【技术实现步骤摘要】
一种引线框架线弧检测夹具
[0001]本技术涉及引线框架夹具
,尤其涉及一种引线框架线弧检测夹具。
技术介绍
[0002]引线框架的封测流程是固晶
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烧结(打线)
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塑封
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成型
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测试,引线框架在烧结(打线)后需用工具显微镜测量打线线弧高度是否超差(即打线线弧最高点与塑封体表面之间的距离是否小于0.1mm,因为塑封体的高度为2.35mm,换而言之,打线线弧最高点到框架底部之间的距离A是否大于2.25mm),如图1所示,引线框架1包括塑封体11、晶圆12、打线线弧13、基片14、引脚15,正常情况下,塑封体11将晶圆12和打线线弧13包围在内部,一旦打线线弧13超限(即引线框架1底部与打线线弧13最高点之间的距离大于2.25mm),就会造成塑封后塑封体11表面露线,需要作业员手工挑掉打线线弧13后再返工,造成极大的资源浪费,严重影响产能。因此,在塑封前对打线弧线13高度的检测至关重要。目前行业通用的方法是将待测引线框架1水平放置在工具显微镜载台上, ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种引线框架线弧检测夹具,其特征在于:包括引线框架(1)、夹具底板(2)、盖板(3)和抵压组件(5),所述引线框架(1)包括向后凹的基片(14),所述基片(14)的上方安装有晶圆(12),所述引线框架(1)包括3个引脚(15),位于中间的引脚(15)与基片(14)相连,左右两侧的所述引脚(15)的一端与晶圆(12)之间通过打线线弧(13)连接,所述夹具底板(2)的表面设有一条沿水平方向开设的卡槽(21),所述基片(14)卡入卡槽(21),所述引脚(15)的下表面贴合夹具底板(2)的上表面,所述盖板(3)安装于夹具底板(2)的上方,所述盖板(3)的下端两侧以斜面(33)过渡,所述盖板(3)的下端设有若干个凹槽(31),相邻两个所述凹槽(31)之间形成一个凸块(32),所述凸块(32)的下表面与卡槽(21)底部之间的距离为2
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2.25mm,所述夹具底板(...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈骆峥晗,徐洪祥,余高理,解坤杰,
申请(专利权)人:绍兴怡华电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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