具有MIS脉冲保护器的RC半导体集成化电路制造技术

技术编号:3218964 阅读:280 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种具有MIS(Metal Insulator Semiconductor)脉冲保护器的RC半导体集成化电路装置,采用MIS脉冲保护器保护电容。其优点是制造简单,且MIS脉冲保护器可以吸收更高的能量,以更有效地保护电路元件。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种将电阻、电容MIS脉冲保护器集成于一半导体基板上,由此MIS脉冲保护器提供对电容的保护的半导体装置。传统的具有保护元件的RC电路通常由分离元件(discreteelement)所构成,其缺点为生产成本高、电路布局面积大、测试时需要另外连线。且由于元件间的空隙大而影响其操作速度。随着半导体集成电路的发展,目前的趋势是将具有保护元件的RC电路集成化,以克服上述的缺点。美国专利号5355014中揭示了一个相关的已知技术,其专利技术名称为“Semiconductor Device with Integrated RC Network andSchottky Diode”。附图说明图1表示其电路,其中数码31、32、33分别为肖特基二极管(Schottky diode)、电阻及电容,且电阻和电容串联,然后再与肖特基二极管并联。消特基二极管31的阴极连接于输入端及电阻32的第一端,其阳极接地;电容33的第一端连接于电阻32的第二端,其第二端接地。此电路采用肖特基二极管来保护电容和电阻,以提供排放大电流的路径,从而抑制脉冲或静电放电(ESD)对于RC电路所造成的损坏。图2为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有MIS脉冲保护器的RC半导体集成化电路,包括:一电阻,其第一端连接于输入端;一电容,其第一端作为输出端,连接于所述电阻的第二端,其第二端接地;以及一个或数个MIS并联所形成的脉冲保护器,此脉冲保护器并联于所述电容,用于保 护所述电容,其特征在于:此电路采用半导体技术制成,在半导体基座上分别形成:一电阻区域;一电容区域,包含介质层及上/下电极区域;一MIS结构,包含隔离层、半导体层与金属导电区域,提供脉冲保护;一输入/输出电极连接区;及 所述电阻区域、所述电容区域与所述MIS结构之间的配线。

【技术特征摘要】
1.一种具有MIS脉冲保护器的RC半导体集成化电路,包括一电阻,其第一端连接于输入端;一电容,其第一端作为输出端,连接于所述电阻的第二端,其第二端接地;以及一个或数个MIS并联所形成的脉冲保护器,此脉冲保护器并联于所述电容,用于保护所述电容,其特征在于此电路采用半导体技术制成,在半导体基座上分别形成一电阻区域;一电容区域,包含介质层及上/下电极区域;一MIS结构,包含隔离层、半导体层与金属导电区域,提供脉冲保护;一输入/输出电极连接区;及所述电阻区域、所述电容区域与所述MIS结构之间的配线。2.根据权利要求1所述的具有MIS脉冲保护器的RC半导体集成化电路,其特征在于,由以下步骤制成;形成一基座;被覆一绝缘薄膜于所述基座的整个表面上,藉由光刻和选择性蚀刻,形成一绝缘层于所述基板表面上的对应电阻及输入/输出电极的区域,用以避免所述电阻及所述输入/输出电极连接区域与上述基板导通;形成一介质于整个表面上且覆盖上述绝缘层,用以作为所述电容的介质材料;藉由光刻和选择性蚀刻,形成所述MIS区域;被覆一薄的隔离层于整个表面上且覆盖于上述介质层之上,用以作为所述MIS结构的隔离薄膜;被覆一电阻层于整个表面上且覆盖于上述隔离之上,用以形成电阻层;被覆一扩散阻档层于整个表面上且覆盖上述电阻层之上,以防止此电阻层和第一导电层相互作用;被覆第一导电层于整个表面上且覆盖上述扩散阻档层之上;藉由光刻和选...

【专利技术属性】
技术研发人员:林珮芬陈俊杰
申请(专利权)人:光颉科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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