一种IO静态参数测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种IO静态参数测试方法及系统，选择电源通道，通过引线连接电源通道和待测芯片的待测IO口，并根据待测IO口为每一个待测芯片配置对应的IO寄存器配置表，因此仅需为每个芯片配置IO配置文件即可实现IO测试；控制IO测试板对待测IO口依次进行预设测试，根据预设测试的每一个测试项配置待测芯片的IO状态，并将测试项所需的供电数据发送至电源通道，从而为待测芯片供电，并使用电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每个待测IO口在每个测试项中的静态参数，相较于现有技术中的专用IO测试机，仅需要为芯片配置对应的IO寄存器配置表和预设测试内容，开发成本低且提高了静态参数的测试效率。高了静态参数的测试效率。高了静态参数的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种IO静态参数测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，主要涉及一种IO静态参数测试方法及系统。

技术介绍

[0002]在目前的测试过程中，需要由测试工程师对每个待测的GPIO进行测试，传统的芯片GPIO测试方法是通过人工的方式，使用万用表或示波器等测量仪器对芯片的GPIO逐个进行测量。但针对SoPC芯片，GPIO个数很多，采用人工测试的方法需要花费大量的测试时间，测试效率极低，且测试过程中容易出错。而采用专用的GPIO测试设备，价格昂贵，使得测试成本增加。
[0003]为提高测试效率的同时降低测试成本，目前可以通过测试IO口通断的简易方法，一种是采用开关模块来实现一个GPIO1输出某一状态后，另一个GPIO2可读到GPIO1的状态，进而检测GPIO功能是否正常，但该方法无法测试GPIO的静态参数，如IO口电压、输入阻抗、输出驱动能力、IO口ESD特性等；另一种是采用可调直流稳压电源来构成IO测试装置，但该方案无法实现自动调压测试，且无法测试电流特性及相关的阻抗信息。
[0004]此外，为了实现对IO口不同静态参数的测试，需要对SoPC芯片的相关IO寄存器进行控制和配置，采用串口通信的方式，逐个下发命令来修改寄存器相关数据，不仅效率低而且易出错。

技术实现思路

[0005]本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种IO静态参数测试方法及系统，能够在降低测试成本并且提高静态参数测试效率。
[0006]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：
[0007]一种IO静态参数测试方法，包括步骤：
[0008]选择电源通道，通过引线连接所述电源通道和待测芯片的待测IO口，并配置每一个所述待测芯片的IO寄存器配置表；
[0009]控制IO测试板对所述待测IO口依次进行预设测试，根据所述预设测试的每一个测试项配置所述待测芯片的IO状态，并将所述测试项所需的供电数据发送至所述电源通道；
[0010]通过所述电源通道和所述供电数据为所述待测芯片供电，根据所述电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每一个待测IO口在每一个测试项中的静态参数。
[0011]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的另一种技术方案为：
[0012]一种IO静态参数测试系统，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
[0013]选择电源通道，通过引线连接所述电源通道和待测芯片的待测IO口，并配置每一个所述待测芯片的IO寄存器配置表；
[0014]控制IO测试板对所述待测IO口依次进行预设测试，根据所述预设测试的每一个测试项配置所述待测芯片的IO状态，并将所述测试项所需的供电数据发送至所述电源通道；
[0015]通过所述电源通道和所述供电数据为所述待测芯片供电，根据所述电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每一个待测IO口在每一个测试项中的静态参数。
[0016]本专利技术的有益效果在于：选择电源通道，通过引线连接电源通道和待测芯片的待测IO口，并根据待测IO口为每一个待测芯片配置对应的IO寄存器配置表，因此对于芯片原厂来说，需要测试的芯片繁多，仅需为每个芯片配置IO配置文件，即可实现IO测试，能够提高静态参数测试的效率；控制IO测试板对待测IO口依次进行预设测试，根据预设测试的每一个测试项配置待测芯片的IO状态，并将测试项所需的供电数据发送至电源通道，从而能够通过电源通道和供电数据为待测芯片供电，并使用电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每一个待测IO口在每一个测试项中的静态参数，因此相较于现有技术中的专用IO测试机，仅需要为芯片配置对应的IO寄存器配置表和预设测试内容即可，开发成本低、测试失误率低并且提高了静态参数的测试效率。
附图说明
[0017]图1为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试方法的流程图；
[0018]图2为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试系统的示意图；
[0019]图3为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试方法的IO测试板示意图；
[0020]图4为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试方法的IO测试平台电源板示意图；
[0021]图5为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试方法的IO测试平台底板示意图；
[0022]图6为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试方法的IO测试版的输入输出信号线示意图；
[0023]图7为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试方法的模块化电源板原理图；
[0024]图8为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试方法的IO测试板示例图；
[0025]图9为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试方法的IO寄存器配置表示意图；
[0026]图10为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试方法的上位机软件界面示意图；
[0027]图11为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试方法的继电器阵列板示意图；
[0028]图12为本专利技术实施例的一种IO静态参数测试方法的继电器板上继电器接线示意图。
具体实施方式
[0029]为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
[0030]请参照图1，本专利技术实施例提供了一种IO静态参数测试方法，包括步骤：
[0031]选择电源通道，通过引线连接所述电源通道和待测芯片的待测IO口，并配置每一个所述待测芯片的IO寄存器配置表；
[0032]控制IO测试板对所述待测IO口依次进行预设测试，根据所述预设测试的每一个测试项配置所述待测芯片的IO状态，并将所述测试项所需的供电数据发送至所述电源通道；
[0033]通过所述电源通道和所述供电数据为所述待测芯片供电，根据所述电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每一个待测IO口在每一个测试项中的静态参数。
[0034]从上述描述可知，本专利技术的有益效果在于：选择电源通道，通过引线连接电源通道
和待测芯片的待测IO口，并根据待测IO口为每一个待测芯片配置对应的IO寄存器配置表，因此对于芯片原厂来说，需要测试的芯片繁多，仅需为每个芯片配置IO配置文件，即可实现IO测试，能够提高静态参数测试的效率；控制IO测试板对待测IO口依次进行预设测试，根据预设测试的每一个测试项配置待测芯片的IO状态，并将测试项所需的供电数据发送至电源通道，从而能够通过电源通道和供电数据为待测芯片供电，并使用电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每一个待测IO口在每一个测试项中的静态参数，因此相较于现有技术中的专用IO测试机，仅需要为芯片配置对应的IO寄存器配置表和预设测试内容即可，开发成本低、测试失误率低并且提高了静态参数的测试效率。
[0035]进一步地，所述配置每一个所述待测芯片的IO寄存器配置表包括：
[0036]配置不同GPIO状态配置结构体下每一个所述待测芯片的所有待测IO口的名称；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IO静态参数测试方法，其特征在于，包括步骤：选择电源通道，通过引线连接所述电源通道和待测芯片的待测IO口，并配置每一个所述待测芯片的IO寄存器配置表；控制IO测试板对所述待测IO口依次进行预设测试，根据所述预设测试的每一个测试项配置所述待测芯片的IO状态，并将所述测试项所需的供电数据发送至所述电源通道；通过所述电源通道和所述供电数据为所述待测芯片供电，根据所述电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每一个待测IO口在每一个测试项中的静态参数。2.根据权利要求1所述的一种IO静态参数测试方法，其特征在于，所述配置每一个所述待测芯片的IO寄存器配置表包括：配置不同GPIO状态配置结构体下每一个所述待测芯片的所有待测IO口的名称；在每一待测IO口后添加对应的寄存器地址和数据，得到所述待测芯片的IO寄存器配置表；所述配置每一个所述待测芯片的IO寄存器配置表之后包括：根据所述IO寄存器配置表，通过预设通信方式配置待测芯片的寄存器。3.根据权利要求1所述的一种IO静态参数测试方法，其特征在于，根据所述预设测试的每一个测试项配置所述待测芯片的IO状态，并将所述测试项所需的供电数据发送至所述电源通道包括：集成多个预设测试的测试项，根据每一个所述测试项配置对应的无系统状态下的待测芯片的IO状态；将每一个所述测试项所需的待测IO口的电压值和限流值发送至IO测试平台底板，通过所述IO测试平台底板将所述电压值和限流值传输至所述电源通道。4.根据权利要求1所述的一种IO静态参数测试方法，其特征在于，根据所述电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数，得到每一个待测IO口在每一个测试项中的静态参数包括：通过所述电源通道中的采样电路采集每个待测IO口上的电压和电流信息，并通过IO测试平台底板获取采集到的所述电压和电流信息；将采集到的所述电压和电流信息罗列至对应待测IO口的对应测试项中，得到每一个待测IO口在每一个测试项中的静态参数。5.根据权利要求1所述的一种IO静态参数测试方法，其特征在于，还包括：在所述IO测试板和IO测试平台底板之间设置继电器阵列控制板，将每一个继电器控制的输出端分别与所述IO测试板上待测芯片的IO口连接，将每一个继电器控制的输入端与一路电源通道连接；配置所述继电器与所述IO口的IO口引脚的关系表，通过控制继电器的开关进行待测IO口的静态参数测试。6.一种IO静态参数测试系统，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄松伟，林涛，
申请(专利权)人：瑞芯微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：