在激光切割中定位金属管材中心方法、装置、设备与介质制造方法及图纸

技术编号:32135084 阅读:31 留言:0更新日期:2022-01-29 19:42
本发明专利技术提供了一种在激光切割中定位金属管材中心的方法,包括:在所述激光切割头切割所述金属管材时,获取当前的检测影响参数与当前电容信息;所述检测影响参数包括:所述电容式高度传感器所处环境的环境参数和/或所述激光切割头的工艺参数;所述当前电容信息是基于所述电容式高度传感器检测到的电容信息而确定的;基于所述当前的检测影响参数,以及预设的标定信息,对所述当前电容信息进行补偿,得到目标电容信息;所述标定信息量化表征了所述检测影响参数对所述电容信息的影响;基于所述目标电容信息所表征的实际高度,计算所述金属管材中心的位置。管材中心的位置。管材中心的位置。

【技术实现步骤摘要】
在激光切割中定位金属管材中心方法、装置、设备与介质


[0001]本专利技术涉及金属管材切割领域,尤其涉及一种在激光切割中定位金属管材中心方法、装置、设备与介质。

技术介绍

[0002]金属管材切割系统旋转轴中心坐标,是三维数控系统刀路计算过程中需要设置的重要参数。
[0003]现有技术中,金属管材切割系统旋转轴中心的定位一般采用简单的人工测量手动输入方式或是采用昂贵的对刀仪定位实现。采用简单的工测量手动输入方式容易引入人为测量误差,导致定位不够准确,而且测量时间很长。利用对刀仪的测量方法,需要添加额外的测量传感器,成本较高,而且测量步骤较为复杂。
[0004]不论采用何种方式,现有相关技术中,目前的定位方法中,都是在非切割状态下进行定位,影响了加工的效率。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种在激光切割中定位金属管材中心的方法、装置、设备与介质,以解决在非切割状态下进行定位、影响了加工的效率的问题。
[0006]根据本专利技术的第一方面,提供了一种在激光切割中定位金属管材中心的方法,包括:
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种在激光切割中定位金属管材中心的方法,应用于激光切割头切割金属管材的过程中,所述激光切割头集成有或连接于电容式高度传感器,所述电容式高度传感器被配置为能够:检测所述激光切割头相对于所切割表面的高度,得到表征所述高度的电容信息;其特征在于,所述方法,包括:在所述激光切割头切割所述金属管材时,获取当前的检测影响参数与当前电容信息;所述检测影响参数包括:所述电容式高度传感器所处环境的环境参数和/或所述激光切割头的工艺参数;所述当前电容信息是基于所述电容式高度传感器检测到的电容信息而确定的;基于所述当前的检测影响参数,以及预设的标定信息,对所述当前电容信息进行补偿,得到目标电容信息;所述标定信息量化表征了所述检测影响参数对所述电容信息的影响;基于所述目标电容信息所表征的实际高度,计算所述金属管材中心的位置。2.根据权利要求2所述的在激光切割中定位金属管材中心的方法,所述检测影响参数包括所述环境参数;所述标定信息包括:第一线性拟合信息;所述第一线性拟合信息表征了所述环境参数的每个区间范围下,未补偿的电容信息与补偿后的电容信息之间的第一线性拟合关系;基于所述当前的检测影响参数,以及预设的标定信息,对所述当前电容信息进行补偿,得到目标电容信息,包括:基于所述第一线性拟合关系,在环境参数的多个区间范围中,确定所述当前的检测影响参数所处的第一区间范围;基于所述第一区间范围对应的第一线性拟合关系,对所述当前电容信息进行补偿,得到所述目标电容信息。3.根据权利要求2所述的在激光切割中定位金属管材中心的方法,所述检测影响参数包括所述工艺参数;所述标定信息包括:第二线性拟合信息;所述第二线性拟合信息表征了所述工艺参数的每个区间范围下,未补偿的电容信息与补偿后的电容信息之间的第二线性拟合关系;基于所述当前的检测影响参数,以及预设的标定信息,对所述当前电容信息进行补偿,得到目标电容信息,包括:基于所述第二线性拟合关系,在环境参数的多个区间范围中,确定所述当前的检测影响参数所处的第二区间范围;基于所述第二区间范围对应的第二线性拟合关系,对所述当前电容信息进行补偿,得到所述目标电容信息。4.根据权利要求1所述的在激光切割中定位金属管材中心的方法,包括,若所述检测影响参数包括所述环境参数与所述工艺参数,则:所述标定信息包括第一线性拟合信息与第二线性拟合关系;所述第一线性拟合信息表征了所述环境参数的每个区间范围下,未补偿的电容信息与补偿后的电容信息之间的第一线性拟合关系;所述第二线性拟合信息表征了所述工艺参数的每个区间范围下,未补偿的电容信息与
补偿后的电容信息之间的第二线性拟合关系;基于所述当前的检测影响参数,以及预设的标定信息,对所述当前电容信息进行补偿,得到目标电容信息,包括:基于所述第一线性拟合关系,在环境参数的多个区间范围中,确定所述当前的检测影响参数中环境参数所处的第一区间范围;基于所述第二线性拟合关系,在工艺参数的多个区间范围中,确定所述当前的检测影响参数中环境参数所处的第二区间范围;基于所述第一区间范围对应的第一线性拟合关系,所述第二区间范围对应的第二线性拟合关系,确定未补偿的电容信息...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢淼吕彪鞠勇陈明毅代田田周志祥
申请(专利权)人:上海柏楚电子科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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