中的一个第二异常值与所述多个传感器记录中的一个传感器记录相对应并且关于该传感器记录表征在所述多个传感器记录中的其他传感器记录中是否存在异常；如果所述第一异常值表征异常的存在并且与该传感器记录相对应的第二异常值不表征异常并且该第二传感器值与所述多个第二异常值中的其他第二异常值偏差超过预定义的程度，则探测所述多个传感器记录中的一个传感器记录。个传感器记录中的一个传感器记录。个传感器记录中的一个传感器记录。

【技术实现步骤摘要】
用于探测技术系统的传感器记录中的异常的方法和设备


[0001]本专利技术涉及一种用于探测技术系统的传感器记录中的异常的方法，一种异常探测设备、一种用于训练异常探测设备的方法、一种训练设备、一种计算机程序和一种存储介质。

技术介绍

[0002]未公开的DE 10 2020 208 642.7公开了用于探测技术系统中的异常的方法和设备。

技术实现思路

[0003]专利技术的优点技术系统可以使用传感器来感知外界的物理周围环境状态参量或技术系统的运行状态参量，所述传感器将相对应的传感器记录传送给技术系统。然而，传感器例如当其出故障时可能传送有错误的信号。为了减小该问题，可以使用优选相同类型的冗余的传感器。
[0004]值得期望的是，监控多个传感器的传感器记录，以便能够查明传感器记录是否有异常表现，并且如果是，则查明哪个传感器或哪些传感器导致异常表现。
[0005]具有独立权利要求1的特征的方法能够实现识别多个传感器记录中的传感器记录中的异常。如果传感器根据其输出的信号能够被识别为异常，则这具有如下优点：该传感器能够自动地本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.计算机实现的用于探测在技术系统（100，200，250，300，400，500）的多个（x
70
）传感器记录中的异常的方法，所述方法包括如下步骤：
•ꢀ
确定第一异常值，所述第一异常值关于多个（x
70
）传感器记录中的所有传感器记录（x
a
，x
b
，x
c
）表征是否存在异常；
•ꢀ
确定多个第二异常值，其中出自多个第二异常值中的一个第二异常值与所述多个（x
70
）传感器记录（x
a
，x
b
，x
c
）中的一个传感器记录（x
a
，x
b
，x
c
）相对应并且关于该传感器记录（x
a
，x
b
，x
c
）表征在所述多个（x
70
）传感器记录中的其他传感器记录（x
a
，x
b
，x
c
）中是否存在异常；
•ꢀ
如果所述第一异常值表征异常的存在并且与该传感器记录（x
a
，x
b
，x
c
）相对应的第二异常值不表征异常并且该第二传感器值与所述多个第二异常值中的其他第二异常值偏差超过预定义的程度，则探测所述多个（x
70
）传感器记录（x
a
，x
b
，x
c
）中的一个传感器记录（x
a
，x
b
，x
c
）。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一异常值表征所述多个（x
70
）传感器记录（x
a
，x
b
，x
c
）出现的概率或概率密度值，和/或第二异常值表征所述多个（x
70
）传感器记录（x
a
，x
b
，x
c

【专利技术属性】
技术研发人员：CN，
申请(专利权)人：罗伯特，
类型：发明
国别省市：