一种材料失效监测装置及其分类方法制造方法及图纸

技术编号:32129064 阅读:32 留言:0更新日期:2022-01-29 19:24
本发明专利技术提供一种材料失效监测装置及利用该装置的分类方法,属于新材料力学性能测试与表征技术领域。该材料失效监测装置包括旋转平台,旋转平台的左侧设置有X射线发射仪,右侧设置有X射线探测器;旋转平台上设置有用于放置材料试样的加载装置,材料试样的表面设置声发射探测器,声发射探测器依次与信号放大器、声发射信号分析仪和电脑控制系统相连接;X射线探测器与电脑控制系统相连接。本发明专利技术通过光学与声学相结合,从材料内部测量到表面测量的失效监测装置,并利用该装置所采集的信号开展主成分分析和聚类分析,建立材料不同损伤模式与信号特征参数之间的内在联系,从而达到能够区分不同形式的失效模式以及各种损伤模式所占比例的目的。比例的目的。比例的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种材料失效监测装置及其分类方法


[0001]本专利技术属于新材料力学性能测试与表征
,尤其涉及一种材料失效监测装置及其利用该装置的分类方法。

技术介绍

[0002]颗粒增强金属基复合材料在航空航天、汽车等高端装备领域广泛应用,由于其成分复杂,失效模式较多。现有关于颗粒增强金属基复合材料的失效分析都是基于宏观力学性能以及微观成分与断口分析等,对于颗粒增强金属基复合材料中颗粒如何失效、颗粒与基体界面如何失效等缺乏深刻的认识。其主要原因是缺少有效的实验装置和方法检测颗粒增强金属基复合材料失效过程,特别是对内部颗粒、界面和基体的失效过程进行监测。另外,颗粒增强金属基复合材料失效是一个多模式耦合过程,如何区分不同损伤模式以及何种损伤模式占主导地位都是目前装置和方法难以实现的。这阻碍了深入理解颗粒增强金属基复合材料力学性能,以及影响颗粒增强金属基复合材料服役安全。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是:
[0004]为解决现有技术中存在的不足,本专利技术的目的之一在于提供一种材料失效监测装置,通过光学与声学相结合,从材料内部测量到表面测量的失效监测装置,并利用该装置所采集的信号开展主成分分析和聚类分析,建立材料不同损伤模式与信号特征参数之间的内在联系,从而达到能够区分不同形式的失效模式以及各种损伤模式所占比例的目的。
[0005]为解决此技术问题,本专利技术的技术方案是:
[0006]一方面,本专利技术提供一种材料失效监测装置,包括旋转平台,所述旋转平台的左侧设置有X射线发射仪,右侧设置有X射线探测器;
[0007]所述旋转平台上设置有用于放置材料试样的加载装置,所述材料试样的表面设置声发射探测器,所述声发射探测器依次与信号放大器、声发射信号分析仪和电脑控制系统相连接;
[0008]所述X射线探测器与电脑控制系统相连接。
[0009]优选地,所述材料为多相复合材料。
[0010]优选地,所述多相复合材料为颗粒增强金属基复合材料。
[0011]优选地,所述电脑控制系统中的信号分析软件为MATLAB软件。
[0012]优选地,所述MATLAB软件包括X射线成像内部信息分析以及声发射信号时域和频域分析。
[0013]另一方面,本专利技术还提供了利用上述材料失效监测装置的分类方法,包括如下步骤:
[0014]S1通过X射线发射仪对原位加载样品进行三维扫描,得到样品加载前后内部变形与损伤信息,具体包括样品内部孔隙率分布、颗粒分布以及颗粒与界面结合情况;
[0015]S2利用声发射探测器接收样品受载时的声发射信号,并对声发射信号进行信号分析;
[0016]S3通过聚类分析结果结合三维内部信息识别颗粒、界面和基体的失效,区分不同形式的失效以及各种损伤模式所占比例。
[0017]优选地,S2中,信号分析包括对采集的时域信号进行主成分分析,找出影响材料失效模式的对应主成分,并对材料失效相关的主成分进行频域变换,得到不同主成分的频域特征。
[0018]优选地,频域变换方法包括傅里叶变换、短时傅里叶变换和希尔伯特变换。
[0019]优选地,S2中,信号分析还包括按照材料常见失效模式类型利用聚类方法对信号的主成分进行聚类分析,得到每种失效模式对应的主成分信号。
[0020]优选地,按照每种主成分信号所占比例计算得到不同失效模式在当前损伤状态下所占比例。
[0021]本专利技术相对于现有技术,具有如下的有益效果:
[0022]1.本专利技术提供的材料失效监测装置,通过光学与声学相结合,从材料内部测量到表面测量的失效监测装置,并利用该装置所采集的信号开展主成分分析和聚类分析,建立材料不同损伤模式与信号特征参数之间的内在联系,从而达到能够区分不同形式的失效模式以及各种损伤模式所占比例的目的。
[0023]2.本专利技术提供的材料失效监测装置及其分类方法,能够识别颗粒、界面和基体的失效,能够区分不同形式的失效模式以及各种损伤模式所占比例。
附图说明
[0024]图1为本专利技术提供的材料失效监测装置的结构示意图;
[0025]图中:1.X射线发射仪,2.X射线探测器,3.旋转平台,4.加载装置,5.材料试样,6.声发射探测器,7.信号放大器,8.声发射信号分析仪,9.电脑控制系统。
具体实施方式
[0026]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述;显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0027]如图1所示,本专利技术提供了一种材料失效监测装置,包括旋转平台3,所述旋转平台3的左侧设置有X射线发射仪1,右侧设置有X射线探测器2;
[0028]所述旋转平台3上设置有用于放置材料试样5的加载装置4,所述材料试样5的表面设置声发射探测器6,所述声发射探测器6依次与信号放大器7、声发射信号分析仪8和电脑控制系统9相连接;
[0029]所述X射线探测器2与电脑控制系统9相连接。
[0030]本专利技术的上述装置中,旋转平台能够实现360
°
旋转,加载装置4可以提供拉伸、压缩、弯曲和疲劳加载,同时可以提供不同加载环境,如高温、低温、湿热和腐蚀等。
[0031]在本专利技术中,所述材料为多相复合材料。
[0032]在本专利技术中,所述多相复合材料为颗粒增强金属基复合材料。
[0033]在本专利技术中,所述电脑控制系统9中的信号分析软件为MATLAB软件。
[0034]在本专利技术中,所述MATLAB软件包括X射线成像内部信息分析以及声发射信号时域和频域分析。
[0035]本专利技术还提供了利用上述材料失效监测装置的分类方法,包括如下步骤:
[0036]S1通过X射线发射仪对原位加载样品进行三维扫描,得到样品加载前后内部变形与损伤信息,具体包括样品内部孔隙率分布、颗粒分布以及颗粒与界面结合情况;
[0037]S2利用声发射探测器接收样品受载时的声发射信号,并对声发射信号进行信号分析;
[0038]S3通过聚类分析结果结合三维内部信息识别颗粒、界面和基体的失效,区分不同形式的失效以及各种损伤模式所占比例。
[0039]在本专利技术中,S2中,信号分析包括对采集的时域信号进行主成分分析,找出影响材料失效模式的对应主成分,并对材料失效相关的主成分进行频域变换,得到不同主成分的频域特征。
[0040]在本专利技术中,频域变换方法包括傅里叶变换、短时傅里叶变换和希尔伯特变换,该频域变换方法仅仅只是示例性,本领域技术人员还可以选择其他的频域变换方法。
[0041]在本专利技术S2中,信号分析还包括按照材料常见失效模式类型利用聚类方法对信号的主成分进行聚类分析,得到每种失效模式对应的主成分信号;其中,聚类方法包括但不限于模糊聚类方法、C均值聚类方法等。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种材料失效监测装置,其特征在于,包括旋转平台,所述旋转平台的左侧设置有X射线发射仪,右侧设置有X射线探测器;所述旋转平台上设置有用于放置材料试样的加载装置,所述材料试样的表面设置声发射探测器,所述声发射探测器依次与信号放大器、声发射信号分析仪和电脑控制系统相连接;所述X射线探测器与电脑控制系统相连接。2.根据权利要求1所述的一种材料失效监测装置,其特征在于,所述材料为多相复合材料。3.根据权利要求2所述的一种材料失效监测装置,其特征在于,所述多相复合材料为颗粒增强金属基复合材料。4.根据权利要求1所述的一种材料失效监测装置,其特征在于,所述电脑控制系统中的信号分析软件为MATLAB软件。5.根据权利要求4所述的一种材料失效监测装置,其特征在于,所述MATLAB软件包括X射线成像内部信息分析以及声发射信号时域和频域分析。6.利用权利要求1

5中任一项所述的一种材料失效监测装置的分类方法,其特征在于,所述分类方法包括如下步骤:S1通过X射线发射仪对原位加载样品...

【专利技术属性】
技术研发人员:王彦菊沙爱学兰祥
申请(专利权)人:中国航发北京航空材料研究院
类型:发明
国别省市:

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