一种校准片外晶振的方法与系统技术方案

本发明专利技术涉及集成电路领域，特别涉及一种校准片外晶振频率的方法与系统，该方法包括：信号源产生脉宽调制信号输出至待校准芯片；待校准芯片内的计数器以脉宽调制信号作门控信号，以晶振输入的时钟作为时钟信号开始计数；待校准芯片内的程序根据采样间隔对计数值采样，并根据采样值的变化判断脉宽调制信号的状态，计算一个完整脉冲宽度的脉宽调制信号计数的计数值与理论值之间的偏差，根据偏差调整晶振电容参数，重复校准多次；本发明专利技术提供的校准片外晶振的系统由信号源、中央控制平台和包含芯片与晶振的待测电路板组成，该系统能够快速批量完成电路板上片外晶振的校准，满足高精度和抗干扰的要求，并能够对校准的效果进行统计分析。析。析。

【技术实现步骤摘要】
一种校准片外晶振的方法与系统


[0001]本专利技术涉及集成电路领域，特别涉及一种校准片外晶振频率的方法与系统。

技术介绍

[0002]芯片内部使用时钟的来源通常分为内部RC(电容电阻)振荡器和片外晶振。内部RC(电容电阻)振荡器的振荡周期随电压、温度、湿度等因素的变化比较大，因此产生的误差较大；而片外晶振随电压、温度湿度等因素的变化比较小，且片外晶振产生的时钟精度通常比芯片内部振荡器产生的时钟精度更高，故芯片内部使用的高精度时钟通常来源于片外晶振。片外晶振产生的频率在芯片内部通过分频或倍频产生芯片各个模块需要的时钟，保证计时、运算、无线通信等功能对时间和频率的高精度要求。但是由于制造工艺以及环境温度的偏差，片外晶振的默认频率仍然存在一定误差。这个误差会传递至芯片各个模块，进而影响计时的精度，并造成无线通信的频率偏移，故需对片外晶振进行校准，使得片外晶振的频率误差降低，满足高精度应用的需求。
[0003]对片外晶振进行校准的工作通常在板级生产流水线上进行，大量贴好芯片以及晶振等元件的电路板需要快速准确的批量完成校准。为节约成本，校准系统通常会用一个信号源同时对多块电路板进行校准，待校准电路板与信号源之间没有交互，且各电路板启动校准的时间也各不相同。因此需要一套简洁有效的校准方法和系统，能够在不影响计数精度的情况下自动获取信号源产生信号的状态，在较短时间内高精度的批量完成校准，并且能够抵抗生产线上较恶劣电磁环境的影响。
[0004]专利《可自校准内部晶振的芯片、晶振校准测试系统及校准方法》
[0005](CN103116124.B)中提供了一种晶振校准方法，主要用于芯片内部晶振的校准。该方法虽然也可用于片外晶振的校准，但未考虑批量生产以及复杂环境中遇到的一些实际问题，并且需要专门的硬件模块支持。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于提供一种校准片外晶振的方法与系统，能够快速高精度的完成校准，并满足板级生产流水线上批量校准的要求，该方法包括以下步骤：
[0007]信号源产生精确脉冲宽度的脉宽调制信号，并将脉宽调制信号输出至待校准芯片；
[0008]待校准芯片内的计数器接收脉宽调制信号，并将其作为门控信号，以晶振输入的时钟作为时钟信号开始计数；
[0009]待校准芯片内的程序按照采样间隔对计数器的计数值进行采样，根据采样值的变化判断脉宽调制信号为高电平还是低电平；
[0010]将一个低电平
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高电平
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低电平变化作为一个完整脉冲宽度；
[0011]计算一个完整脉冲宽度的脉宽调制信号计数的计数值与理论值之间的偏差，根据偏差调整晶振电容参数；
[0012]经过一个完整脉冲宽度后判断校准次数是否达到最大值或者计数值与理论值之间的偏差是否小于设定阈值，若是则完成校准，否则将计数器复位。进一步的，一个完整脉冲宽度的脉宽调制信号计数的理论值为信号源产生的精确脉冲宽度除以晶振的目标时钟周期。
[0013]进一步的，若接收的信号不能构成高电平或者低电平，或者高电平和低电平不能形成低电平
‑
高电平
‑
低电平结构的连续变化，则将该段信号滤除。
[0014]进一步的，待校准芯片内的计数器对输入的脉宽调制信号滤除毛刺后再作为门控信号使用。
[0015]进一步的，待校准芯片内的程序依据以下标准判断脉宽调制信号的状态：
[0016]连续两次采样值相等，脉宽调制信号处于低电平；
[0017]连续三次采样值不相等，脉宽调制信号处于高电平。
[0018]进一步的，计数器采用高电平门控方式，当门控信号为高电平时向上计数，门控信号为低电平时保持不变；
[0019]在一个完整脉冲宽度的第二个低电平期间记录计数器的计数值，并根据计数值计算计数值与理论值之间的偏差，若该偏差小于设定阈值，则完成校准，否则将计数器进行复位。
[0020]进一步的，待校准芯片内的程序基于二分搜索算法调整晶振电容参数，二分搜索算法由高至低依次确定晶振电容参数的每一个比特，保证在规定次数内完成校准过程。
[0021]进一步的，计算一个完整脉冲宽度的脉宽调制信号计数的计数值与理论值之间的偏差，根据偏差调整晶振电容参数，包括以下步骤：
[0022]步骤A:在进行采样前，将比特数为N的晶振电容参数最高比特设置为1，其他比特位设置为0；
[0023]步骤B:将最高位比特位到最低位比特位从N至1进行编号，并设置迭代次数i，i＝1；
[0024]步骤C:开始采样，当完成一个完整脉冲宽度后获取计数器的计数值；
[0025]步骤D:若该计数值大于理论值，则将电容参数第N
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i个比特位的值设为1，否则保持为0不变；
[0026]步骤E:令迭代次数i＝i+1，计数器复位后判断i+1是否小于N，若不小于则结束迭代，否则返回步骤C。
[0027]本专利技术提供一种校准片外晶振的系统，待测电路板包括芯片和晶振，待测电路板上的芯片与晶振相连接，芯片内部有计数器，用于校准片外晶振的系统包括信号源、中央控制平台和安装在待测电路板内的插件，中央控制平台连接所有待测电路板，中央控制平台包括上位机软件模块、控制模块、结果获取模块、判断器，其中：
[0028]信号源，用于产生精确脉冲宽度的脉宽调制信号，将脉宽调制信号输出至所有待测电路板的芯片；
[0029]待测电路板上的芯片，用于获取一个完整脉冲宽度的脉宽调制信号计数的计数值，计算一个完整脉冲宽度的脉宽调制信号计数的理论值，并根据理论值计算一个完整脉冲宽度的脉宽调制信号计数的计数值与理论值之间的偏差；
[0030]安装在待测电路板上的插件，用于根据采样值判断芯片接收的脉宽调制信号能否
构成高电平或者低电平，或者高电平和低电平能否形成低电平
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高电平
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低电平结构的连续变化，若不能则滤除；
[0031]上位机软件模块，用于设置校准精度阈值和显示校准结果；
[0032]控制模块，用于控制每个待测电路板启动校准；
[0033]结果获取模块，用于获取校准结果；
[0034]判断器，用于将一个完整脉冲宽度的脉宽调制信号计数的计数值与理论值之间的偏差与校准精度阈值相比较，判断校准结果并发送给上位机软件模块。
[0035]进一步的，芯片内的程序在校准结束后将校准偏差结果发送至中央控制平台，由中央控制平台将校准偏差结果与设定的校准精度阈值相比较，判断校准结果。
[0036]进一步的，中央控制平台将校准精度阈值发送给芯片，由芯片内的程序将校准偏差结果与校准精度阈值相比较，判断校准结果并通知中央控制平台。
[0037]本专利技术提供的校准片外晶振的方法能够在高精度计数的同时，识别信号源产生的脉宽调制信号的状态，滤除毛刺与干扰，选取合适的脉冲宽度计数值，并在规定时间内确定晶振电容参数，完成晶振的校准。
[0038]本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种校准片外晶振的方法，其特征在于，包括以下步骤：信号源产生精确脉冲宽度的脉宽调制信号，并将脉宽调制信号输出至待校准芯片；待校准芯片内的计数器接收脉宽调制信号，并将其作为门控信号，以晶振输入的时钟作为时钟信号开始计数；待校准芯片内的程序按照采样间隔对计数器的计数值进行采样，根据采样值的变化判断脉宽调制信号为高电平还是低电平；将一个低电平
‑
高电平
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低电平变化作为一个完整脉冲宽度；计算一个完整脉冲宽度的脉宽调制信号计数的计数值与理论值之间的偏差，根据偏差调整晶振电容参数；经过一个完整脉冲宽度后判断校准次数是否达到最大值或者计数值与理论值之间的偏差是否小于设定阈值，若是则完成校准，否则将计数器复位。2.根据权利要求1所述的一种校准片外晶振的方法，其特征在于，一个完整脉冲宽度的脉宽调制信号计数的理论值为信号源产生的精确脉冲宽度除以晶振的目标时钟周期。3.根据权利要求1所述的一种校准片外晶振的方法，其特征在于，若接收的信号不能构成高电平或者低电平，或者高电平和低电平不能形成低电平
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高电平
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低电平结构的连续变化，则将该段信号滤除。4.根据权利要求1所述的一种校准片外晶振的方法，其特征在于，待校准芯片内的计数器对输入的脉宽调制信号滤除毛刺后再作为门控信号使用。5.根据权利要求1或3所述的一种校准片外晶振的方法，其特征在于，待校准芯片内的程序依据以下标准判断脉宽调制信号的状态：连续两次采样值相等，脉宽调制信号处于低电平；连续三次采样值不相等，脉宽调制信号处于高电平。6.根据权利要求1所述的一种校准片外晶振的方法，其特征在于，计数器采用高电平门控方式，当门控信号为高电平时向上计数，门控信号为低电平时保持不变；在一个完整脉冲宽度的第二个低电平期间记录计数器的计数值，并根据计数值计算计数值与理论值之间的偏差，若该偏差小于设定阈值，则完成校准，否则将计数器进行复位。7.根据权利要求1所述的一种校准片外晶振的方法，其特征在于，计算一个完整脉冲宽度的脉宽调制信号计数的计数值与理论值之间的偏差，根据偏差调整晶振电容参数，包括以下步骤：步骤A:在进行采样前，将比特数为N的晶振电容参数最高比特设置为1，其他比特位设置为0；步骤B:将最高位比特位到最低位比特位从N至1进行编号，并设置迭代次数i，i＝1；步骤C:开始采样，当完成一个完整脉冲宽度后获取计数器的计数值；步骤D:若该计数值大于理论值，则将电容参数比特位N
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【专利技术属性】
技术研发人员：魏鹏，陈桂，常学贵，熊振华，
申请(专利权)人：思澈科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：