测试电路和测试设备制造技术

本申请涉及一种测试电路，包括控制装置、第一信号转换电路、传输线路、第二信号转换电路和波形驱动装置。所述控制装置用于接收波形数据。所述第一信号转换电路与所述控制装置连接。所述第一信号转换电路用于将承载波形数据的单端信号转换成差分信号。所述传输线路的第一端与所述第一信号转换电路连接。所述第二信号转换电路与所述传输线路的第二端连接。所述第二信号转换电路用于将所述差分信号转换为单端驱动信号。所述波形驱动装置与所述第二信号转换电路连接。所述波形驱动装置用于根据所述单端驱动信号输出激励信号。当信号在所述第一信号转换电路和所述第二信号转换电路之间通过差分信号的形式传输时，减小信号损耗。减小信号损耗。减小信号损耗。

【技术实现步骤摘要】
测试电路和测试设备


[0001]本申请涉及测试领域，特别是涉及一种测试电路和测试设备。

技术介绍

[0002]随着半导体技术的发展，模拟IC数字化成为一种趋势，意味着IC的集成度越来越高，同时对测试设备的要求日益严格。数字IC的测试主要依赖数字波形的激励。但是，现有的测试方式失效率高，这影响了工作效率。

技术实现思路

[0003]基于此，有必要针对上述问题，提供一种测试电路和测试设备。
[0004]一种测试电路，包括：
[0005]控制装置，用于接收波形数据；
[0006]第一信号转换电路，与所述控制装置连接，所述第一信号转换电路用于将承载波形数据的单端信号转换成差分信号；
[0007]传输线路，所述传输线路的第一端与所述第一信号转换电路连接；
[0008]第二信号转换电路，与所述传输线路的第二端连接，所述第二信号转换电路用于将所述差分信号转换为单端驱动信号；以及
[0009]波形驱动装置，与所述第二信号转换电路连接，所述波形驱动装置用于根据所述单端驱动信号输出激励信号。
[0010]在一个实施例中，还包括：
[0011]静电释放电路，所述静电释放电路的一端与所述第一信号转换电路连接，所述静电释放电路的另一端与所述第二信号转换电路连接。
[0012]在一个实施例中，还包括波形发生检测装置，所述波形发生检测装置与所述控制装置连接，所述波形发生检测装置用于监测所述控制装置和所述波形驱动装置的连接状态。
[0013]在一个实施例中，还包括储存装置，所述储存装置与所述控制装置连接，所述储存装置用于储存所述波形数据。
[0014]在一个实施例中，所述储存装置包括RAM存储芯片。
[0015]在一个实施例中，还包括通信总线，所述通信总线与所述控制装置连接。
[0016]在一个实施例中，所述传输线路为差分电缆。
[0017]一种测试电路，包括：
[0018]储存装置，用于储存波形数据；
[0019]控制装置，与所述储存装置连接，用于接收所述波形数据；
[0020]第一信号转换电路，与所述控制装置连接，所述第一信号转换电路用于将承载波形数据的单端信号转换成差分信号；
[0021]传输线路，所述传输线路的第一端与所述第一信号转换电路连接；
[0022]第二信号转换电路，与所述传输线路的第二端连接，所述第二信号转换电路用于将所述差分信号转换为单端驱动信号；以及
[0023]波形驱动装置，与所述第二信号转换电路连接，所述波形驱动装置用于根据所述单端驱动信号输出激励信号；以及
[0024]波形发生检测装置，所述波形检测装置与所述控制装置连接，所述波形发生检测装置用于检测所述检测装置和所述波形驱动装置之间的连接状态。
[0025]一种测试电路，包括：
[0026]依次连接的控制装置、转换电路和波形驱动装置，所述转换电路用于将所述控制装置输出的单端信号转换成差分信号，并经过传输后再转换成单端信号发送至所述波形驱动装置。
[0027]一种测试设备，包括所述的测试电路。
[0028]本申请实施例提供的所述测试电路包括控制装置、第一信号转换电路、传输线路、第二信号转换电路和波形驱动装置。所述控制装置用于接收波形数据。所述第一信号转换电路与所述控制装置连接。所述第一信号转换电路用于将承载波形数据的单端信号转换成差分信号。所述传输线路的第一端与所述第一信号转换电路连接。所述第二信号转换电路与所述传输线路的第二端连接。所述第二信号转换电路用于将所述差分信号转换为单端驱动信号。所述波形驱动装置与所述第二信号转换电路连接。所述波形驱动装置用于根据所述单端驱动信号输出激励信号。
[0029]当信号在所述第一信号转换电路和所述第二信号转换电路之间通过差分信号的形式传输时，信号受干扰程度最小。所述第一信号转换电路和所述第二信号转换电路之间通过传输线路连接，所述波形驱动装置的位置可以更靠近所述被测试器件。因此所述第二信号转换电路到所述被测试器件之间的距离减小。由所述第二信号转换电路转换成的单端驱动信号可以直接发送到被测试器件，进一步缩小了信号到所述被测试器件的之间的距离，减小信号损耗。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1为本申请实施例提供的测试电路示意图；
[0032]图2为本申请另一个实施例提供的测试电路示意图；
[0033]图3为本申请一个实施例提供的波形驱动装置示意图；
[0034]图4为本申请一个实施例提供的第一信号转换电路示意图；
[0035]图5为本申请一个实施例提供的第二信号转换电路示意图。
[0036]附图标记说明
[0037]测试电路10、控制装置100、第一信号转换电路110、第二信号转换电路120、静电释放电路130、波形发生检测装置140、储存装置150、通信总线160、波形驱动装置170。
具体实施方式
[0038]为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施的限制。
[0039]本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0040]在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0041]目前在数字IC测试设备中，数字波形激励信号往往是通过电缆输出至被测IC端。因此激励信号的质量主要依赖于电缆的内阻及电缆的抗干扰能本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试电路，其特征在于，包括：控制装置，用于接收波形数据；第一信号转换电路，与所述控制装置连接，所述第一信号转换电路用于将承载波形数据的单端信号转换成差分信号；传输线路，所述传输线路的第一端与所述第一信号转换电路连接；第二信号转换电路，与所述传输线路的第二端连接，所述第二信号转换电路用于将所述差分信号转换为单端驱动信号；以及波形驱动装置，与所述第二信号转换电路连接，所述波形驱动装置用于根据所述单端驱动信号输出激励信号。2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括：静电释放电路，所述静电释放电路的一端与所述第一信号转换电路连接，所述静电释放电路的另一端与所述第二信号转换电路连接。3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括波形发生检测装置，所述波形发生检测装置与所述控制装置连接，所述波形发生检测装置用于监测所述控制装置和所述波形驱动装置的连接状态。4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括储存装置，所述储存装置与所述控制装置连接，所述储存装置用于储存所述波形数据。5.如权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述储存装置包括RAM存储芯片。6.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：石培杰，陈良，郭宪超，姚健，
申请(专利权)人：北京华峰测控技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：