半导体装置和该半导体装置的操作方法制造方法及图纸

技术编号:31995614 阅读:36 留言:0更新日期:2022-01-22 18:07
本申请涉及半导体装置和该半导体装置的操作方法。一种半导体装置包括电压比较电路和校准控制电路。电压比较电路将测试基准电压进行比较并且生成比较结果信号。校准控制电路控制电压比较电路的偏移值。制电压比较电路的偏移值。制电压比较电路的偏移值。

【技术实现步骤摘要】
半导体装置和该半导体装置的操作方法


[0001]各种实施方式总体上涉及半导体装置和该半导体装置的操作方法,并且更具体地,涉及一种能够内建自测(built

in self test)的半导体装置和该半导体装置的操作方法。

技术介绍

[0002]通常,半导体装置在投放市场之前要经历各种测试操作。通过测试操作,半导体装置可以具有保证的更稳定和更准确的操作。现有的测试操作使用自动测试设备(ATE)。然而,随着半导体装置随时间发展以执行更复杂的操作,ATE必须执行的测试数量逐渐变大。如果测试数量很大,则这意味着在其期间使用测试设备的时间增加。如果使用测试设备的时间增加,则这意味着半导体装置的单价增加。
[0003]作为解决这样的问题的方案,对内建自测电路出现兴趣。内建自测电路可以安装在半导体装置内,并且可以代替ATE执行一些测试操作。因此,如果使用内建自测电路,则因为可以减少使用测试设备的时间,所以可以降低半导体装置的单价。
[0004]通常,内建自测电路的配置复杂,并且该电路所占用的面积大。如果电路的配置复杂,则这意本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体装置,该半导体装置包括:电压比较电路,该电压比较电路被配置为通过将分别通过第一输入级和第二输入级接收到的测试基准电压进行比较来生成比较结果信号;以及校准控制电路,该校准控制电路被配置为在校准操作时生成用于控制所述电压比较电路的偏移值的校准代码,并且将所述校准代码提供给所述电压比较电路。2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,所述电压比较电路包括:输入电路,该输入电路被配置为通过所述第一输入级和所述第二输入级接收输入信号;调整电路,该调整电路被配置为基于所述校准代码来调整所述输入电路的驱动电流;以及输出电路,该输出电路被配置为将其中并入有所述驱动电流的所述输入电路的输出信号进行比较并且输出所述比较结果信号。3.根据权利要求2所述的半导体装置,其中,所述输入电路包括:第一差分输入电路和第二差分输入电路,该第一差分输入电路和该第二差分输入电路被配置为差分地接收所述输入信号并且分别生成拉电流和灌电流;以及电流驱动电路,该电流驱动电路被配置为基于所述拉电流和所述灌电流来操作。4.根据权利要求2所述的半导体装置,其中,所述调整电路包括多个加载电路,所述多个加载电路分别基于所述校准代码而被启用,并且被配置为输出与不同的加载值对应的电流。5.根据权利要求1所述的半导体装置,该半导体装置还包括:第一滤波电路,该第一滤波电路联接至所述第一输入级并且被配置为对输入信号进行滤波;以及第二滤波电路,该第二滤波电路联接至所述第二输入级并且被配置为对输入信号进行滤波。6.根据权利要求2所述的半导体装置,该半导体装置还包括滤波电路,该滤波电路联接至所述输出电路的输入级并且被配置为对输入到所述输出电路的信号进行滤波。7.根据权利要求1所述的半导体装置,该半导体装置还包括输入控制电路,该输入控制电路被配置为在所述校准操作时控制输入到所述第一输...

【专利技术属性】
技术研发人员:文荣振
申请(专利权)人:爱思开海力士有限公司
类型:发明
国别省市:

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