一种用于芯片测试的插座制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于芯片测试的插座，包括上定位台、下定位台、定位板和新型同轴探针且上定位台和下定位台可拆卸连接，上定位台上设置有第一螺纹孔和上组装通道，下定位台上设置有第二螺纹孔和下组装通道，定位板上设置有供新型同轴探针穿过的定位孔，上定位台和下定位台能通过螺母组件、第一螺纹孔和第二螺纹孔将定位板锁紧在二者之间且定位孔、上组装通道和下组装通道之间能形成定位区，新型同轴探针能卡入定位区，本实用新型专利技术的目的在于提供一种用于芯片测试的插座，结构简单，定位板的设置使新型同轴探针保持垂直状态，实现插座整体组装。体组装。体组装。

【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片测试的插座


[0001]本技术涉及插座
，尤其涉及一种用于芯片测试的插座。

技术介绍

[0002]目前高频高速芯片已经成为手机和显卡的主流芯片，而这些芯片通常必须经过一连串的测试，例如电性测试、功能测试等。现在通常使用插座与芯片电性连接，并外接测试设备来实现测试。但现有具有同轴探针的插座在组装时，由于同轴探针在放入插座的底座上时会发生倾斜，会导致插座整体不能完成组装。因此对于一种用于芯片测试的插座，现有具有同轴探针的插座在组装时，由于同轴探针在放入插座的底座上时会发生倾斜，会导致插座整体不能完成组装是我们要解决的问题。

技术实现思路

[0003]为克服上述缺点，本技术的目的在于提供一种用于芯片测试的插座，结构简单，定位板的设置使新型同轴探针保持垂直状态，实现插座整体组装。
[0004]为了达到以上目的，本技术采用的技术方案是：一种用于芯片测试的插座，包括上定位台、下定位台、定位板和新型同轴探针且上定位台和下定位台可拆卸连接，上定位台上设置有第一螺纹孔和上组装通道，下定位台上设置有第二螺纹孔和下组装通道，定位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片测试的插座，其特征在于：包括上定位台(1)、下定位台(2)、定位板(3)和新型同轴探针(4)且上定位台(1)和下定位台(2)可拆卸连接，所述上定位台(1)上设置有第一螺纹孔(5)和上组装通道(6)，所述下定位台(2)上设置有第二螺纹孔和下组装通道(7)，所述定位板(3)上设置有供新型同轴探针(4)穿过的定位孔(31)，所述上定位台(1)和下定位台(2)能通过螺母组件、第一螺纹孔(5)和第二螺纹孔将定位板(3)锁紧在二者之间且定位孔(31)、上组装通道(6)和下组装通道(7)之间能形成定位区，所述新型同轴探针(4)能卡入定位区。2.根据权利要求1所述一种用于芯片测试的插座，其特征在于：所述上定位台(1)上还设置有让位槽(8)且让位槽(8)与上组装通道(6)相连通，所述定位板(3)能卡入让位槽(8)且上定位台(1)和下定位台(2)能通过螺母组件、第一螺纹孔(5)和第二螺纹孔将定位板(3)锁紧在让位槽(8)内。3.根据权利要求1所述一种用于芯片测试的插座，其特征在于：所...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱春华，
申请(专利权)人：苏州迪克微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：