高精度光学元件抛光表面质量检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供高精度光学元件抛光表面质量检测装置，包括底板、筒装活动板、第一螺杆以及第三螺杆，所述底板上表面中间设置有固定壳，所述固定壳内设置有变速电机，所述底板上表面上表面设置有筒装固定板，所述筒装固定板上表面开设有第一滚珠滑槽，所述筒装活动板下表面开设有第二滚珠滑槽，与现有技术相比，本实用新型专利技术具有如下的有益效果：通过设置的旋转载板、第一螺杆、第二螺杆、卡块以及辅助滚珠，便于对光学元件进行限位以及固定，设置的筒装固定板、筒装活动板、滚珠以及变速电机，便于带动固定的光学元件进行旋转，便于激光位移传感器对旋转的光学元件抛光表面进行检测。器对旋转的光学元件抛光表面进行检测。器对旋转的光学元件抛光表面进行检测。

【技术实现步骤摘要】
高精度光学元件抛光表面质量检测装置


[0001]本技术属于检测设备领域，特别涉及高精度光学元件抛光表面质量检测装置。

技术介绍

[0002]目前，随着光学技术的快速发展，光学元件在社会生产、国防建设、空间光学等方面得到了广泛应用。光学元件是光学系统中最为关键的基础零件，是光学系统成像质量的主要保证。光学元件的加工质量对其性能的保证具有决定性作用。为保证元件的加工质量，有必要对其加工过程中的表面粗糙度和表面平整度进行检测。
[0003]但是，现有的光学元件表面质量声发射检测实验设备的传感器一般都采用固定放置方式，这类实验装置存在诸多不足，不利于对光学元件其余表面进行检测，因此，现在亟需高精度光学元件抛光表面质量检测装置。

技术实现思路

[0004]针对现有技术存在的不足，本技术目的是提供高精度光学元件抛光表面质量检测装置，通过增加底板、筒装活动板、第一螺杆以及第三螺杆，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]本技术的技术方案是这样实现的：高精度光学元件抛光表面质量检测装置，包括底板、筒装活动板、第一螺杆以及第三螺杆，所述底板上表面中间设置有固定壳，所述固定壳内设置有变速电机，所述底板上表面上表面设置有筒装固定板，所述筒装固定板上表面开设有第一滚珠滑槽，所述筒装活动板下表面开设有第二滚珠滑槽，所述筒装活动板通过多个滚珠与筒装活动板活动连接，所述筒装活动板内侧表面下端设置有旋转载板，所述第一螺杆与第二螺杆分别设置有两个，所述底板上表面边缘设置有多个支架，多个所述支架上表面设置有顶板，所述第三螺杆活动设置在顶板中间。
[0006]作为一优选的实施方式，所述固定壳位于筒装固定板内部，所述变速电机位于筒装固定板内部，所述电机轴设置在变速电机上表面，所述旋转载板下表面与电机轴上端连接。
[0007]作为一优选的实施方式，多个所述滚珠上下端分别位于第二滚珠滑槽内以及第一滚珠滑槽内。
[0008]作为一优选的实施方式，所述筒装活动板左侧表面开设有第一螺杆槽，所述筒装活动板右侧表面开设有第一螺杆槽，两个所述第一螺杆分别位于两个第一螺杆槽内，所述第一连接轴承设置在两个第一螺杆内侧表面，所述卡块设置在每个第一连接轴承内侧表面，所述第二螺杆槽开设在两个卡块上表面，两个所述第二螺杆分别位于两个第二螺杆槽内，所述防护垫片设置在两个第二螺杆下端。
[0009]作为一优选的实施方式，所述辅助滚珠设置在两个卡块下表面，两个所述卡块与旋转载板均通过辅助滚珠相接触。
[0010]作为一优选的实施方式，所述第二连接轴承设置在第三螺杆下表面，所述激光位移传感器连接在第二连接轴承下端，所述数据连接线连接在激光位移传感器右端，所述激光位移传感器内部设置有第一镜片、信号处理器、线性CMOS阵列、第二镜片以及半导体激光器。
[0011]采用了上述技术方案后，本技术的有益效果是：通过设置的旋转载板、第一螺杆、第二螺杆、卡块以及辅助滚珠，便于对光学元件进行限位以及固定，设置的筒装固定板、筒装活动板、滚珠以及变速电机，便于带动固定的光学元件进行旋转，便于激光位移传感器对旋转的光学元件抛光表面进行检测。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1为本技术高精度光学元件抛光表面质量检测装置的整体结构示意图。
[0014]图2为本技术高精度光学元件抛光表面质量检测装置的A处放大示意图。
[0015]图3为本技术高精度光学元件抛光表面质量检测装置的B处放大示意图。
[0016]图中，1
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底板、2
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固定壳、3
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变速电机、4
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支架、5
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顶板、6
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筒装固定板、7
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滚珠、8
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筒装活动板、9
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第一螺杆、10
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旋转载板、11
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第一连接轴承、 12
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卡块、13
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辅助滚珠、14
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第二螺杆、15
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第三螺杆、16
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数据连接线、17
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第二连接轴承、18
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激光位移传感器、19
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半导体激光器、20
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第一镜片、21
‑ꢀ
信号处理器、22
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线性CMOS阵列、23
‑
第二镜片。
具体实施方式
[0017]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0018]请参阅图1、图2和图3，本技术提供一种技术方案：高精度光学元件抛光表面质量检测装置，包括底板1、筒装活动板8、第一螺杆9以及第三螺杆15，底板1上表面中间设置有固定壳2，固定壳2内设置有变速电机3，底板1上表面上表面设置有筒装固定板6，筒装固定板6上表面开设有第一滚珠滑槽，筒装活动板8下表面开设有第二滚珠滑槽，筒装活动板8通过多个滚珠7与筒装活动板8活动连接，筒装活动板8内侧表面下端设置有旋转载板10，第一螺杆9与第二螺杆14分别设置有两个，底板1上表面边缘设置有多个支架4，多个支架4上表面设置有顶板5，第三螺杆15活动设置在顶板5 中间。
[0019]固定壳2位于筒装固定板6内部，变速电机3位于筒装固定板6内部，电机轴设置在变速电机3上表面，旋转载板10下表面与电机轴上端连接，设置的变速电机3与电机轴能带动旋转载板10跟着旋转，便于位于旋转载板10 上的光学元件跟着旋转。
[0020]多个滚珠7上下端分别位于第二滚珠滑槽内以及第一滚珠滑槽内，当变速电机3带动旋转载板10旋转，筒装活动板8通过滚珠7跟着旋转，便于固定的光学元件稳定旋转。
[0021]筒装活动板8左侧表面开设有第一螺杆槽，筒装活动板8右侧表面开设有第一螺杆槽，两个第一螺杆9分别位于两个第一螺杆槽内，第一连接轴承 11设置在两个第一螺杆9内侧表面，卡块12设置在每个第一连接轴承11内侧表面，第二螺杆槽开设在两个卡块12上表面，两个第二螺杆14分别位于两个第二螺杆槽内，防护垫片设置在两个第二螺杆14下端，旋转两个第一螺杆9，卡块12就会跟着移动顶住光学元件，且旋转两个第二螺杆14，就会固定住光学元件上表面边缘，能防止光学元件旋转时发生抖动。
[0022]辅助滚珠13本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.高精度光学元件抛光表面质量检测装置，包括底板(1)、筒装活动板(8)、第一螺杆(9)以及第三螺杆(15)，其特征在于：所述底板(1)上表面中间设置有固定壳(2)，所述固定壳(2)内设置有变速电机(3)，所述底板(1)上表面上表面设置有筒装固定板(6)，所述筒装固定板(6)上表面开设有第一滚珠滑槽，所述筒装活动板(8)下表面开设有第二滚珠滑槽，所述筒装活动板(8)通过多个滚珠(7)与筒装活动板(8)活动连接，所述筒装活动板(8)内侧表面下端设置有旋转载板(10)，所述第一螺杆(9)与第二螺杆(14)分别设置有两个，所述底板(1)上表面边缘设置有多个支架(4)，多个所述支架(4)上表面设置有顶板(5)，所述第三螺杆(15)活动设置在顶板(5)中间。2.如权利要求1所述的高精度光学元件抛光表面质量检测装置，其特征在于：所述固定壳(2)与变速电机(3)位于筒装固定板(6)内部，所述变速电机(3)上表面设置有电机轴，所述电机轴上端与旋转载板(10)下表面连接。3.如权利要求1所述的高精度光学元件抛光表面质量检测装置，其特征在于：多个所述滚珠(7)上端均位于第二滚珠滑槽内，多个所述滚珠(7)下端均位于第一滚珠滑槽内。4.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁育强，
申请(专利权)人：苏州市泰吉宇机电设备有限公司，
类型：新型
国别省市：